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[发明专利]芯片MAC地址分发方法及烧录方法-CN202311048662.1在审
发明人：谢克展;钟志江;卢旭坤;陈勇;孙文涛;周彬 -专利权人：广东利扬芯片测试股份有限公司
申请日： 2023-08-18 - 公布日： 2023-10-27 - 主分类号： H04L61/5046 文献下载
摘要：本发明公开了一种芯片MAC地址分发方法及烧录方法，分发方法包括：多个测试机向服务器发送获取请求指令；服务器读取一个获取请求指令；服务器根据获取请求指令从数据库中查找芯片MAC地址，并发送至对应的测试机；服务器将发送的芯片MAC地址增加固定数值形成为新的芯片MAC地址；服务器根据顺序读取下一个获取请求指令，并将形成的芯片MAC地址发送至对应的测试机；以此类推，服务器重复形成新的芯片MAC地址和重复读取下一个获取请求指令，并根据读取的获取请求指令将形成的芯片MAC地址发送至对应的测试机。本发明芯片MAC地址分发方法能够实现多个测试机同步测试，有利于提高产品的品质和生产测试效率。
芯片 mac 地址分发方法

[实用新型]探针卡移载辅助机构-CN202320185607.6有效
发明人：徐昊;袁刚;郑朝生;卢旭坤;辜诗涛 -专利权人：上海芯丑半导体设备有限公司
申请日： 2023-02-10 - 公布日： 2023-09-19 - 主分类号： G01R1/02 文献下载
摘要：本实用新型公开了探针卡移载辅助机构，其用于对电气检测装置中使用的探针卡的移载操作进行辅助。本实用新型的探针卡移载辅助机构包括保持结构、支撑结构和升降驱动装置。保持结构安装有若干个用于锁定探针卡的锁定件。保持结构安装于支撑结构。支撑结构安装于升降驱动装置的输出端，升降驱动装置驱使支撑结构升降。本实用新型的探针卡移载辅助机构具有省力且保护性高的优点。
探针卡移载辅助机构

[实用新型]一种超声波指纹识别芯片的测试装置-CN202320662150.3有效
发明人：谢刚刚;孙文涛;钟树;陈勇;陆聪;卢旭坤 -专利权人：上海芯丑半导体设备有限公司
申请日： 2023-03-29 - 公布日： 2023-09-12 - 主分类号： G01M99/00 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种超声波指纹识别芯片的测试装置，包括金属体和一端开口的薄膜体；所述金属体设置在所述薄膜体内，且所述金属体与所述薄膜体的底部间隔形成有一空腔。本实用新型提供的一种超声波指纹识别芯片的测试装置，通过将一金属体设置在一薄膜体内，并使金属体与薄膜体的底部间隔形成一空腔，从而可以由薄膜体接触芯片的sensor区域来配合进行超声波测试，以替代现有的贴膜工艺，能够减少贴膜的成本，有利于成本的管控。
一种超声波指纹识别芯片测试装置

[实用新型]芯片分料梭车装置及芯片分选机-CN202320160652.6有效
发明人：梁光照;田近;陈金辉;郑挺;郑朝生;卢旭坤 -专利权人：东莞利扬芯片测试有限公司
申请日： 2023-02-08 - 公布日： 2023-09-08 - 主分类号： B65G35/00 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种芯片分料梭车装置，其包括：梭车装置、检测装置、止挡装置和控制装置，梭车装置设置有至少一贯穿的通道以及第一通孔；检测装置的感应端与第一通孔对应设置，检测装置用于根据感应端的进光量来判断通道内是否有芯片；止挡装置包括驱动器和连接于驱动器的阻挡件，阻挡件用于阻挡芯片通过通道；控制装置与检测装置通信连接，控制装置与驱动器连接，控制装置用于根据检测装置的检测信息控制驱动器驱动阻挡件朝远离通道的方向移动以使通道内的芯片通过通道。本实用新型芯片分料梭车装置能够有效减少感应误判的情况，提高判断梭车装置内有无芯片的准确性，有利于减少频繁校准感应器的耗时，进而提高生产效率。
芯片分料梭车装置分选

