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[发明专利]驱动装置的测试方法及电路测试接口-CN201210171693.1有效
发明人： 布莱特·戴尔;奥利弗·凯尔 -专利权人：南亚科技股份有限公司
申请日： 2012-05-29 - 公布日： 2013-06-05 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明提供一种驱动装置的测试方法及电路测试接口，其中的电路测试接口包括测试电流传输焊垫、测试电压测量焊垫、至少一驱动电路以及至少一开关模块。驱动电路的输出端耦接至通硅晶穿孔(Through-Silicon Via，TSV)。开关模块则耦接在驱动电路的输出端、测试电流传输焊垫以及测试电压测量焊垫。开关模块依据测试致能信号以导通或断开测试电流传输焊垫、测试电压测量焊垫与驱动电路的输出端的连接路径。
驱动装置测试方法电路接口

[发明专利]电路测试接口及测试方法-CN201210170276.5有效
发明人： 布莱特·戴尔;奥利弗·凯尔 -专利权人：南亚科技股份有限公司
申请日： 2012-05-29 - 公布日： 2013-04-10 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明提供一种电路测试接口及测试方法，其中的电路测试接口包括测试电压输入焊垫、测试电压输出焊垫、多个输入缓冲器、多个开关元件以及扫描链电路。各输入缓冲器的第一输入端分别耦接至多个通硅晶穿孔的其中之一。各开关元件具有第一端以及第二端，各开关元件的第一端耦接这些输入缓冲器的其中之一的第一输入端以及对应的各通硅晶穿孔。各开关元件的第二端耦接至测试电压输入焊垫。扫描链电路耦接各输入缓冲器的输出端以及测试电压输出焊垫。
电路测试接口方法