专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]裂隙灯显微镜升降台-CN202010326532.X在审
  • 吴春波;曹国凡;郭贝;高明昊;李柏承;徐邦联;黄元申;张大伟 - 上海理工大学
  • 2020-04-23 - 2020-09-04 - A61B3/135
  • 本发明提出了裂隙灯显微镜升降台,其包括安装于底座的升降座,升降座安装有升降机构,升降机构的顶部安装有面板,面板为双层台面板,双层台面板包括下层面板以及上层面板,下层面板、底座之间设置有下层面板与底座间支撑杆,上层面板与下层面板之间设置有面板夹层支撑杆及滑动装置,上层面板与底座之间上层面板旋转支撑绕杆,上层面板与下层面板之间设置有上层面板锁定解锁定位装置。该裂隙灯显微镜升降台设计新颖合理,结构简单实用,易于产品化,在眼科临床诊断中使得医生与患者能够进行无遮挡的面对面交流,减少沟通障碍,增加医患间的信任。
  • 裂隙显微镜升降台
  • [发明专利]一种打工业蜡大米的无损鉴别方法-CN201410714314.8有效
  • 李柏承;赵曼彤;周瑶;侯宝路;徐邦联;张大伟;王琦;黄元申 - 上海理工大学
  • 2014-12-01 - 2015-03-11 - G01N21/55
  • 本发明涉及一种打工业蜡大米的无损鉴别方法,利用可见-近红外高光谱成像系统拍摄大米的高光谱图像,可以得到大米的三维信息,其中两维是空间信息,一维是光谱信息。通过黑白板校正将大米样品每个波长下的光谱响应强度转化为反射率,并利用多元散射校正(MSC)对反射率数据进行预处理。利用连续投影算法(SPA)提取了8个特征波长,然后拍摄未知大米得到其高光谱图像,可以根据偏最小二乘法(PLS)建立数学回归模型对未知大米是否打工业蜡进行鉴别。方便快捷,操作简单,为市场上快速无损鉴定打工业蜡大米提供了一种可行的方法。
  • 一种工业大米无损鉴别方法
  • [发明专利]一种无损检测梨的硬度方法-CN201410630019.4在审
  • 李柏承;侯宝路;周瑶;李梦远;徐邦联;王琦;张大伟;黄元申 - 上海理工大学
  • 2014-11-11 - 2015-02-18 - G01N21/25
  • 本发明涉及一种无损检测梨的硬度方法,通过可见-近红外波段的高光谱成像系统测得多个不同种类的梨的高光谱图像,再通过黑白版校正,将高光谱图像中每一点的光谱响应强度转换成统一的0-100%的反射率图像,再通过Labview软件对图像的亮度进行提取和着色,将不同的亮度区域区分开,然后在同一颜色区域选取10个不同的点求平均代表整个梨的反射率,结合梨的反射率曲线提取每一波段的反射率信息通过PCA提取特征波段,通过国家标准方法测得的梨的硬度的实际值,再用PLS算法建立回归模型,得到各种类梨的回归方程,根据回归方程,便可通过测量所测梨的光谱图,计算出所测梨的硬度。可以广泛应用于梨的质量检测,检测过程,方便、快捷、无损、准确。
  • 一种无损检测硬度方法
  • [实用新型]具有防伪功能的光栅结构二维码-CN201420281875.9有效
  • 徐邦联;朱梦筠;王中飞;邸梦乔;阳婷;吕孟轩 - 上海理工大学
  • 2014-05-30 - 2014-10-29 - G06K19/06
  • 本实用新型涉及一种具有防伪功能的光栅结构二维码,包括表层、防伪层,表层上表面设有光刻二维码图案的图案区、提示信息的文字区,四周为光刻边框区,其特点是:所述表层上表面的二维码图案的图案区的左右两侧和中心位置分别设有光刻结构防伪层。本实用新型设计的光栅结构二维码不仅具有普通二维码的可溯源的功能,而且具有很好的视觉效果,且不能通过复印、扫描等手段进行复制再生,再加上特殊的光刻效果,从而兼备很强的防伪性能,可广泛应用于食品安全、医药卫生、烟酒包装、出版印刷、日化用品等防伪领域。
  • 具有防伪功能光栅结构二维码
  • [发明专利]检测苹果可溶性固体含量的方法-CN201410301215.7有效
