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[实用新型]载人压力舱侧开门结构-CN202222838014.3有效
发明人：赵文刚;张士仁;麻云龙 -专利权人：烟台宏远氧业股份有限公司
申请日： 2022-10-27 - 公布日： 2023-01-24 - 主分类号： E06B5/00 文献下载
摘要：本实用新型属于载人压力舱的侧向开门技术领域，具体涉及载人压力舱侧开门结构，包括舱体，所述舱体上设置有第一舱门固定结构，所述第一舱门固定结构上设置有第一舱门，所述第一舱门上设置有第一舱门密封结构，所述第一舱门密封结构与舱体接触，所述舱体上固定连接有安装座，所述安装座上设置有锁紧机构。本实用新型通过第一舱门、第二舱门、第三舱门的位置设置在载人压力舱正前方位置，以合理规划舱室大厅尺寸，充分利用房间面积，有效节省相关土建费用支出，且该技术可安装不同的舱门形式，以满足不同的舱门开启方式，适应各类不同的使用场景和应用需求。
载人压力开门结构

[实用新型]一种反射全景成像观察装置-CN202122502221.7有效
发明人： 张士仁;张润杰 -专利权人：上海画文教育科技有限公司
申请日： 2021-10-18 - 公布日： 2022-04-05 - 主分类号： B60R1/08 文献下载
摘要：本实用新型涉及汽车后视镜技术领域，具体的说是一种反射全景成像观察装置，包括反光镜，所述反光镜包括平面镜、弧面镜a、弧面镜b和过渡弧面镜，所述弧面镜a一体设置在平面镜的底部，所述弧面镜b一体设置在平面镜的右侧，所述过渡弧面镜一体设置在平面镜的右下角，且分别与弧面镜a的右侧和弧面镜b的底部一体设置。本实用新型所述的一种反射全景成像观察装置，水平垂直方向可以做到上下左右全方位无死角盲区成像，广泛地拓展视野，该成像观察装置含有三个功能成像区域，传统后视成像区域、水平四周成像区域、垂直上下成像区域，可以显示全景，且三个区域成像具有平滑连续过渡，全部成像能够严格地成比例缩放不失真。
一种反射全景成像观察装置

[发明专利]一种更换工作辊牵引机构的钩头装置-CN201610168018.1有效
发明人：朱伟强;王静;张文斌;张建忠;徐剑俊;张士仁 -专利权人：宝钢特钢有限公司
申请日： 2016-03-23 - 公布日： 2018-12-14 - 主分类号： B21B31/10 文献下载
摘要：本发明公开了一种更换工作辊牵引机构的钩头装置，包括支座、搭扣、止挡块、推止压块和搭扣臂，支座呈一凹字形，搭扣的后端通过销轴连接于支座内，销轴的一端上还开设有一凹槽，止挡块固定于支座的一侧，并镶嵌于销轴的凹槽内，搭扣臂连接固定于搭扣的顶部后端，与搭扣形成一个L形，搭扣的前端为钩头，推止压块固定设于支座顶部的前端，并与搭扣臂的前端相抵，用以推止搭扣臂，以实现搭扣前端的钩头连接工作辊。本发明能够快速的完成换辊牵引机构与工作辊之间的连接。
一种更换工作牵引机构装置

[实用新型]一种轧机用挡水装置-CN201320705491.0有效
发明人： 张士仁 -专利权人：宝钢特钢有限公司
申请日： 2013-11-08 - 公布日： 2014-06-04 - 主分类号： B21B27/06 文献下载
摘要：本实用新型提供一种轧机用挡水装置，包括：固定挡水板，分别设置于上工作辊切水板与上工作辊相对一侧，其包括固定部和连接部，所述固定部一端抵接于轧机导卫上表面，另一端与连接部连接；活动挡水板，其一端枢轴连接于所述固定挡水板的连接部，另一端搭接于所述上工作辊切水板上表面；汽缸，汽缸体固定于轧机导卫上，活塞杆自由端与所述活动挡水板连接。所述装置在轧制高合金比特殊钢种及工模具钢等时既能确保支撑辊、工作辊冷却需求，又能有效充分屏蔽冷却水对轧件及轧制过程的影响并可保证轧制成品的精度和板型质量。
一种轧机用挡水装置

