专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种基于隔膜的磁痕裂纹测量方法-CN202310921392.4在审
  • 胡沁宇;陈彦廷;刘伶书 - 武汉华宇一目检测装备有限公司
  • 2023-07-25 - 2023-10-20 - G01N27/84
  • 本发明公开了一种基于隔膜的磁痕裂纹测量方法,属于无损检测技术领域,包括:在待测件表面布置隔膜;对待测件进行磁化;在隔膜背离待测件一侧喷洒磁悬液;采集磁痕堆积数据,根据磁痕堆积与裂纹标准比对关系获取待测件的裂纹尺寸。本发明的基于隔膜的磁痕裂纹测量方法,其通过在待测件表面设置隔膜,利用隔膜抬高待测件的表面,进而减小磁痕形成位置处的漏磁场的大小,使得磁痕快速成型并趋于稳定,并通过对应隔膜厚度下的磁痕堆积与裂纹标准比对关系获取得到待测件的裂纹尺寸,进而大幅降低磁痕的稳定时间,提高待测件裂纹的检测效率。
  • 一种基于隔膜裂纹测量方法
  • [发明专利]试件表面缺陷的磁光联合检测方法、系统和装置-CN202310524942.9在审
  • 康宜华;陈彦廷;刘伶书 - 武汉华宇一目检测装备有限公司
  • 2023-05-10 - 2023-08-25 - G01N33/2045
  • 本申请公开了一种试件表面缺陷的磁光联合检测方法、系统、装置、计算机设备及存储介质。该方法包括对试件表面的目标区域进行3D建模,生成试件的表面形貌数字模型;对试件的表面形貌数字模型的仿真区域进行漏磁场有限元计算,获取预设时间段内的背景漏磁信号,仿真区域与目标区域相对应,背景漏磁信号是目标区域的漏磁信号的仿真值;获取预设时间段内的检测漏磁信号,检测漏磁信号是目标区域的漏磁信号的测量值;从检测漏磁信号中去除背景漏磁信号,获取预设时间段内消噪后的检测信号;根据预设时间段内消噪后的检测信号,确定目标区域有无缺陷。采用本方法能够实现对表面形貌复杂的试件表面的缺陷检测。
  • 表面缺陷联合检测方法系统装置
  • [发明专利]一种基于外触发控制的信号同步方法-CN202310570196.7在审
  • 朱一;刘伶书;刘强;杨斌 - 北京冶自欧博科技发展有限公司
  • 2023-05-19 - 2023-08-15 - H04N5/04
  • 本发明一种基于外触发控制的信号同步方法,包括信号同步设备、相机组、冷检装置、编码器,信号同步设备与相机组、冷检装置、编码器通信,冷检装置包括第一冷检设备和第二冷检设备,其特征在于,信号同步设备配置为:接收由冷检装置检测到待拍摄产品时输出的冷检信号;以接收到第一个冷检信号时为起始时刻,生成头帧触发信号,将头帧触发信号输出到相机组;以接收到最后一个冷检信号时为终止时刻,生成尾帧触发信号,将尾帧触发信号输出到相机组,带来了以下有益效果1、本电路板发明使冷检信号和帧触发信号产生关联。2、具有延迟尾部拍摄功能,能够完整拍摄出一根钢板的全部图像。3、更加贴合业务应用。
  • 一种基于触发控制信号同步方法

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