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[发明专利]检查装置-CN202110296494.2在审
发明人：佐佐木浩一;松田晋也;加藤秋久 -专利权人：第一实业威视博株式会社
申请日： 2021-03-19 - 公布日： 2021-10-01 - 主分类号： G01N21/956 文献下载
摘要：本发明提供一种专用于检测在电子零部件的电极部上存在的缺损、剥离的检查装置。具有输送被检查物(W)的输送机构(2)、被配设在被检查物(W)侧的第一照明机构(5)及被配设在相反侧的第二照明机构(25)、和被配设在被检查物(W)侧来拍摄被检查面(Wa)的拍摄摄像头(4)。第一照明机构(5)将接近输送路径的第一发光器(16)设置在比另一组第一发光器(12)远离检查位置(P)的位置。第二照明机构(25)被配设在隔着输送片材(3)而与第一照明机构(5)面对称的位置，具有接近输送路径的第二发光器(36)和另一组第二发光器(32)。第一照明机构(5)的第一发光器(16)和第二照明机构的第二发光器(36)的1/2光束角位于30°～80°的范围内，第一照明机构(5)的第一发光器(12)和第二照明机构(25)的第二发光器(32)的1/2光束角位于10°～25°的范围内。
检查装置

[发明专利]检查装置-CN202010052728.4在审
发明人：佐佐木浩一;松田晋也;加藤秋久 -专利权人：第一实业视检系统股份有限公司
申请日： 2020-01-17 - 公布日： 2020-07-28 - 主分类号： G01N21/01 文献下载
摘要：本发明提供一种通过不使被检查物的端面的接触痕迹显示于拍摄图像，能够高精度地检查端面的外观性状的检查装置。本发明的检查装置具备：搬送被搬送物(W)的搬送机构；第1照明机构，对被检查物的被检查面进行照明；及摄像机，拍摄被检查面。第1照明机构具备对被检查面进行照明的发光器、及支撑发光器的支撑体，支撑体在比另外一组发光器远离检查位置的位置上支撑最靠近搬送路径的发光器。在远离的发光器与另外一组发光器之间形成能够自与检查位置相反一侧的背面观察被检查面的空间，摄像机通过该空间拍摄被检查面。远离的发光器的1/2波束角处于30°～80°的范围内，另外一组发光器的1/2波束角处于10°～25°的范围内。
检查装置

[发明专利]检查装置-CN201380073441.8在审
发明人：佐佐木浩一;松田晋也;加藤秋久 -专利权人：第一实业视检系统股份有限公司
申请日： 2013-12-25 - 公布日： 2015-10-28 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：该检查装置1具有：用于搬运被检查物W的搬运机构2；于检查位置P中，用于照明通过搬运机构2所搬运的被检查物W的被检查面Wa的第1照明机构5；及用于拍摄被检查面Wa的摄影照相机4。其中第1照明机构5具有用于照明被检查面Wa的多个发光器12，20；及用于支撑该发光器12，20的支撑体6，13。支撑体13是构成至少与其它一群的发光器12相比，在隔离检查位置P的位置来支撑离搬运路径最近的发光器20。于隔离的发光器20及其它一群发光器12之间，形成可从与检查位置P的另一侧的背面观察到被检查面Wa的空间18，摄影照相机4可透过该空间来拍摄到被检查面Wa。
检查装置