专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种高光谱颜色测量定标系统及定标方法-CN202210457900.3在审
  • 袁琨;王坚 - 彩谱科技(浙江)有限公司
  • 2022-04-28 - 2022-08-16 - G01N21/01
  • 本发明公开了一种高光谱颜色测量定标系统及定标方法,系统包括反射光获取装置、高光谱探测装置及平移装置;方法包括步骤S1:通过高光谱数据采集,测量标准物体的发射谱,对波长与像素的关系进行标定;通过单一波长下相邻像素的响应值,确定该波长峰值所在的像素位置,波长峰值与对应像素点建立多项式关系,再利用拟合出的多项式计算出其余像素点对应的波长;步骤S2:获取标准物体对应光谱响应值,对光谱响应值求和取平均值,通过测量已知光谱反射率的标准物体的光谱响应值,建立光谱在相同条件下,测量待测样本的光谱响应值,获得待测样本的光谱反射率,建立光谱响应值与标准物体光谱反射率的对应关系,进行光谱反射率定标。
  • 一种光谱颜色测量定标系统方法
  • [发明专利]一种高光谱颜色测量系统及测量方法-CN202210457170.7在审
  • 袁琨;王坚 - 彩谱科技(浙江)有限公司
  • 2022-04-28 - 2022-07-26 - G01J3/46
  • 本发明公开了一种高光谱颜色测量系统及测量方法,系统包括待测样本反射光获取装置、高光谱探测装置和样本平移装置,高光谱探测装置包括成像组件、分光组件和电路组件;方法包括步骤S1:根据获取的待测样本光,得到待测样本的平面像,通过入射狭缝将平面像进行剪切,得到狭缝尺寸的一维空间图像信息,再进行分光成像,将一维空间图像信息中的光谱信息展开,将得到的由单色像组成的二维图谱信息进行汇聚并数字化;步骤S2:将待测样本进行平移,依次获取一维空间位置信息;步骤S3:通过图像信息拼接,将一维空间位置信息展宽为二维空间图像信息,获取平面图像信息;步骤S4:将平面图像信息中每一点的光谱响应值,计算为光谱反射率数据。
  • 一种光谱颜色测量系统测量方法

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