专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种适用新型氮化镓上电调制电路-CN202210889381.8在审
  • 刘召满;刘松林 - 成都汉芯国科集成技术有限公司
  • 2022-07-27 - 2022-11-11 - H02M3/155
  • 本发明公开了一种适用新型氮化镓上电调制电路,涉及氮化镓功率晶体管上电调制技术领域,包括DC‑DC模块、栅压控制器、驱动器和MOST管,驱动器和MOST管的电源端与电源VCC连接,DC‑DC模块的输出端分别与栅压控制器和驱动器的输入端相连,DC‑DC模块将正电压转换为负电压后输出到栅压控制器和驱动器,驱动器由外部输入一个TTL电平信号控制驱动器驱动MOST管导通、关断控制氮化镓功率晶体管漏压的开通、关断,栅压控制器用于氮化镓功率晶体管栅压的电压调节;供电电路中只需要正电压无需再提供负压;保证了输出电压可调,该电压范围满足大部分氮化镓功率晶体管栅压供电范围;驱动器驱动电路开关MOST管达到氮化镓功率晶体管调制漏压的目的。
  • 一种适用新型氮化镓上电调制电路
  • [实用新型]一种半导体引线焊接装置-CN201921175492.2有效
  • 刘召满 - 成都汉芯国科集成技术有限公司
  • 2019-07-25 - 2020-06-26 - B23K3/08
  • 本实用新型公开了一种半导体引线焊接装置,属于引线焊接技术领域,解决了半导体引线焊接作业时灰尘较多而导致影响焊接效果和焊缝性能的问题,本实用新型包括焊接工作台,所述焊接工作台下方连接有工作台底座,所述焊接工作台上安装有防护密封罩,焊接工作台与工作台底座之间连接有通气网,所述通气网下方连通有抽气罩,所述抽气罩连接有除尘装置,所述除尘装置包括与抽气罩连接的吸尘盘,所述吸尘盘连通有抽风机,所述抽风机的进风口安装有滤尘网。本实用新型除尘效果好,可防止危害人体健康。
  • 一种半导体引线焊接装置
  • [实用新型]一种半导体芯片的注塑模具-CN201921060031.0有效
  • 刘召满 - 成都汉芯国科集成技术有限公司
  • 2019-07-09 - 2020-05-19 - B29C45/26
  • 本实用新型公开了一种半导体芯片的注塑模具,属于半导体封装装置技术领域,用于解决现有的半导体芯片的注塑过程中因为封装基板与半导体芯片之间发生相对滑动,影响注塑效果的问题。本实用新型包括上模座和下模座,上模座下端设置有上模,上模开设有上模腔,下模座上端设置有下模,下模上端开设有下模腔,上模腔和下模腔配合形成型腔,还包括与型腔连通的注塑通道和冷却系统,下模腔的下端还开设有放置腔,下模腔的上端设置有两个固定板,两个固定板的下端均穿过下模腔的下壁伸入放置腔内后连接有挡板,下模腔的下端开设有滑槽,挡板的长度大于滑槽的长度,挡板下端设置有弹性支撑单元,挡板与放置槽之间设置有密封机构。
  • 一种半导体芯片注塑模具
  • [实用新型]一种电容器金属引线焊接装置-CN201921060012.8有效
  • 刘召满 - 成都汉芯国科集成技术有限公司
  • 2019-07-09 - 2020-05-19 - B23K9/00
  • 本实用新型公开了一种电容器金属引线焊接装置,属于焊接装置技术领域,用于解决的电容器金属引线焊接不能实现多个连续焊接而带来的焊接效率低的问题。本实用新型包括工作台,工作台上方设置有能升降移动的焊接电极,焊接电极的下方设置还有旋转盘,旋转盘的下端连接有第一旋转轴,第一旋转轴连接有间歇驱动装置,旋转盘的上端环形阵列设置有多个夹持单元,夹持单元包括支护板,支护板的上端开设有导向槽,支护板的下端开设有限位槽,导向槽内设置有导向板,导向板的上端连接有压紧板,导向板的下端连接有导向杆,导向杆的下端贯穿限位槽的下端伸入限位槽后连接有限位块,限位块与限位槽的上端内壁之间套设有压缩弹簧。
  • 一种电容器金属引线焊接装置
  • [实用新型]一种切割晶圆用的清洗设备-CN201921105515.2有效
  • 刘召满 - 成都汉芯国科集成技术有限公司
  • 2019-07-15 - 2020-05-12 - B08B3/10
  • 本实用新型公开了一种切割晶圆用的清洗设备,包括支撑架,所述支撑架上部设置有驱动装置,所述驱动装置与摇摆杆的一端活动连接,所述摇摆杆的另一端与清洗箱固定连接,所述摇摆杆通过转轴与支撑架活动连接,所述清洗箱上部设置有箱盖,所述清洗箱上设置有多个通孔,所述清洗箱内壁均由弹性材料制成,所述清洗箱下方设置有清洗池,所述清洗池下部设置有气缸推杆。通过清洗箱,使晶圆能够在清洗池中被清洗干净,且能够对晶圆的两面都进行充分的清洗,清洗效率高。
