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[发明专利]离子化方法和离子化装置、以及成像分析方法和成像分析装置-CN201680090736.X有效
发明人：谷口谦一;内田刚史;糸井弘人 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2016-11-18 - 公布日： 2022-04-26 - 主分类号： G01N27/62 文献下载
摘要：本发明提供使试样附着于具有导电性的探头(11)的顶端、对所述探头(11)施加离子化电压而对试样(21)赋予电荷从而使其离子化的离子化方法。在离子化方法中，实施使探头(11)的表面均质化的处理，使试样(21)附着于探头(11)的顶端，对探头(11)施加离子化电压而对试样(21)赋予电荷从而使其离子化。能够通过使探头(11)发生电晕放电等来进行使探头(11)的表面均质化的处理。
离子化方法装置以及成像分析

[发明专利]探针电喷雾离子化离子源用样本板-CN201780090310.9有效
发明人：村田匡;内田刚史;绪方是嗣 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2017-05-31 - 公布日： 2022-03-29 - 主分类号： G01N27/62 文献下载
摘要：本发明提供一种探针电喷雾离子化离子源用样本板。固体试样用样本板包含平板状的本体及盖体。在本体中形成其底面中央膨出为圆柱状而成为试样置台部的凹部，在盖体中，在凹部的正上方贯穿设置有下表面开口的直径与试样置台部的直径大致相同且为漏斗状的开口。若在凹部内收纳生物体组织切片等试样且关闭盖体，则盖体的开口周围的下表面壁将试样向下按压，试样由所述下表面壁与试样置台部夹持。在由所述试样堵塞下表面开口的开口中注入离子化用溶剂。测定时，下降的探针刺入试样中，探针上升时，在附着于其尖端的试样上附着溶剂。由此，可在将试样固定的状态下反复在相同位置刺入探针，另外，因在试样上附着充分的溶剂，故而离子化也良好地进行。
探针喷雾离子化离子源样本

[发明专利]气相色谱质量分析装置-CN201980097251.7在审
发明人：佐藤秀树;内田刚史 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2019-06-10 - 公布日： 2022-01-14 - 主分类号： H01J49/04 文献下载
摘要：一种气相色谱质量分析装置，其特征在于，具备：气相色谱部，具有对试样进行成分分离的色谱柱；质量分析部，设置于真空外壳内；接口部，将由所述气相色谱部进行了成分分离的试样导入至所述质量分析部，所述接口部具备：分隔壁部，以堵塞形成于所述真空外壳的开口的方式固定于所述真空外壳；管系，以内外贯通所述分隔壁部的方式固定于所述分隔壁部，内包所述色谱柱的试样出口侧管线而将所述试样导入至所述质量分析部；加热部，沿轴向加热所述管系；固定部，在使所述加热部与所述分隔壁部接触的状态下固定所述加热部。
色谱质量分析装置

[发明专利]质量分析装置以及质量分析方法-CN201980091333.0在审
发明人：影山辽;内田刚史;西口克;下村学 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2019-02-15 - 公布日： 2021-09-17 - 主分类号： H01J49/04 文献下载
摘要：本发明涉及一种质量分析装置，具备在内部配置有离子化部、质量分离部与检测部的真空容器，该质量分析装置具备：开闭部，设置于真空容器，利用真空容器的内部与外部的压力差来切换以关闭状态锁定的状态与锁定解除的状态；冷却用气体导入部，将用于冷却离子化部的冷却用气体导入真空容器，从而保持开闭部的锁定的状态。
质量分析装置以及方法

[发明专利]电子设备以及搭载了该电子设备的指纹认证装置-CN201980019503.4在审
发明人：岩本敬;内田刚史 -专利权人：株式会社村田制作所
申请日： 2019-02-28 - 公布日： 2020-11-03 - 主分类号： G06T1/00 文献下载
摘要：电子设备(100)具备：第1基板(120)，在内部形成有布线图案；第2基板(160)，形成有外部端子；第1电子器件(141)，配置在第1基板的第1面；第2电子器件(110)，配置在第1基板的第2面；密封层(130)，密封第1电子器件；以及导电部(150)，配置在密封层内。第2电子器件与第1电子器件电连接。导电部将第1基板和第2基板电连接。在密封层的端部形成有露出了导电部的台阶部(170)，第2基板配置在台阶部。第2基板和第1基板之间的厚度方向的距离比第1基板的第1面和第1电子器件中的与第1基板相反侧的面之间的距离短。
电子设备以及搭载指纹认证装置