  • 李柏承;周瑶;侯宝路;李梦远;徐邦联;王琦;张大伟;黄元甲 - 上海理工大学
  • 2014-06-27 - 2014-09-17 - G01N21/25
  • 本发明提供一种检测苹果可溶性固体含量的方法,其特征在于,包括以下步骤:准备苹果样品步骤;调节高光谱成像仪步骤;黑白版校正步骤;测量苹果样品的光谱反射率步骤;测量其他样品的光谱反射率步骤;用国标方法测定苹果样品可溶性固体含量步骤;建立数学回归模型步骤;以及苹果可溶性固体含量的测算程序化步骤。根据本发明所提供的检测苹果可溶性固体含量的方法,只需采用高光谱成像仪测得苹果的光谱反射率信息,带入线性回归模型中,即可计算得出该苹果的可溶性固体含量,因此该方法无需破坏苹果就可以快速准确地测算出苹果的可溶性固体含量。
  • 检测苹果可溶性固体含量方法
  • [发明专利]Offner结构成像光谱仪-CN201410211928.4有效
  • 黄元申;韩姗;隋峰;李柏承;徐邦联 - 上海理工大学
  • 2014-05-20 - 2014-09-03 - G01J3/28
  • 本发明提供一种Offner结构成像光谱仪,其特征在于,包括:前置接收光学单元;分光单元;以及探测单元,其中,分光单元包括:入射狭缝;第一椭球凹面反射镜;椭球凸面光栅;第二椭球凹面反射镜,第一椭球凹面反射镜、第二椭球凹面反射镜和椭球凸面光栅共焦,具有相同的焦点和光轴,第一椭球凹面反射镜和第二椭球凹面反射镜分别处在垂直长轴方向的主平面两侧,椭球凸面光栅分布在垂直长轴方向的主平面两侧,第二椭球面短半轴长为入射狭缝在光轴方向到第一椭球凹面反射镜投射距离的一半;入射狭缝和探测单元分别放置于两个焦点附近。本发明的Offner结构成像光谱仪能够消除各个方向的像差,从而提高成像质量。
  • offner结构成像光谱仪
  • [发明专利]一种防伪用光刻二维码标签的制作方法-CN201410227483.9在审
  • 张大伟;徐邦联;朱梦筠;王中飞;邸梦乔;阳婷;吕孟轩 - 上海理工大学
  • 2014-05-28 - 2014-07-30 - G06K19/06
  • 本发明涉及一种防伪用光刻二维码标签的制作方法,根据客户信息生成原始的二维码;利用图像处理软件将原始二维码处理成光刻设备可以识别的图像格式;将设计图案用多种光刻技术依据标签位置需要集成为标签图像;利用光刻设备制备集成的二维码标签母版;通过电铸、模压、模切进行光刻二维码标签的批量生产。本发明制备出的光刻二维码既有普通二维码的溯源功能,同时又集成众多的光学防伪技术,具备强大的防伪功能,而且视觉效果较之普通二维码要更为炫彩夺目。可通过复印、扫描等方式来获取相同效果的光刻二维码标签,安全性高,用户可以放心地扫描这种二维码去获取信息,也能更为放心地购买应用了本发明所述技术的产品。
  • 一种防伪用光二维码标签制作方法
  • [发明专利]一种宽光谱Offner成像光谱仪分光系统-CN201310638540.8无效
  • 韩姗;黄元申;黄运柏;苏仰庆;丁伟涛;李柏承;徐邦联 - 上海理工大学
  • 2013-12-04 - 2014-02-26 - G01J3/02
  • 本发明涉及一种宽光谱Offner成像光谱仪分光系统,包括光源、两个凹面反射镜、凸面光栅和面阵探测器,凸面光栅凸面对着两块凹面反射镜凹面放置,使三者的球心均置于光轴Z上,光源放置在垂直于光轴Z的平面内,并位于第一凹面反射镜凹面前方,光源发出的光束照射到第一凹面反射镜上,经过第一凹面反射镜反射到凸面光栅上,经过凸面光栅后得到的衍射光谱再照射到第二凹面反射镜上,最后经第二凹面反射镜汇聚到面阵探测器上。用凸面光栅与两个凹面反射镜来构成分光系统,使光谱像连续分布在一个平面上,通过对该结构的仿真与优化,确定出最佳成像时分光系统的物像位置与各结构参数,结构简单,设计方便。
  • 一种光谱offner成像光谱仪分光系统

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