[发明专利]ICP-MS在线取样装置及金属杂质在线监测方法-CN201010192368.4有效
发明人： 张士仁;刘克斌;方明海;吴静銮 -专利权人：武汉新芯集成电路制造有限公司;中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
申请日： 2010-06-04 - 公布日： 2011-12-07 - 主分类号： G01N1/10 文献下载
摘要：本发明公开了一种ICP-MS在线取样装置，该装置包括：框架、设置在所述框架内的管路连接系统以及管路控制系统，所述管路连接系统连接待测试的化学系统与ICP-MS取样针，所述管路控制系统对所述管路连接系统进行控制。同时本发明还公开了一种金属杂质在线监测方法，该方法通过所述ICP-MS在线取样装置连接ICP-MS分析仪和待测试化学系统，实现对所述待测试化学系统的金属杂质的监测。由于该ICP-MS在线取样装置可直接连接待测试的化学品系统与ICP-MS分析仪，从而使测量结果不受取样环境、样品转换交叉污染和取样容器的影响，可以满足ppt级别的化学品的日常监测，并且可实现一台ICP-MS分析仪监测多种化学品系统中的金属杂质，从而节省了成本。
icp ms 在线取样装置金属杂质监测方法

[发明专利]用于液体颗粒测试的适配装置-CN201010181355.7有效
发明人：刘克斌;谢渊;方明海;吴静銮;张士仁 -专利权人：武汉新芯集成电路制造有限公司;中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
申请日： 2010-05-21 - 公布日： 2011-11-23 - 主分类号： G01N15/10 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于液体颗粒测试的适配装置，通过缓冲容器和排液单元的缓冲作用，降低液体从待测试液体系统的取样口到液体颗粒计数器的压力，从而能够使用一台液体颗粒计数器监测不同的待测试液体系统，同时由于适配装置使得到达液体颗粒计数器的液体与外部环境隔离，避免了外部环境中颗粒的影响。
用于液体颗粒测试配装

[发明专利]真空吸笔-CN201010165015.5有效
发明人：谢渊;方明海;吴静銮;张士仁;刘克斌 -专利权人：中芯国际集成电路制造(上海)有限公司;武汉新芯集成电路制造有限公司
申请日： 2010-04-29 - 公布日： 2011-11-09 - 主分类号： B25B11/00 文献下载
摘要：本发明提供一种真空吸笔，所述真空吸笔包括真空吸嘴以及活塞式抽真空装置，所述活塞式抽真空装置通过一单向阀与所述真空吸嘴连接，当通过所述活塞式抽真空装置从所述真空吸嘴抽气后，所述单向阀防止气体回流至所述真空吸嘴。本发明所提供的真空吸笔无需外接真空系统提供真空即可将晶片牢牢吸附住，使用方便，可应用于任何场合，节约了生产成本。
真空

[实用新型]用于半导体器件生产环境评估的取样装置-CN201020201086.1有效
发明人：刘克斌;谢渊;方明海;吴静銮;张士仁 -专利权人：中芯国际集成电路制造(上海)有限公司;武汉新芯集成电路制造有限公司
申请日： 2010-05-21 - 公布日： 2011-02-02 - 主分类号： G01N1/22 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种用于半导体器件生产环境评估的取样装置，包括：腔室，其具有开口和用于盖住所述开口的封盖，所述腔室用于放置待进入所述半导体器件生产环境的样品，所述样品释放多种污染气体；进气管和出气管，分别设置于所述腔室的两侧，所述进气管通入高纯度气体到所述腔室中，所述出气管取样所述腔室中的气体混合物；进气阀，设置于所述进气管中，用于控制所述高纯度气体的通入量；出气阀，设置于所述出气管中，用于控制所述气体混合物的取样量。
用于半导体器件生产环境评估取样装置

[发明专利]BPSG中硼、磷含量测量的校正方法-CN200710042391.3有效
发明人：肖建军;宋国宁;张士仁;杨洪春 -专利权人：中芯国际集成电路制造（上海）有限公司
申请日： 2007-06-22 - 公布日： 2008-12-24 - 主分类号： G01N23/223 文献下载
摘要：本发明公开一种硼磷硅玻璃(BPSG)中硼(B)、磷(P)含量测量的校正方法，以对诸如X射线荧光仪(XRF)等BPSG的B、P含量测定仪器进行校正。主要利用湿化学方法测定BPSG中的B、P含量，并与XRF测定的结果进行对比，求出差异数值，通过差异数值调节XRF的准确性，具体步骤包括：用XRF测量BPSG薄膜的硼、磷浓度；将所述BPSG薄膜溶解于蚀刻液，用元素定量分析设备测定其硼、磷浓度；以及利用XRF和元素定量分析设备分别测定的硼、磷浓度形成一用于校正所述XRF的浓度校正曲线。然后利用该浓度校正曲线来校正XRF，或者根据该浓度校正曲线制作XRF标准片来校正XRF。
bpsg 含量测量校正方法

