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[实用新型]一种旅行箱式折叠展览柜-CN201921435062.X有效
发明人： 徐燕菁;虞禾丰 -专利权人：苏州亨冠展览展示服务有限公司
申请日： 2019-08-31 - 公布日： 2020-06-16 - 主分类号： A45C5/04 文献下载
摘要：本实用新型提供一种旅行箱式折叠展览柜，包括旅行式箱体，旅行式箱体包括箱盖、下箱体、导向轮和推拉杆，旅行式箱体的下方设有可折叠式支撑部件，用于支撑旅行式箱体；可折叠式支撑部件包括两个可折叠式支撑脚架，两个可折叠式支撑脚架的一端分别铰接于下箱体的底部；旅行式箱体内设有可伸缩式展示台，可伸缩式展示台由多层展览盘组成，多层展览盘经拉伸后，在下箱体上方形成多层展示空间，收缩后可容纳于旅行式箱体内。本实用新型对旅行箱的内部结构进行改进，能实现随时随地展出，合理运用展出空间，同时解决受场地限制，展览位置需要更换等问题，极大程度的减少展柜移动更换出现麻烦的概率，大幅度提高了展柜的使用效率，节约了场地成本。
一种旅行箱式折叠展览

[发明专利]扫描机台程式控制方法-CN201310631420.5有效
发明人： 徐燕菁;陈旭;邵雄 -专利权人：上海华力微电子有限公司
申请日： 2013-11-29 - 公布日： 2017-04-19 - 主分类号： G06F17/30 文献下载
摘要：本发明涉及半导体技术领域，公开了一扫描机台程式控制方法，包括步骤定义扫描程式的机台目录及文件位置；控制系统连接至各扫描机台的扫描程式文件位置；控制系统获取扫描程式文件列表信息，并对文件进行解析；提取扫描程式信息，生成扫描程式关键值文件，并存储至控制系统。该方法生成的扫描程式关键值文件包括所有扫描机台、所有扫描程式的所有文件信息，在需要对某些关键值进行查询或提取时，只需将扫描程式关键值文件备份至本地进行搜索或筛选，即可自动生成包括且仅包括所需关键值信息的表格，能够实现对多产品、多半导体层的多扫描机台程式及关键参数值的统一控制，实现所需扫描程式信息的快速、高效查询和提取。
扫描机台程式控制方法

[发明专利]一种晶圆可接受性测试的出货数据系统及其实施方案-CN201410060285.8在审
发明人： 徐燕菁;邵雄 -专利权人：上海华力微电子有限公司
申请日： 2014-02-21 - 公布日： 2014-06-18 - 主分类号： G06Q10/06 文献下载
摘要：本发明公开晶圆可接受性测试的出货数据系统及其实施方案，包括相互连接的第一判断模块、计算模块、数据输出模块和第二判断模块。步骤一：晶圆可接受性测试的所有数据以及定义与所述晶圆可接受性测试的所有数据相对应的出货规格；步骤二：判断晶圆可接受性测试的数据是否有缺失；步骤三：计算各个数据的通过率；步骤四：判断是否需要出货报告；使用本发明晶圆可接受性测试的出货数据系统及其实施方案，将所有需要出货Lot的WAT数据，根据出货规格进行数据计算，得到结果后告知工程师，并自动生成出货报告。当数据有缺失或者数据超出规格时，能够及时让工程师发现问题，有效地杜绝工程师人工计算的错误率，也可以减少工程师的工作量。
一种可接受性测试出货数据系统及其实施方案

[发明专利]一种设备使用率信息获取方法-CN201310081988.4有效
发明人：龚丹莉;徐燕菁;娄晓祺;邵雄 -专利权人：上海华力微电子有限公司
申请日： 2013-03-14 - 公布日： 2013-07-24 - 主分类号： G06F11/34 文献下载
摘要：本发明涉及一种设备使用率信息获取方法，具体包括以下步骤：操控端中的输入设备将设备指示数据和设备数据整合方式数据传送并存储于预设数据库中；信息采集端获取生产设备的实时使用状态数据和历史使用状态数据，并将实时使用状态数据和历史使用状态数据储存在设备使用状态数据库中；操控端中的调用设备调用存储于预设数据库中的设备指示数据信息，并根据该设备指示数据信息获取设备使用状态数据库中的数据；处理端调用设备数据整合方式数据对操控端获数据进行处理后，生成图表数据，并将该图表数据传送至操控端中的输出设备进行输出。通过本发明方法能够实现设备运行状态数据的灵活分析，相应的提高设备利用率。
一种设备使用率信息获取方法

[发明专利]晶圆允收测试程式的管理系统及其应用方法-CN201310081849.1有效
发明人： 徐燕菁;莫保章;娄晓祺 -专利权人：上海华力微电子有限公司
申请日： 2013-03-14 - 公布日： 2013-07-10 - 主分类号： H01L21/67 文献下载
摘要：本发明涉及晶圆允收测试程式的管理系统及其应用方法，包括读取单元、存储单元、查询单元和显示单元；存储单元中有若干批次产品的产品批号数据及与每批次产品的产品批号数据对应的测试机台号数据、测试程式名数据、探针程式名数据、探针卡类型数据、程式分组名数据、机台性能数据、铜/非铜制程数据、建程式人员工号数据和测试程式详细描述数据；读取单元根据需求获取操作数据并将该操作数据传输至查询单元；查询单元查询存储单元中存储的与该操作数据相应的数据信息，并将该相应的数据信息通过显示单元进行显示；应用本发明使操作人员清楚产品应该在哪个测试机台上进行哪个晶圆允收测试程式，使得测试效率提高，进而减小半导体的出厂成本。
晶圆允收测试程式管理系统及其应用方法