[实用新型]电路板清洁装置及测试机维护保养车-CN202320226633.9有效
发明人：林望;曾小林;孙孝辉;曹贺磊;卢旭坤 -专利权人：上海芯丑半导体设备有限公司
申请日： 2023-02-15 - 公布日： 2023-08-01 - 主分类号： B08B1/00 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种电路板清洁装置及测试机维护保养车，其中电路板清洁装置包括壳体、盖体、支撑装置和清洁装置，壳体设置有开口；盖体用于遮盖或暴露开口；支撑装置包括支撑架、连接架、第一定位架和第二定位架，第一定位架与支撑架和连接架固定连接，第二定位架与连接架滑动连接以滑动靠近或远离第一定位架，支撑架用于支撑电路板，第一定位架和第二定位架用于夹持电路板相对的两端；清洁装置包括除尘装置和驱动装置，除尘装置与连接架滑动连接，驱动装置用于驱动除尘装置沿连接架的延伸方向来回移动，除尘装置用于清洁电路板。本实用新型电路板清洁装置能够提高除尘效率和工作效率，同时避免来回搬运导致电路板掉落损坏的风险。
电路板清洁装置测试维护养车

[发明专利]一种芯片综合测试装置及芯片综合测试方法-CN202310323266.9在审
发明人：孙文涛;谢刚刚;钟树;陈勇;陆聪;卢旭坤 -专利权人：上海芯丑半导体设备有限公司
申请日： 2023-03-29 - 公布日： 2023-07-25 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明公开了一种芯片综合测试装置及芯片综合测试方法，其中装置包括针卡和薄膜模组；所述针卡开设有贯通孔；所述薄膜模组穿设于所述贯通孔，且与所述针卡固定连接；所述薄膜模组包括金属体和薄膜体；所述薄膜体为一端开口、另一端封闭的结构，且内部中空；所述金属体设置在所述薄膜体内，且所述金属体与所述薄膜体的底部间隔形成有一空腔。本发明通过在针卡上集成薄膜模组，由薄膜模组来模拟波形的应用场景，使得既可以实现对晶圆的常规电性测试，又可以实现对芯片的超声波测试，从而大大缩短了测试时间，提高了测试效率。
一种芯片综合测试装置方法

[发明专利]聚酯切片的制粒装置-CN202310426525.0在审
发明人： 卢旭坤;钱桂海;郝瑞强;王志军 -专利权人：扬州普立特科技发展有限公司
申请日： 2023-04-20 - 公布日： 2023-06-27 - 主分类号： B29B9/10 文献下载
摘要：本申请提供了一种聚酯切片的制粒装置，涉及聚酯颗粒制造领域，其包括固定支架、模具辊筒、驱动辊、驱动装置、隔热密封板、加热密封板、冷却水箱、抽气装置、保温箱；在工作过程中，驱动装置驱动驱动辊旋转，驱动辊带动模具辊筒旋转，模具辊筒内内部空间也处于负压状态；型腔经过保温箱时，聚酯熔体流入到型腔内；型腔经过冷却水箱时内壁降温，内壁聚酯熔体逐渐凝固体积收缩，在压力差的作用下，型腔内成型的聚酯颗粒脱离型腔进入冷却水箱中；型腔经过加热密封板时，加热密封板对其进行加热；实现聚酯的连续制粒；本申请不需要单独的控制系统就能够实现聚酯制粒工作的连续运转，有助于提高聚酯的制粒效率并降低聚酯的制粒成本。
聚酯切片装置