[发明专利]一种判断热电偶是否可回收再利用的方法-CN200710038217.1无效
发明人：瞿丹红;吴协祥;张士仁;陈淑美 -专利权人：中芯国际集成电路制造（上海）有限公司
申请日： 2007-03-20 - 公布日： 2008-09-24 - 主分类号： G01K15/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种判断热电偶是否可回收再利用的方法。现有的热电偶回收因无合适的判断方法或使可回收再利用的热电偶被废弃，或使测温不准的热电偶被回收再利用。本发明的方法先判断待回收热电偶是否有外观缺陷，若无则将该待回收热电偶和标准热电偶设置在同样的温度环境下，接着改变该温度环境的温度并使其涵盖该待回收热电偶的量程范围，同时记录该待回收热电偶和标准热电偶测得的电压值，之后计算出两者的电压差值并取得对应的温度差值，最后依据该温度差值判断该待回收热电偶是否可回收再利用。采用本发明的判断热电偶是否可回收再利用的方法可确保回收再利用的热电偶测温准确。
一种判断热电偶是否可回收再利用方法

[发明专利]一种去除装设有热电偶的石英护套中水份的方法-CN200710037465.4有效
发明人：瞿丹红;吴协祥;张士仁;陈淑美 -专利权人：中芯国际集成电路制造（上海）有限公司
申请日： 2007-02-13 - 公布日： 2008-08-20 - 主分类号： F26B7/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种去除装设有热电偶的石英护套中水份的方法。现有的装设有热电偶且一端已经密封的石英护套中若出现水份时，很难彻底去除水份，造成热电偶使用寿命降低或测温不准的问题。本发明的去除装设有热电偶的石英护套中水份的方法，其中，该石英护套的一端已密封，该方法先向石英护套中灌入有机溶剂并使石英护套中的水份溶解在该有机溶剂中，然后倒掉石英护套中的有机溶剂，最后对该石英护套进行加热以去除石英护套中残余的有机溶剂和水份。采用本发明的方法可彻底去除石英护套中的水份，避免设置在石英护套中的热电偶使用寿命降低或测温不准。
一种去除装设热电偶石英护套中水方法

[实用新型]一种晶圆正面污染物的检测样品制备治具-CN200720073816.2有效
发明人：肖建军;宋碧波;张士仁;吕秋玲 -专利权人：中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
申请日： 2007-08-20 - 公布日： 2008-08-06 - 主分类号： G01N1/28 文献下载
摘要：本实用新型提供了一种晶圆正面污染物的检测样品制备治具。现有技术在制备检测样品时将晶圆放置在晶圆盒中且用吸管向其正面滴制样溶液且转移反应后的溶液存在着操作不便的问题。本实用新型的治具包括放置晶圆的本体、罩设在本体上的罩体和设置在罩体顶部用于供制样者向晶圆正面喷洒制样溶液或水的进样喷头，该本体为与锥线分别成直角和预设锐角的第一和第二平面截倒立椎面所得，该第一和第二平面在倒立锥面上形成了第一和第二截圆，该第二截圆为直接与操作台接触的椭圆且其低于第一截圆，该晶圆的直径介于第二截圆的短轴和第一截圆的直径间，该本体在放置晶圆且距操作台最近的位置上设置有供制样溶液流出本体的开口。本实用新型可使制样便利精准且安全。
一种正面污染物检测样品制备

[实用新型]热电偶保护管的封管支撑装置-CN200720070178.9无效
发明人：瞿丹红;陈淑美;吴协祥;张士仁 -专利权人：中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
申请日： 2007-05-23 - 公布日： 2008-05-14 - 主分类号： G01K1/14 文献下载
摘要：一种热电偶保护管的封管支撑装置，包括水平支架、连接于水平支架上的用于支撑热电偶保护管的第一立架和第二立支架，所述的第一立架的接触热电偶保护管的支撑位高于第二立架的支撑位。本实用新型所提供的热电偶保护管的封管支撑装置可以方便保护管的封管操作，并且避免封管时产生的水汽封在保护管内。
热电偶保护支撑装置

[实用新型]半导体检测设备的进样器-CN200720070547.4有效
发明人：肖建军;张士仁;吕秋玲 -专利权人：中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
申请日： 2007-06-01 - 公布日： 2008-04-23 - 主分类号： G01N27/62 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种半导体检测设备的进样器，涉及半导体检测领域的装置。该进样器包括进样管及套接于进样管的进样口上的选择性过滤接头。进一步地，该选择性过滤接头包括筒状本体、安装于筒状本体上部的密封接头以及可拆卸地安装于筒状本体底面选择性半透膜。与现有技术相比，本实用新型进样器通过在进样管的进样口处设置具有选择过滤性功能的选择性过滤接头，将检测样品中不需要检测或者影响检测结果的杂质从源头上进行阻止，提高了检测设备的灵敏度；对大分子有机物或者高浓度无机物，可以避免对进样管的阻塞，增加了其使用寿命，降低了检测成本。
半导体检测设备进样器

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