[发明专利]陶瓷芯体、绕线式电子部件以及陶瓷芯体的制造方法-CN201710329226.X有效
发明人： 内田刚史;仓挂晓;石塚一嘉;吉井和弘 -专利权人：株式会社村田制作所
申请日： 2017-05-11 - 公布日： 2020-03-06 - 主分类号： H01F27/255 文献下载
摘要：本发明提供能够实现小型并且扩大绕线区域的陶瓷芯体、绕线式电子部件以及陶瓷芯体的制造方法。陶瓷芯体(20)具有沿长度方向(Ld)延伸的轴芯部(30)和设置于轴芯部(30)的长度方向(Ld)的两端并朝向与长度方向(Ld)正交的高度方向(Td)和宽度方向(Wd)向轴芯部(30)的四周突出的一对凸缘部(40)。陶瓷芯体(20)的沿着长度方向(Ld)的长度尺寸L为0mm＜L≤1.1mm。轴芯部(30)的沿着高度方向(Td)的厚度尺寸t与凸缘部(40)的沿着高度方向(Td)的高度尺寸T之比t/T为0＜t/T≤0.6。轴芯部(30)的沿着宽度方向(Wd)的宽度尺寸w与凸缘部(40)的沿着宽度方向(Wd)的宽度尺寸W之比w/W为0＜w/W≤0.6。
陶瓷绕线式电子部件以及制造方法

[发明专利]陶瓷芯体、绕线式电子部件以及陶瓷芯体的制造方法-CN201710329083.2有效
发明人： 内田刚史;石塚一嘉 -专利权人：株式会社村田制作所
申请日： 2017-05-11 - 公布日： 2019-06-21 - 主分类号： H01F27/255 文献下载
摘要：本发明提供一种能够抑制合格率的降低的陶瓷芯体、绕线式电子部件以及陶瓷芯体的制造方法。由包含Ni和Zn的铁氧体材料构成的陶瓷芯体(20)具有沿长度方向(Ld)延伸的轴芯部(30)和设置于轴芯部(30)的长度方向(Ld)的两端的一对凸缘部(40)。陶瓷芯体(20)的沿着长度方向(Ld)的长度尺寸(L)为0mm＜L≤1.1mm。轴芯部(30)的棱线部(30R)的表面粗糙度为，以表面粗糙度(Rz)计为2.5μm以下。
陶瓷绕线式电子部件以及制造方法

[发明专利]质谱分析装置-CN201480081282.0在审
发明人：上田浩子;内田刚史 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2014-08-20 - 公布日： 2017-04-19 - 主分类号： G01N27/62 文献下载
摘要：本发明在将PESI离子源的探针(6)刺入试样(9)之前，在从高电压产生部(12)对探针(6)不施加电压的状态和施加有电压的状态下分别测定总离子流。若探针(6)恰当地安装在支架(5)上，则电压施加会使得探针(6)顶端周围的空气中的成分离子化，因此，这会反映到总离子流中。因此，不施加电压时与施加电压时的总离子流会产生较大差异。另一方面，若探针(6)未恰当地安装，则不施加电压时与施加电压时的总离子流不会产生明显差异。探针安装判定部(24)以正常时求出的阈值为基准来判定总离子流差，由此检测探针(6)的安装不良，若有安装不良，则将错误信息输出至显示部(42)。由此，能可靠地检测探针(6)的安装不良、脱落，从而可避免执行无用的测定、伴随时间经过的生物体试样的劣化等。
谱分析装置

[发明专利]压电装置的制造方法-CN201410072257.8无效
发明人： 内田刚史;吉村崇弘 -专利权人：日本电波工业株式会社
申请日： 2014-02-28 - 公布日： 2014-09-10 - 主分类号： H03H3/02 文献下载
摘要：本发明提供一种压电装置的制造方法，将压电振动器安装在涂布于基板的表面的焊料上，所述压电振动器具有：金属壳体、及从所述金属壳体引出的至少一对引线端子。引线端子包括：第1部分、第2部分、及第3部分。压电装置的制造方法包括：涂布步骤，将膏状焊料涂布在基板的表面的与金属壳体对应的壳体区域、及与第3部分对应的引线区域；设置步骤，将面积小于壳体区域的块状焊料设置在壳体区域；配置步骤，将压电振动器的金属壳体配置在壳体区域，且将第3部分配置在引线区域；及加热步骤，用回焊炉对基板及压电振动器进行加热。
压电装置制造方法

[发明专利]恒温型晶体振荡器-CN200510070833.6无效
发明人：伊藤学;福田稔;工藤铁男;内田刚史 -专利权人：日本电波工业株式会社
申请日： 2005-05-19 - 公布日： 2005-11-23 - 主分类号： H03B5/04 文献下载
摘要：其中在用于高稳定性的恒温型的导线引出型晶体振荡器中，本发明是这样的晶体振荡器，其包括：供热体，其给一个从其中引出了多条导线的晶体谐振器供热以保持温度恒定；振荡元件，其与所述晶体谐振器一起构成了振荡电路；温控元件，其构成了用于控制所述晶体谐振器的温度的温控电路；以及用于安装所述供热体、所述振荡元件和所述温控元件的电路板，并且为了安装所述晶体谐振器的导线穿过该电路板，所述供热体包括：导热板，其具有用于所述导线的通孔，并且安装在所述电路板上，并且其表面直接热连接到所述晶体谐振器上；和用于加热的片状电阻器，其安装在与所述导热板相邻的所述电路板上，并且其与所述导热板热连接。
恒温晶体振荡器

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