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- [发明专利]误差信号检测装置和再现信号检测装置-CN00136638.6有效
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马炳寅;崔炳浩;郑钟三;朴仁植;都台镕;徐仲彦
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三星电子株式会社
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2000-09-16
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2004-08-04
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G11B7/09
- 一种用于光记录/再现系统的误差信号检测装置,包括:接收从记录介质反射和衍射的光的光检测器、和检测误差信号的电路单元。光检测器包括排列成2×4矩阵的八块光接收部分,包括四块内光接收部分和四块外光接收部分。该内光接收部分在径向上是窄的,而在切向上是宽的,内光接收部分在径向上的总宽度被这样确定,使内光接收部分接收从记录介质反射和衍射的第0级衍射光束的10%到80%。电路单元比较排列在相同行的内光接收部分的检测信号的相位和/或比较排列在相同行的外光接收部分的检测信号的相位,相加或相减相位比较信号后,输出倾斜误差信号和/或跟踪误差信号。即使对于具有窄轨道的高密度记录介质,该装置也可以更精确地控制跟踪和/或倾斜。
- 误差信号检测装置再现
- [发明专利]反射折射光学系统、采用该系统的光拾取器、光盘驱动器-CN98803234.1有效
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李哲雨;郑钟三;李庸勋;延哲诚;徐仲彦;郑永民;申东缟;赵虔皓;成平庸;刘长勋
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三星电子株式会社
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1998-11-21
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2004-01-07
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G11B7/135
- 一种光学聚焦系统,使用从光源发射的光束,该光学聚焦系统包括在光学聚焦系统的一侧上且具有第一曲率半径的折射面,在所述的一侧上围绕折射面并具有与第一曲率半径不同的第二曲率半径的第一反射面,在光学聚焦系统的另一侧上的透明光束聚焦面,和在上述另一侧上且围绕光束聚焦面的第二反射面。折射面折射入射光束,第二反射面朝向第一反射面反射由折射面折射的光束,而第一反射面将从第二反射面反射的激光束聚焦在光束聚焦面上形成聚焦光束点。光学聚焦系统可以用于光拾取器中。光拾取器使用光学聚焦系统,以利用例如由光源发射的激光光束产生用于对记录介质进行记录或读出信息的光束点。光拾取器使用由本发明的光学聚焦系统提供的近场效应,允许记录或读出的高密度。此外,本发明的光学聚焦系统允许使用光束直径小于现有光学聚焦系统所用的激光束直径的光束形成近场。因此,本发明的光拾取器可在有10Gbit/英寸2或更大的表面记录密度的光盘上记录或读出信息。即使因光盘或光拾取器的移动出现入射光束的倾斜,也可以把信息准确地记录在光盘上或从光盘中读取信息。再有,光学聚焦系统的组装和光学聚焦系统的调整十分简易。
- 反射折射光学系统采用系统拾取光盘驱动器
- [发明专利]差分相位检测装置和使用该装置的跟踪误差信号检测设备-CN01137121.8无效
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马炳寅;朴仁植;徐仲彦;高成鲁;郑守烈;杨苍镇
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三星电子株式会社
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2001-10-23
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2002-07-31
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G11B7/13
- 一种差分相位检测装置和使用所述差分相位检测装置的跟踪误差信号检测设备。所述检测装置包括限幅器,对第一到第四信号相对于参考电平进行限幅和数字化;第一合成器,合成第一和第三信号,产生并输出第一合成信号;第二合成器,合成第二信号和第四信号,产生并输出第二合成信号;相位差检测器,比较第一合成信号的相位和第二合成信号的相位,产生并输出第一相位差信号和第二相位差信号;以及矩阵电路,对从相位差检测器接收的第一和第二相位差信号进行减法运算,输出差分相位信号。和常规检测设备相比,该检测设备可以检测相当小地受径向倾斜、切向倾斜、散焦、光盘厚度变化、在光盘上记录的坑深度变化和/或物镜偏移的影响的跟踪误差信号。
- 相位检测装置使用跟踪误差信号设备
- [发明专利]信号处理的装置和方法-CN01125826.8无效
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金基铉;徐仲彦;沈载晟
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三星电子株式会社
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2001-08-29
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2002-07-03
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G11B20/10
- 提供了一种信号处理装置和方法。该装置包括最大误差区域测定单元,用于在从信道信号y(t)中确定具有误差最大似然的区域;最佳路径搜索单元,用于仅利用在由最大误差区域测定单元确定的具有误差最大似然的区域中的误差信号,来寻找最小误差发生路径并纠正该误差信号;和信号恢复单元,用于为了恢复原始记录的信号ak将预定算法应用于信道信号y(t),其中最佳路径搜索已纠正了一部分信号。信号处理装置和方法仅在最大误差发生的区域搜索信道信号的最佳路径,从而减少了由于实现算法和简化所设计硬件的复杂性,同时又在不改变硬件的条件下允许信号处理,尽管信道模型或输入信号的条件发生了改变。
- 信号处理装置方法
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