  • 一种切割晶圆用清洗设备
  • [实用新型]一种切割晶圆用的线锯机-CN201921108480.8有效
  • 刘召满 - 成都汉芯国科集成技术有限公司
  • 2019-07-15 - 2020-05-12 - B28D5/04
  • 本实用新型公开了一种切割晶圆用的线锯机,包括工作台,所述工作台中部设置有锯条,所述工作台下部设置有机座,所述机座一侧设置有吸尘机,所述吸尘机一侧通过集尘管与集尘箱连通,所述吸尘机另一侧与上吸尘管的一端连接,所述上吸尘管的另一端与吸尘盒连通,所述上吸尘管为软管,所述吸尘盒上部设置有吸尘口,位于所述吸尘口一侧的吸尘盒上设置有自动推杆,所述自动推杆与刮杆固定连接,所述吸尘盒下部设置有气缸推杆。通过设置自动推杆和刮杆,可以将工作台上的废屑集中到一起,便于对废屑的清理,使工作台保持干净。
  • 一种切割晶圆用锯机
  • [实用新型]一种用于芯片推拉力测试仪的清洁装置-CN201921175413.8有效
  • 刘召满 - 成都汉芯国科集成技术有限公司
  • 2019-07-25 - 2020-05-05 - B08B15/00
  • 本实用新型公开了一种用于芯片推拉力测试仪的清洁装置,属于推拉力测试仪技术领域,解决了芯片推拉力测试仪在工作时会因灰尘颗粒的影响而导致测试精度不足、测试数据不准确的问题,本实用新型包括底座,所述底座上方安装有工作平台,所述工作平台上连接有支撑台,所述支撑台连接有测试头,所述底座的表面和底座与工作台之间的连接处均开设有多个通风栅口,底座内安装有清洁装置,所述清洁装置包括吸尘盘和抽风机,吸尘盘与抽风机连通,所述抽风机的进风口安装有滤尘网,抽风机的出风口与底座外连通。本实用新型有效提高了推拉力测试仪测试精度。
  • 一种用于芯片拉力测试仪清洁装置
  • [实用新型]一种用于芯片封装的无尘车间除尘装置-CN201921175440.5有效
  • 刘召满 - 成都汉芯国科集成技术有限公司
  • 2019-07-25 - 2020-04-17 - B01D46/10
  • 本实用新型公开了一种用于芯片封装的无尘车间除尘装置,属于芯片封装技术领域,解决了芯片封装作业时车间内灰尘较多而导致影响芯片性能的问题,本实用新型包括外壳,所述外壳上安装有吸尘盘,所述吸尘盘上连接有多个进气嘴,吸尘盘与外壳之间连接有集中风管,所述进气嘴均与集中风管连通,集中风管连通有位于外壳内的除尘内壳,所述除尘内壳的内壁上与集中风管连接的开口下方安装有折流板,除尘内壳的内壁上还交错连接有多个水平布置吸尘板,所述吸尘板上覆盖有吸尘海绵,除尘内壳内的底部安装有滤尘网,所述滤尘网连通有抽风机,所述抽风机安装于外壳与除尘内壳之间的底部。本实用新型除尘效果好,适用于车间内空间大的环境,使用寿命长。
  • 一种用于芯片封装无尘车间除尘装置
  • [实用新型]一种键合剪切力测试机-CN201921060229.9有效
  • 刘召满 - 成都汉芯国科集成技术有限公司
  • 2019-07-09 - 2020-03-27 - G01N3/24
  • 本实用新型公开了一种键合剪切力测试机,属于芯片检测装置技术领域,用于解决现有的引线键合剪切力测试过程由于引线的空间位置不同刀具对准不方便的问题。本实用新型包括能升降移动的推刀,推刀上端连接有测试装置本体,推刀的下方设置有相互垂直的导轨总成,导轨总成上端设置有夹具平台,夹具平台上端并排设置有夹持组件和固定刀,固定刀的一端横向连接有旋转盘,旋转盘侧壁设置有移动组件,移动组件连接有固定座,固定刀安装在固定座侧壁,旋转盘背离移动组件的一侧连接有支撑组件。
  • 一种剪切测试
  • [实用新型]一种自动探针台的标记装置-CN201921101953.1有效
  • 刘召满 - 成都汉芯国科集成技术有限公司
  • 2019-07-15 - 2020-03-24 - B25H7/00
  • 本实用新型公开了一种自动探针台的标记装置,包括安装在探针台上的工作台,设置在工作台上方的标记组件,所述标记组件包括打点标记件、测试探针和用于固定测试探针的固定架,所述打点标记件包括探头、压力传感器、标记探针,所述打点标记件设置有至少3个,所述测试探针与所述打点标记件一一匹配,每一所述测试探针与标记探针之间的距离为一个待测件的长度。本实用新型可解决传统的标记装置,对针困难,且一对一的对针方式,影响了工作效率的问题。
  • 一种自动探针标记装置

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