专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种数控机床标准轨迹测试分析系统-CN201410340624.8有效
  • 姜歌东;窦成东;史建强;王恪典;陶涛;张东升;沈健;徐仁恺 - 西安交通大学
  • 2014-07-17 - 2017-02-01 - G05B19/406
  • 一种数控机床标准轨迹测试分析系统,由硬件和软件两部分组成,硬件部分采集数控机床的内置编码器、光栅尺信号和外置位置传感器信号,能够实现同步采集多通道信号;软件部分进行标准轨迹测试分析,完成标准圆轨迹测试、空间圆轨迹测试、菱形轨迹测试以及直线往复测试,获取圆误差图谱、空间圆误差图谱、菱形误差图谱以及传动误差图谱,实现数控机床的运动精度和运动特性检测,本发明可以给出机床的标准圆轨迹测试、空间圆轨迹测试、菱形轨迹测试以及直线往复测试方法,轨迹明确、设置操作简单、分析结果有效,实现数控机床的精度检测,为数控机床的调试及验收提供了有效的工具。
  • 一种数控机床标准轨迹测试分析系统
  • [发明专利]一种主轴回转误差测试分析系统-CN201410340992.2在审
  • 梅雪松;徐仁恺;胡振邦;姜歌东;陶涛;张东升 - 西安交通大学
  • 2014-07-17 - 2014-12-24 - B23Q17/00
  • 一种主轴回转误差测试分析系统,包括硬件部分和软件系统,硬件部分包括支架或磁性表座、激光位移传感器、信号连接线、信号转接板和信号采集卡,支架或磁性表座固定在主轴上,激光位移传感器与支架或磁性表座相连来采集主轴径向位移跳动,激光位移传感器的信号输出端通过信号连接线、信号转接板和信号采集卡的输入端相连,信号转接板作用是将两个以上的激光位移传感器按统一格式输出;软件系统安装于计算机上,计算机利用测试软件与信号采集卡的输出端通信,获取激光位移传感器的位移信号,然后进行滤波算法、分离算法分析处理,将圆度误差和回转误差分离出来并显示,本发明可以快速和准确的获得主轴的圆度误差和回转误差,测试简单、实用。
  • 一种主轴回转误差测试分析系统

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