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[发明专利]对分区命名空间固态驱动器的并行自动测试的系统和方法-CN202210544596.6在审
发明人： 斯德詹·马利西奇;元驰 -专利权人：爱德万测试公司
申请日： 2022-05-19 - 公布日： 2022-11-29 - 主分类号： G06F11/22 文献下载
摘要：本申请提供了对分区命名空间固态驱动器的并行自动测试的系统和方法。本发明的实施例提供了用于根据与包括ZNS SSD的地址空间的各个区域相关联的配置和限制并行地自动执行大量ZNS SSD上的DUT测试的系统和方法。计算机进程检测ZNS器件及其特性(例如，区域参数)并使用新方法执行能测试ZNS器件的独特特征的读写测试。例如，一些实施例执行高效和有效的测试控制，这些控制能够应对不同器件型号之间ZNS特性和几何形状的许多差异。实施例可以跟踪大量区域的状态并基于预定的测试规范处理每个区域。
分区命名空间固态驱动器并行自动测试系统方法

[发明专利]自动化测试设备装置-CN201910919801.0有效
发明人： 斯德詹·马利西奇;迈克尔·琼斯;迟·阿尔伯特·袁 -专利权人：爱德万测试公司
申请日： 2019-09-26 - 公布日： 2022-07-08 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：一种自动化测试设备(ATE)装置包括：包含系统控制器的计算机系统，其中，所述系统控制器通信地耦合到测试器处理器和FPGA。所述系统控制器可用于从自所述系统控制器接收的指令生成命令和数据以用于协调被测器件(DUT)的测试，其中，所述DUT支持多个非标准扇区大小和多种保护模式。所述FPGA通信地耦合到所述测试器处理器，其中，所述FPGA包括至少一个硬件加速器电路，所述至少一个硬件加速器电路可用于在内部从所述测试器处理器透明地生成命令和数据以用于测试所述DUT，并且其中，所述至少一个硬件加速器电路能够执行运算以计算与所述多种保护模式相关联的保护信息并且生成被调整大小以适合所述多个非标准扇区大小中的每一个的可重复的测试图案。
自动化测试设备装置

[发明专利]灵活边带支持系统和方法-CN202110332096.1在审
发明人： 斯德詹·马利西奇;元驰;赛思·克雷格黑德 -专利权人：爱德万测试公司
申请日： 2021-03-29 - 公布日： 2021-10-01 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本公开提供了灵活边带支持系统和方法。提出的实施例促进了测试系统中的不同类型的测试过程的高效且有效的灵活实现。在一个实施例中，一种灵活边带支持系统包括负载板、耦合到负载板的测试电子设备、耦合到测试电子设备的控制器。负载板被配置为与多个被测装置(DUT)耦合，其中负载板包括带内测试端口和边带测试端口。测试电子设备被配置为测试多个DUT，其中测试电子设备的一部分被组织在边带资源群组中。控制器被配置为引导DUT的测试，其中控制器耦合到测试电子设备并且控制器引导边带资源群组中的测试电子设备向DUT的各种测试操作的选择性分配。在一个示范性实现方式中，控制器同时引导对多个DUT的边带测试的一部分。
灵活边带支持系统方法

[发明专利]多名称空间测试系统和方法-CN202110334038.2在审
发明人： 斯德詹·马利西奇;元驰 -专利权人：爱德万测试公司
申请日： 2021-03-29 - 公布日： 2021-10-01 - 主分类号： G06F11/22 文献下载
摘要：本文涉及多名称空间测试系统和方法。所提出的实施例有助于高效且有效地在测试系统中灵活实现不同类型的测试程序。在一个实施例中，多名称空间测试系统包括装载板、测试电子设备和名称空间测试跟踪器。装载板被配置成与多个被测器件(DUT)耦合。测试电子设备被配置成测试多个DUT，其中，测试电子设备耦合到装载板。控制器被配置成至少部分并行地跨多个DUT引导对多名称空间的测试。控制器可以耦合到测试电子设备。名称空间测试跟踪器被配置成跟踪对多个DUT的测试，包括至少部分并行地跨多个DUT对多名称空间的测试。在一个实施例中，DUT是NVMe SSD器件。
名称空间测试系统方法

[发明专利]增强型辅助接口测试系统和方法-CN202110343788.6在审
发明人：元驰;斯德詹·马利西奇 -专利权人：爱德万测试公司
申请日： 2021-03-30 - 公布日： 2021-10-01 - 主分类号： G06F13/40 文献下载
摘要：本申请提供了增强型辅助接口测试系统和方法。所呈现的实施例促进测试系统中对不同类型的测试过程的高效且有效的灵活实现。所呈现的实施例促进测试系统中对不同类型的测试过程的高效且有效的灵活实现。在一个实施例中，增强型辅助接口测试系统包括负载板、测试电子设备、控制器、和存储器映射接口。负载板被配置为与多个被测设备(DUT)耦合。测试电子设备被配置为测试该多个DUT，其中测试电子设备耦合到负载板。控制器被配置为引导对DUT的测试，其中控制器耦合到测试电子设备。存储器映射接口被配置为实现多条路径，来访问控制器上的中央处理单元(CPU)并且使得能够并行测试多个DUT。
增强辅助接口测试系统方法

[发明专利]任意全数据非标准扇区大小支持的以软件为中心的解决方案-CN202110224734.8在审
发明人： 斯德詹·马利西奇;迟·阿尔伯特·袁 -专利权人：爱德万测试公司
申请日： 2021-03-01 - 公布日： 2021-08-31 - 主分类号： G11C29/36 文献下载
摘要：本公开提供了任意全数据非标准扇区大小支持的以软件为中心的解决方案。自动化测试设备(ATE)系统包括计算机系统，该计算机系统包括系统控制器，其中，该系统控制器通信地耦合到测试器处理器，其中，该系统控制器用于向测试器处理器发送指令。测试器处理器用于根据指令生成用于协调对被测设备(DUT)测试的命令和数据，其中，该DUT支持任意扇区大小，并且其中，测试器处理器上的软件层执行计算以能够控制测试器处理器与DUT中的任意大小的扇区之间的数据流。
任意数据非标准扇区大小支持软件中心解决方案