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[发明专利]经涂覆物体的涂覆过程和质量控制-CN201980089670.6在审
发明人：丹尼尔·安杰洛桑特;雅克布斯·洛德维库斯·马蒂纳斯·范梅赫伦;德兰·马斯;乔治·希诺雷洛;马尔科·圭列罗 -专利权人： ABB瑞士股份有限公司
申请日： 2019-02-04 - 公布日： 2021-08-31 - 主分类号： G01B11/06 文献下载
摘要：公开用于建模包括多个涂覆参数的涂覆过程(160)的方法。方法包括步骤：通过涂覆过程(160)并且在K个工作周期期间，在物体的K个块的每块上分配涂层，从而获得K个涂层块。在K个工作周期的每个周期期间，记录(190)在M个实例处p个涂覆参数的涂覆变量值(xi,j)，从而获得记录结果(公式(I))；以及在K个涂层块中的每个的m个位置处，测量(170)至少一个涂层性质，从而获得测量结果(公式(II))。方法的特征在于以下步骤：基于记录结果(公式(I))和测量结果(公式(II))来确定(210)涂覆过程(160)的数字映射(220)。通过使用大量经典质量控制测量的结果以及对应的涂覆参数信息，可借助对这种大数据的统计处理来确定涂覆过程的数字映射(220)。数字映射(220)可被用于自动调整(230)涂覆参数来获得经改进的涂层质量，用于在工作周期之后立即预测(240)涂层质量来获得经改进的质量控制、或者用于两者。
经涂覆物体过程质量控制

[发明专利]校正对象的涂覆-CN201880099210.7在审
发明人：雅克布斯·洛德维库斯·马蒂纳斯·范梅赫伦;安德烈亚斯·弗兰克;德兰·马斯 -专利权人： ABB瑞士股份有限公司
申请日： 2018-11-30 - 公布日： 2021-06-11 - 主分类号： B05D7/00 文献下载
摘要：用于涂覆对象(50)的方法开始于借助第一涂装系统(60)在第一对象(50)上分配第一涂覆层(200)。测量(230)第一涂覆层的特性，从而获得第一特性值，并且基于第一特性值调整第二涂装系统(60)的涂覆变量。第二涂覆层借助与第一涂装系统(60)不同的第二涂装系统(60)而被分配(200)在第一涂覆层上。通过在两个涂装系统(60)之间提供测量并且通过基于测量结果调整下游涂装系统(60)的涂覆参数，整体涂覆可以借助下游涂装系统(60)针对由上游涂装系统(60)分配(200)的缺陷涂覆进行补偿来校正。
校正对象

[发明专利]用于目标物体的检查的方法、控制系统以及检查系统-CN201880098217.7在审
发明人：雅克布斯·洛德维库斯·马蒂纳斯·范梅赫伦;德兰·马斯;安德烈亚斯·弗兰克 -专利权人： ABB瑞士股份有限公司
申请日： 2018-08-23 - 公布日： 2021-05-11 - 主分类号： G01N21/55 文献下载
摘要：一种用于目标物体(38)的检查的方法，该方法包括：用辐射(58)照射具有非平坦参考轮廓(68)的参考表面(66)；基于与参考表面(66)相互作用的检测到的辐射(58)来确定参考响应数据；用辐射(58)照射目标物体(38)，该目标物体(38)包括目标表面(70)，该目标表面(70)具有与参考轮廓(68)相对应的非平坦目标轮廓(72)；基于与目标物体(38)相互作用的检测到的辐射(58)来确定检查响应数据；以及基于参考响应数据和检查响应数据来确定目标物体(38)的至少一个参数。还提供了：备选方法；用于控制发射器系统(40)和检测器系统(42)的控制系统(18)；以及检查系统(14)，包括控制系统(18)、发射器系统(40)和检测器系统(42)。
用于目标物体检查方法控制系统以及系统