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本网专利代理业务由天津创信方达专利代理事务所(普通合伙)承接机构代码：12247 本网专利代理业务由天津创信方达专利代理事务所(普通合伙)承接机构代码：12247 本网专利代理业务由天津创信方达专利代理事务所(普通合伙)承接机构代码：12247

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专利名称

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申请人
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农业化学；冶金建筑机械工程区域搜索

主分类

B 作业；运输

C 化学；冶金

D 纺织；造纸

E 固定建筑物

F 机械工程、照明、加热

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公布日期

2023-10-24 公布专利

2023-10-20 公布专利

2023-10-17 公布专利

2023-10-13 公布专利

2023-10-10 公布专利

2023-10-03 公布专利

2023-09-29 公布专利

2023-09-26 公布专利

2023-09-22 公布专利

2023-09-19 公布专利

专利权人

国家电网公司

华为技术有限公司

中兴通讯股份有限公司

三星电子株式会社

中国石油化工股份有限公司

鸿海精密工业股份有限公司

松下电器产业株式会社

上海交通大学

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[发明专利]用于评价显示器的运动图像质量的系统和方法-CN200480015320.9有效
发明人： 冈宏一;江南世志 -专利权人：大塚电子株式会社
申请日： 2004-06-02 - 公布日： 2006-07-05 - 主分类号： G09G3/00 文献下载
摘要：随着图像传感器的视场追踪测试模型的运动而在用于测量的屏幕5上移动测试模型以便观察BEW。然后，以与上述观察中相同的速度V_c移动图像传感器的视场33以捕捉静态模型PE，并观察捕捉到的图像的分布图中出现的滚动方向上的模糊宽度W。基于所述模糊宽度W和用于捕捉静态模型PE的图像的图像传感器的曝光时间，估算BEW观察过程中测试模型的运动速度，利用所述运动速度将BEW标准化。利用标准化后的N BEW来对屏幕的运动图像质量进行评价。由此可以容易地且准确地估算出原始测试模型的运动速度，因此可以准确地评价屏幕的运动图像质量。
用于评价显示器运动图像质量系统方法

[发明专利]画面的运动图像质量测量评价装置和方法-CN03826714.4有效
发明人： 冈宏一;江南世志 -专利权人：大塚电子株式会社
申请日： 2003-06-30 - 公布日： 2006-06-14 - 主分类号： H04N13/04 文献下载
摘要：本发明提供一种画面的运动图像质量测量评价装置，具有：可旋转的反射镜(2)；通过反射镜(2)对画面进行拍摄的摄像机(3)；控制部(6)，控制部(6)如果根据画面(5)的亮度变化检测出在画面(5)上放映的运动图像所包含的测量图案通过了画面(5)的规定位置，则在该检测时刻，向反射镜(2)提供旋转时机，在反射镜(2)开始旋转之后，控制反射镜(2)使其追随该测量图案的运动而旋转，即使不取得反射镜(2)的旋转与运动图像信号的电气同步，也可以向反射镜(2)提供旋转时机，从而可以利用简单的结构，来测量画面的运动图像质量。
画面运动图像质量测量评价装置方法

[发明专利]气体中杂质的定量方法及装置-CN200510084614.3无效
发明人： 冈宏一;新田哲士 -专利权人：大塚电子株式会社
申请日： 2005-07-15 - 公布日： 2006-01-18 - 主分类号： G01N21/35 文献下载
摘要：本发明涉及气体中杂质的定量方法及装置。从气体中除去杂质、导入容器15、透过容器15光的强度作为参照实施测定。将含已知浓度杂质的气体导入同一容器15，保持同温同压，测定透过容器15光的强度，由上述两次测定所得的光强度之比求杂质的吸光度。此杂质吸光度作为杂质浓度函数记忆在存储器20a中。将含未知浓度杂质的气体导入容器15，保持同温同压，测定透过容器15的光强度，求经此测定所得杂质对上述参照的吸光度，此吸光度应用于上述函数、求杂质浓度。
气体杂质定量方法装置

[发明专利]评估移动图像显示质量的测量系统描述-CN03825722.X有效
发明人： 冈宏一 -专利权人：大塚电子株式会社
申请日： 2003-06-06 - 公布日： 2006-01-11 - 主分类号： H04N17/04 文献下载
摘要：公开了一种系统，该系统包括一个可旋转的镜子2，一个通过镜子2拍摄屏幕5图像的照相机3，一个具有覆盖部分屏幕5的探测范围的光电探测器4，和一个控制部件6。当光电探测器4探测到包含在显示在屏幕5上的移动图像中的测量模式时，光电探测器4输出探测信号。基于这个探测信号，控制部件触发镜子2旋转，并且在镜子2开始旋转后，控制部件6旋转，以使镜子2追随测量模式的运动进行旋转。不需凭借镜子旋转的电子同步和移动图像信号，就可以获得跟踪照相机3的探测器平面上的移动图像运动的图像，并用一种简单的结构来测量移动图像的显示质量。
评估移动图像显示质量测量系统描述

[发明专利]光学管测量装置-CN200510078909.X无效
发明人： 冈宏一;新田哲士 -专利权人：大塚电子株式会社
申请日： 2005-06-16 - 公布日： 2005-12-21 - 主分类号： G01N21/31 文献下载
摘要：具备照射出在某一波长范围扩展的光线的光源S、使从上述光源照射出的光线发生反射的第1反射镜M1、引导上述被第1反射镜反射的光线的长光程气管1、从上述长光程气管射出的光线发生反射的第2反射镜M2、以及检测被上述第2反射镜反射的光线的传感器D，并且在上述光源S到上述传感器D的光程间，设置了具有在与光程正交的2偏振方向(X、Y)间焦距不同的双聚焦特性的透镜21、22。补偿设置在气管1内部的球面镜6、7的像差，使得气管1的光线透过率不会降低。
光学测量装置

[发明专利]光谱测量仪-CN01811473.3有效
发明人： 冈宏一;大川内真 -专利权人：大塚电子株式会社
申请日： 2001-06-19 - 公布日： 2004-10-27 - 主分类号： G01J3/28 文献下载
摘要：在本发明的光谱测量仪中，检测器(13)的检测表面(13a)是一个二维检测表面并且从分光镜出来的谱光照射在检测表面(13a)上的A区。在检测表面(13a)除了谱光照射的A区以外其它区的信号强度从A区的信号强度中被减去。因此有可能以这样的方式来处理检测信号以获取准确的光谱强度信号，即消除在光谱测量仪内产生的漫射光和由在检测单元表面发生的反射及衍射所产生的无用光的不利影响。
光谱测量仪

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