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[发明专利]一种基于电子烟的ASIC集成电路-CN202310655915.5在审
发明人：熊辉涛;谭锋;尹合光 -专利权人：深圳市锦锐科技股份有限公司
申请日： 2023-06-05 - 公布日： 2023-08-08 - 主分类号： A24F40/50 文献下载
摘要：本发明提供了一种基于电子烟的ASIC集成电路，包括电路板，电路板上设置有微处理器，与微处理器连接的雾化电路和计时电路，雾化电路和计时电路之间设置有反馈电路；其中，微处理器：用于向雾化电路发出PWM驱动信号，控制雾化电路进行烟液雾化；雾化电路：用于在接收到雾化信号后，控制电子烟的雾化谐振片进行雾化；计时电路：用于接收雾化谐振片的雾化信号，并进行雾化计时；反馈电路：用于接收雾化计时的计时信号，并在计时信号超过预期时间时，控制雾化电路断电。
一种基于电子 asic 集成电路

[发明专利]一种基于超声波电子烟的芯片保护电路-CN202310672133.2在审
发明人： 尹合光;谭锋;刘桂长 -专利权人：深圳市锦锐科技股份有限公司
申请日： 2023-06-08 - 公布日： 2023-08-04 - 主分类号： A24F40/53 文献下载
摘要：本发明提供了一种基于超声波电子烟的芯片保护电路，包括侦测电路，其用于在电子烟芯片发出超声波指令时，接收超声波探头发射的超声波信号，生成第一电信号；其中，侦测电路包括RC耦合放大器，用于将第一电信号进行增益放大，生成第二电信号；超声波指令用于控制电子烟电路板上的驱动电路驱动超声波电子烟的超声波雾化装置；对比电路：其用于将第二电信号和基准信号对比，确定信号差值，并反馈至电子烟芯片；泄放电路：其用于接收电子烟芯片泄放指令，降低超声波探头降低超声波发射频率。本发明在电子烟运行的时候对电子烟芯片进行稳定的检测，判断电子烟芯片是否出现故障，从而实现芯片保护。同时可以将电子烟芯片出现的故障数据上传。
一种基于超声波电子芯片保护电路

[发明专利]一种智能门锁用按键电路的抗电磁干扰方法-CN202310523558.7有效
发明人：刘桂长;曾先俊;尹合光 -专利权人：深圳市锦锐科技股份有限公司
申请日： 2023-05-11 - 公布日： 2023-07-28 - 主分类号： G06F30/367 文献下载
摘要：本发明提供了一种智能门锁用按键电路的抗电磁干扰方法，包括：采用有限元分析法针对智能门锁中的按键电路进行设计模型建立，得到电路模拟设计模型，针对电路模拟设计模型进行离散化求解与分析，得到电路有限元分析结果；根据电路有限元分析结果针对智能门锁按键电路进行自适应网络剖分，确定智能门锁按键电路中电磁产生情况，并根据智能门锁按键电路中电磁产生情况得到智能门锁按键电路的磁场屏蔽效能；将智能门锁按键电路的磁场屏蔽效能转换成屏蔽厂效果图，并针对屏蔽厂效果图进行分析确定按键电路的干扰措施。本发明解决抗干扰效果差的问题，提高抗干扰效果，确保抗干扰的可靠性。
一种智能门锁按键电路电磁干扰方法

[发明专利]一种电子烟用PMOS功率管的驱动电路及驱动方法-CN202310488668.4在审
发明人：谭锋;尹合光;刘桂长 -专利权人：深圳市锦锐科技股份有限公司
申请日： 2023-05-04 - 公布日： 2023-07-11 - 主分类号： A24F40/46 文献下载
摘要：本发明提供了一种电子烟用PMOS功率管的驱动电路及驱动方法，包括：气流检测信号触发模块，通过气流感应器检测烟嘴气流方向，使烟嘴开关导通或关断，获取烟嘴气流触发信号；驱动控制电平输出模块，通过多路控制单片机获取多路PMOS功率管控制低电平信号，设置多元独立雾化液成分控制单元，智能控制多元独立雾化液成分雾化量；PMOS功率管多元驱动模块，通过PMOS功率管多元驱动电路，获取多元PMOS功率管驱动控制状态信号；分立雾化发热丝加热模块，根据多元PMOS功率管驱动控制状态信号，通过多路加热电热丝通断加热，对多元独立雾化液烟油进行加热，获得健康标准多元成分含量雾化烟雾。
一种电子 pmos 功率管驱动电路方法

[发明专利]一种全自动单片机芯片测试装置及其操作方法-CN202210958839.0在审
发明人：李广森;尹合光 -专利权人：深圳市锦锐科技股份有限公司
申请日： 2022-08-10 - 公布日： 2022-11-11 - 主分类号： G01N3/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种全自动单片机芯片测试装置，包括：测试主机，测试主机外壁前端设有数控中心，若干隔板将测试主机内腔分割为若干个测试台，若干组压力测试组件和芯片测试箱一一对应设于测试台内，压力测试组件由驱动气缸和压力板组成，驱动气缸上端与测试主机内腔上端固定连接，驱动气缸下端固定连接有压力板。将多组待测试的单片机芯片放置到芯片测试箱内后，通过数控中心控制驱动气缸带动压力板向下移动并伸入芯片测试箱中给予单片机芯片持续增大的压力，压力传感器将测试结果通过数控中心上的数据显示器显示出来，测试完成后，将单片机芯片从芯片测试箱内取出即可。
一种全自动单片机芯片测试装置及其操作方法