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[发明专利]芯片测试结果数据的自动抓取与分析方法-CN202211381803.7在审
发明人：陈燕萍;吴彩平;娄建和 -专利权人：上海旻艾半导体有限公司
申请日： 2022-11-04 - 公布日： 2023-02-03 - 主分类号： G06F11/22 文献下载
摘要：本发明公开一种芯片测试结果数据的自动抓取与分析方法，选择测试服务器的测试结果数据所要存储的路径；确定测试报告表的关键属性，测报程序根据关键属性信息，自动地从大批量测试结果数据中，采用一定的算法，获得所要的测试数据；根据不同的测试芯片的产品类型，选择对应的测试模板，生成测试报告。本发明的芯片测试结果数据的自动抓取与分析方法，采用自动脚本程序设计，提供了丰富的功能，可以自动地从测试服务器上获取对应片号的sum和map等海量数据、且提供具体操作日志Log、还可给用户相关错误提示等，相比较人工处理，不会出错、效率可提高30～50倍、节省大量时间和精力，所以大大提高了测报工作的效率和正确性。
芯片测试结果数据自动抓取分析方法

[实用新型]一种高效稳定的指纹芯片测试电路-CN202021640283.3有效
发明人：王锐;娄建和 -专利权人：上海旻艾半导体有限公司
申请日： 2020-08-07 - 公布日： 2021-06-15 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本实用新型公开一种高效稳定的指纹芯片测试电路，包括上位机、MCU芯片和测试座，所述MCU芯片通过USB接口与上位机通讯，所述MCU芯片通过SPI接口与设置在测试座上的被测芯片通信，所述MCU芯片接收上位机的指令并传输至被测芯片，并将被测芯片的指纹图形数据传输至上位机。本实用新型电路结构简单，数据传输效率高，准确性高，可达到快速地测试指纹芯片，提高测试效率与准确度的效果，同时降低整体测试成本。
一种高效稳定指纹芯片测试电路

[发明专利]芯片CP测试中DELP系列探针台驱动配置方法-CN202011515315.1在审
发明人：王锐;娄建和;吴彩平 -专利权人：江苏艾科半导体有限公司
申请日： 2020-12-18 - 公布日： 2021-04-16 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明公开一种芯片CP测试中DELP系列探针台驱动配置方法，包括归类针卡分布图，为每一类分布图配置对应的驱动程序；根据归类情形制作包含所有驱动程序的列表和批处理文件；执行批处理文件，选择驱动程序编号，批处理程序则自动向测试机主机操作系统注册所用的探针台驱动；空跑CP测试，得到探针台晶芯坐标和测试机晶芯坐标，进行坐标比对，确认无误后，进行晶圆CP量产测试。采用本发明的驱动配置方法，可保证CP测试坐标完全匹配、测试机台从探针台可获取正确的晶圆位置坐标，进而可以正常进行芯片晶圆的CP测试；采用一个批处理即可处理9类驱动注册的方式，简化了操作人员的操作，且节省测试成本。
芯片 cp 测试 delp 系列探针驱动配置方法

[发明专利]一种提高检测效率和准确度的指纹识别芯片测试方法-CN202010708699.2在审
发明人：王锐;娄建和 -专利权人：江苏艾科半导体有限公司
申请日： 2020-07-21 - 公布日： 2020-11-24 - 主分类号： G06K9/00 文献下载
摘要：本发明公开一种提高检测效率和准确度的指纹识别芯片测试方法，采用从中心点向外螺旋散开的仿真指纹形状，配合简化的指纹端点特征比较法，即通过简化的指纹硅胶形状与简化算法相结合，从而使得检测算法能够快速迭代收敛，减少识别时间，快速地测试指纹芯片，提高了指纹识别芯片的测试效率和准确度。本发明可自动保存测试log文件，在软件中即可查看生成的log文件的数据，方便用户检查以及查看，大大减少了人力，提高了效率。
一种提高检测效率准确度指纹识别芯片测试方法