[实用新型]一种卧式内循环搅拌反应器-CN202320302724.6有效
发明人：戴国伟;卢旭坤;王宝成;刘强;夏鑫荣;张宇 -专利权人：江苏阿科米科技有限公司
申请日： 2023-02-24 - 公布日： 2023-06-23 - 主分类号： B01J19/18 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种卧式内循环搅拌反应器，包括本体和设于本体上的循环部件，本实用新型通过设置本体、罐体、入料口、第一底座、第二底座、第一电机、第一转动杆、第一搅拌叶、第二电机、第二转动杆、第二搅拌叶和循环管，通过入料口加入相关材料，之后启动第一电机和第二电机，第一电机带动第一转动杆转动，第一转动杆带动第一搅拌叶进行顺时针搅拌，使被搅拌的物料在罐体内进行循环搅拌，达到了搅拌物在罐体内进行内循环，增加了搅拌效果，提升了搅拌效率的效果，解决了现有的卧式搅拌反应器由于缺乏使搅拌物在罐体捏进行内循环的设备，导致卧式搅拌反应器的搅拌效果不佳，效率较低的问题。
一种卧式循环搅拌反应器

[实用新型]一种回收聚酯再生为BHET生产PBT的生产设备-CN202023186803.0有效
发明人： 卢旭坤;马健;刘勇;杨兴宏;严弘伟;张弛 -专利权人：扬州普立特科技发展有限公司
申请日： 2020-12-26 - 公布日： 2023-06-16 - 主分类号： C08G63/183 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种回收聚酯再生成BHET生产PBT的生产设备，包括醇解反应系统、脱醇系统、酯化反应系统、缩聚反应系统；所述醇解反应系统包括螺杆挤压机、过滤器、醇解反应釜、分馏塔、分馏塔冷凝器、分馏塔回流罐；将回收原料放入醇解反应系统，再依次进入脱醇系统、酯化反应系统、缩聚反应系统处理后，制成PBT材料。本实用新型工艺合理，自动化程度高，生产效率高、产品质量稳定，运行安全稳定。
一种回收聚酯再生 bhet 生产 pbt 设备

[发明专利]一种芯片修调预测方法-CN202310328348.2在审
发明人：阳靖;钱向东;卢旭坤;蒋卓怡;李沛东;旷法佳;杨柳;谢凯 -专利权人：广东利扬芯片测试股份有限公司
申请日： 2023-03-30 - 公布日： 2023-06-13 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：本公开揭示了一种芯片修调预测方法，包括：S100：设置第一待修调芯片的修调次数上限；S200：测量第一待修调芯片的信号频率，获得第一测量值；S300：基于第一测量值将第一待修调芯片归档，并根据第一待修调芯片所在档位的修调预测值对第一待修调芯片进行修调，并记录修调次数；S400：测量第一待修调芯片修调后的信号频率，获得第二测量值；S500：基于第二测量值与测量标准值比对以对第一待修调芯片进行检测，若检测通过，则判定第一待修调芯片为良品，并基于第一待修调芯片的修调次数获得与第一待修调芯片同一档位的第二待修调芯片的修调预测值，同时终止修调程序。
一种芯片预测方法

[发明专利]芯片测试结果BIN项分类系统及其分类方法-CN202110139460.2有效
发明人：肖思文;郑朝生;郑挺;肖小波;容承昌;袁俊;卢旭坤;辜诗涛;张亦锋 -专利权人：广东利扬芯片测试股份有限公司
申请日： 2021-02-01 - 公布日： 2023-06-06 - 主分类号： B07C5/02 文献下载
摘要：本发明公开一种芯片测试结果BIN项分类系统及其分类方法，分类系统包括进料区、分料区及出料区。进料区设有第一读码器，第一读码器读取进料盘上的标识码，标识码记录有进料盘中各芯片的BIN项信息及坐标。分料区设有多个料槽及机械手臂，机械手臂拿取进料盘中的芯片放至料槽，然后将相同BIN项排列到一起，于相同BIN项达到预设数目时拿取该BIN项芯片并运动至出料区的接料区域。出料区设有台车机构及分盘机构，分盘机构承载多个出料盘，每一出料盘用于容置一种BIN项芯片，处理器根据达到预设数目的BIN项驱使分盘机构、台车机构取出对应的料盘，台车机构承载该出料盘运动至接料区域接收芯片。本发明实现了将进料盘中的多种BIN项芯片分成单一BIN项输出。
芯片测试结果 bin 分类系统及其方法

