专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]异物检查装置-CN202180051867.8在审
  • 土屋邦彦;须山敏康 - 浜松光子学株式会社
  • 2021-04-30 - 2023-03-31 - G01N23/18
  • 异物检查装置(1)包括:对由搬送部(5)搬送的检查对象物(S)照射X射线(L1)的X射线照射部(6);检测透过了检查对象物(S)的X射线(L1),输出基于检测结果的X射线图像数据的X射线检测部(7);对由搬送部(5)搬送的检查对象物(S)照射红外线(L2)的红外线照射部(8;和检测来自检查对象物(S)的红外线(L2),输出基于检测结果的红外线图像数据的红外线检测部(9)。红外线照射部(8)和红外线检测部(9)被具有遮蔽X射线(L1)且使红外线(L2)透过的部件的保护部(21)覆盖。
  • 异物检查装置
  • [发明专利]高度测量装置及高度测量方法-CN202180013788.8在审
  • 中村共则;土屋邦彦 - 浜松光子学株式会社
  • 2021-02-02 - 2022-09-23 - G01B11/24
  • 本发明的高度测量装置具备:光照射部,其将包含多个光束的照射光以相对于样品的高度方向倾斜的角度照射至样品,该多个光束在与光轴方向交叉的方向上排列且波长互不相同;相机系统,其检测来自被照射有照射光的样品的光,并输出该光的波长信息;及控制装置,其基于波长信息而计算样品的高度;且相机系统具有:倾斜二向色反射镜,其透过率及反射率在特定波长区域内根据波长而变化,通过使来自样品的光透过及反射而将该光分离;光检测器,其从已在倾斜二向色反射镜反射的光检测反射光量;光检测器,其从已透过倾斜二向色反射镜的光检测透过光量;及处理部,其基于反射光量与透过光量的比,计算波长信息并将其输出。
  • 高度测量装置测量方法

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