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[发明专利]一种分体式光纤差压测量装置及方法-CN202210842567.8有效
发明人：方立德;孙旭阳;孔恒正;李红莲;韦子辉 -专利权人：河北大学
申请日： 2022-07-18 - 公布日： 2023-10-17 - 主分类号： G01L13/00 文献下载
摘要：本发明提供了一种分体式光纤差压测量装置及方法，包括有差压测量单元和压差数据处理单元。本发明通过采用分体测量的方法，利用分体的取压腔对高压低压进行分开的测量，无须使用引压管进行远距离引压，直接对被测介质进行测量，可以消除分体的取压腔不一致性的影响。将包含高压和低压信息的两个取压腔中的干涉光引入到干涉模块中产生干涉条纹，通过统计干涉条纹的信息，来获得两处测量端的差压值。高压低压两个取压腔两端能够逆向使用，正负压均可测得，能够辨别出高压端和低压端，通过条纹移动方向，自动识别压差。
一种体式光纤测量装置方法

[发明专利]基于低相干光串联干涉的量块长度校准装置和校准方法-CN202111129008.4有效
发明人：方立德;孔恒正;李红莲;陈明敬 -专利权人：河北大学
申请日： 2021-09-26 - 公布日： 2023-06-13 - 主分类号： G01B11/02 文献下载
摘要：本发明提供了一种基于低相干光串联干涉的量块长度校准装置和校准方法，包括有远程校准系统、实验室校准系统和控制系统。本发明通过光纤的连接远程校准系统和实验室校准系统，依靠补偿光程差的原理，来实现对远程现场量块的测量。由于实验室校准系统和远程校准系统的光程差相同，由于待测量块和标准量块之间有偏差，移动实验室校准系统线性位移平台，校准移动反射镜和标准量块随之移动，此时，光电探测器探测到的条纹强度会减弱。当待测量块和标准量块顶端之间所产生的光程差相等时，光电探测器会再一次探测出较强的光。记录光强达到最大值时线性位移平台的移动距离，来间接测量量块的差值。
基于相干光串联干涉量块长度校准装置方法