[发明专利]用于芯片测试的射频校准装置及其校准方法-CN202110597170.2有效
发明人：康承乾;陈谷颖;卢旭坤;袁俊;辜诗涛 -专利权人：广东利扬芯片测试股份有限公司
申请日： 2021-05-28 - 公布日： 2023-05-30 - 主分类号： G01R35/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于芯片测试的射频校准装置及其校准方法，用于测量测试机至探针之间的校准值，其中射频校准装置包括第一基板和第一电路板。第一基板包括多个第一下接触盘和与多个第一下接触盘对应导通的多个第一上接触盘，多个第一下接触盘被配置为与各探针对应接触。多个第一上接触盘焊接在第一电路板，第一电路板设置有多个第一测试接口，多个第一测试接口分别与多个第一上接触盘电性连接，多个第一测试接口被配置为与测试机或测试仪器连接。本发明射频校准装置采用简单结构即可完成测量，有效降低制作成本，还能减少系统误差。
用于芯片测试射频校准装置及其方法

[发明专利]一种检测用于芯片测试板卡的继电器的装置-CN202310198323.5在审
发明人：阳靖;钱向东;卢旭坤;蒋卓怡;李沛东;旷法佳;张亦锋 -专利权人：上海利扬创芯片测试有限公司
申请日： 2023-03-03 - 公布日： 2023-05-23 - 主分类号： G01R31/327 文献下载
摘要：本公开揭示了一种检测用于芯片测试板卡的继电器的装置，包括：测试机，用于输出激励控制信号；继电器，用于基于激励控制信号控制测试机上的芯片测试通道对芯片上的待测芯片管脚进行切换测试；检测单元，用于读取激励控制信号以及用于读取继电器在控制芯片测试通道对芯片上待测芯片管脚进行切换测试时输出的响应信号，并通过比对激励控制信号和响应信号以对继电器进行检测。
一种检测用于芯片测试板卡继电器装置

[发明专利]智能物料管理系统和方法-CN202310155280.2在审
发明人：孙孝辉;曾小林;张佳天;林望;卢旭坤;郑朝生 -专利权人：广东利扬芯片测试股份有限公司
申请日： 2023-02-22 - 公布日： 2023-05-23 - 主分类号： G07F17/12 文献下载
摘要：本发明公开了智能物料管理系统以及智能物料管理方法，能防潮，防错拿漏拿情况的发生。其中智能物料管理系统包括物料柜、处理器、服务器和第一感测模块。物料柜包括多个用于存储物料且可开闭的储料柜单元，储料柜单元内安装有氮气喷吹结构。处理器安装于物料柜，处理器用于接收作业指令并根据作业指令控制对应的储料柜单元打开，并在打开储料柜单元时控制氮气喷吹结构喷吹氮气。服务器与处理器电连接，服务器用于接收产品信息，并根据产品信息发出作业指令给处理器。第一感测模块与处理器电连接，第一感测模块安装于储料柜单元内，用于感测储料柜单元中的物料是否有被取出，物料被取出后生成提取信息，并将提取信息通过处理器发给服务器。
智能物料管理系统方法

[发明专利]通信接口测试电路及方法-CN202111291047.4有效
发明人：谢克展;张传益;陈勇;袁俊;方琪;陈金辉;卢旭坤;张亦锋 -专利权人：广东利扬芯片测试股份有限公司
申请日： 2021-11-02 - 公布日： 2023-05-23 - 主分类号： H04L43/50 文献下载
摘要：本发明公开了一种通信接口测试电路及方法，其中，通信接口测试电路包括计时模块和信号模拟模块，计时模块的输入端与第一信号接口连接，计时模块的输出端与第二信号接口连接，用于接收第一信号接口发出的SOT信号并根据SOT信号开始计时，当计时达到预设时间时，计时模块向第二信号接口发送EOT信号；信号模拟模块的一端与计时模块连接，信号模拟模块的另一端与第三信号接口连接，信号模拟模块用于模拟BIN信号；当计时模块计时达到预设时间时，计时模块使信号模拟模块将BIN信号发送至第三信号接口。通过本发明的通信接口测试电路及方法能够简单、方便、快速地测试芯片分选机的通信接口是否能够正常通信。
通信接口测试电路方法

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