专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种获取器件中子单粒子效应截面的方法及装置-CN201810847569.X有效
  • 王群勇 - 北京圣涛平试验工程技术研究院有限责任公司
  • 2018-07-27 - 2023-06-30 - G06F30/20
  • 本发明实施例提供一种获取器件中子单粒子效应截面的方法及装置。方法包括:确定待测器件的类别;根据所述类别对应的中子单粒子效应NSEE截面公式,获取所述待测器件的NSEE截面;其中,所述NSEE截面公式根据样本器件的NSEE截面历史数据拟合得到。本发明实施例提供的方法及装置,不依托于试验数据,仅通过分析样本器件的历史数据,按样本器件的种类进行分类分析,拟合出每一类样本器件的NSEE截面公式,根据待测器件的类别,使用对应的NSEE截面公式,获取待测器件的NSEE截面。具有输入参数少、易于实现的特点,便于工程应用。能够快速获得器件的NSEE截面,有效减少航空电子产品的设计周期,提高其大气中子辐射环境下的可靠性。
  • 一种获取器件中子粒子效应截面方法装置
  • [发明专利]半导体器件的辐射损伤可靠性评估方法及装置-CN201811174784.4有效
  • 王群勇 - 北京圣涛平试验工程技术研究院有限责任公司
  • 2018-10-09 - 2023-06-30 - G06F30/20
  • 本发明实施例提供一种半导体器件的辐射损伤可靠性评估方法及装置,所述方法包括:获取在预设试验应力水平值条件下进行试验得到的样品生存概率值;将所述预设试验应力水平值,所述样品生存概率值,以及半导体器件的累计辐射剂量的预估值,输入至预设计算模型,输出所述半导体器件的生存概率值;根据所述半导体器件的生存概率值,评估所述半导体器件的可靠性。本发明实施例提供的半导体器件的辐射损伤可靠性评估方法及装置,利用预设试验应力水平值条件下的非完全试验数据,获取半导体器件的生存概率值,并根据生存概率值评估半导体器件的可靠性,减少了资源浪费,提高了评估效率。
  • 半导体器件辐射损伤可靠性评估方法装置
  • [发明专利]电线电缆可靠性评估方法和装置-CN201910355249.7有效
  • 王群勇;白桦;孙旭朋;钟征宇 - 北京圣涛平试验工程技术研究院有限责任公司
  • 2019-04-29 - 2023-06-02 - G06F30/20
  • 本发明实施例提供一种电线电缆可靠性评估方法和装置,其中方法包括:基于电线电缆的自身参数,获取电线电缆的基础失效率;基于电线电缆的热应力因子、温度循环应力因子、机械应力因子、湿度应力因子和化学应力因子中的至少一种,获取电线电缆的环境应力因子;基于基础失效率和环境应力因子,评估电线电缆的可靠性。本发明实施例提供的方法和装置,综合了电线电缆的自身特征以及电线电缆在工作过程中受到的外界环境条件两个方面分别对电线电缆失效率的影响,提高了可靠性评估精度,为器件选型和产品设计提供了可靠依据,在保证工程质量和产品的可靠性的同时,有效控制工程和产品成本。
  • 电线电缆可靠性评估方法装置
  • [发明专利]集成电路寿命预估方法及装置、电子设备和存储介质-CN202110815566.X在审
  • 阳辉;钟征宇 - 北京圣涛平试验工程技术研究院有限责任公司
  • 2021-07-19 - 2021-11-05 - G06F30/27
  • 本发明提供一种集成电路寿命预估方法及装置、电子设备和存储介质,其中,集成电路寿命预估方法包括建立包含至少三个影响因子的多组测试组,以每一测试组的三个影响因子为测试条件对待测试集成电路的功能失效时间进行测试以获得实验失效时间;根据多组测试组的三个影响因子以及多组对应每一测试组的所述实验失效时间确定多个加速因子,并根据原始加速因子模型、三个所述影响因子以及多个所述加速因子建立加速因子‑相对寿命模型;根据待测试集成电路的应用环境的三个影响因子以及加速因子‑相对寿命模型预估使用时间长度。通过上述方案,可以引入其他影响因子对集成电路寿命进行准确预估,避免了仅仅依靠温度和湿度进行集成电路使用寿命预估的偏差。
  • 集成电路寿命预估方法装置电子设备存储介质
  • [发明专利]一种高安全性电子系统的风险控制方法及装置-CN201911403887.8在审
  • 王群勇;严拴航;陈冬梅 - 北京圣涛平试验工程技术研究院有限责任公司
  • 2019-12-30 - 2021-07-16 - G06Q10/06
  • 本发明实施例提供一种高安全性电子系统的风险控制方法及装置,该方法包括:根据功能失效状态的类别,获取每一类功能失效状态下的所有故障类,确定所有故障率的预计值和故障的恢复时间,以此确定系统整体满足任务要求;确定每一故障均有对应的深度防御策略;根据故障率的预计值,和故障率的指标值,确定每一类故障满足预设的安全裕量;根据每一故障类造成的危害程度,以及危害影响是否可接受,确定关键故障类型;确定每一关键故障类型均有监测系统,能够监测故障的发生和故障的恢复时间。该方法确保系统整体满足任务要求,且每一故障满足预设的安全裕量,将风险限制在受控状态,保证了所有关键故障能够及时监测,有利于减缓措施的实施。
  • 一种安全性电子系统风险控制方法装置

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