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- [发明专利]环状产品的外观检查装置-CN202310252782.7在审
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松井公児;佐佐木浩一
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第一实业威视博株式会社
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2023-03-14
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2023-09-19
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G01N21/892
- 本发明提供一种能够检查环状产品的外侧面的较大区域的外观的外观检查装置。所述外观检查装置具备：输送装置，其将供给到玻璃板(11)上的检查对象物K朝向该玻璃板11的旋转方向输送；外侧面拍摄装置(60)，其在外侧面拍摄位置(P5)拍摄检查对象物(K)；以及判定装置(110)，其根据拍摄的图像判定检查对象物K的外观的好坏。外侧面拍摄装置(60)具备检查用照明部(65)和配置于其周围的三个拍摄部(61)。各拍摄部(61)具备：第一以及第二镜(64a、64b)，所述第一以及第二镜(64a、64b)从检查用照明部(65)的下方接受来自检查对象物(K)的外侧面的反射光；第三镜(64c)，其将来自第一以及第二镜(64a、64b)的反射光朝向上方反射；以及拍摄摄像机(62)，其配置于第三镜(64c)的上方。
- 环状产品外观检查装置
- [发明专利]排列装置-CN202210266105.6在审
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佐佐木浩一;冈本康生;片山耕平
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第一实业威视博株式会社
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2022-03-17
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2022-09-27
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B65G47/14
- 提供一种效率比以往高、能够将对象物排列成一列送出的排列装置。该排列装置具备：作为上端面的输送面(35a)以角度(θ1)朝向外周成为下倾面的圆筒输送体(35)、将圆筒输送体(35)支承为能够旋转的机壳(12)、位于圆筒输送体(35)内并能够旋转地支承于机壳(12)的旋转体(40)、以及使圆筒输送体(35)以及旋转体(40)旋转的旋转驱动部(25、30)。圆筒输送体(35)的旋转中心轴(35b)相对于铅垂轴(av)以与输送面(35a)相同的角度(θ1)倾斜，旋转体(40)的旋转中心轴朝向与圆筒输送体(35)的旋转中心轴(35b)相反的一侧倾斜。旋转体(40)的上端缘与圆筒输送体(35)的输送面(35a)相邻。机壳(12)具有在滑动连接的状态下引导对象物(T)的圆弧状的引导面(15a)，所述对象物(T)在圆筒输送体(35)的旋转方向上从连接部(P1)朝向送出部(P2)输送。
- 排列装置
- [发明专利]检查装置-CN202110296494.2在审
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佐佐木浩一;松田晋也;加藤秋久
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第一实业威视博株式会社
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2021-03-19
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2021-10-01
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G01N21/956
- 本发明提供一种专用于检测在电子零部件的电极部上存在的缺损、剥离的检查装置。具有输送被检查物(W)的输送机构(2)、被配设在被检查物(W)侧的第一照明机构(5)及被配设在相反侧的第二照明机构(25)、和被配设在被检查物(W)侧来拍摄被检查面(Wa)的拍摄摄像头(4)。第一照明机构(5)将接近输送路径的第一发光器(16)设置在比另一组第一发光器(12)远离检查位置(P)的位置。第二照明机构(25)被配设在隔着输送片材(3)而与第一照明机构(5)面对称的位置，具有接近输送路径的第二发光器(36)和另一组第二发光器(32)。第一照明机构(5)的第一发光器(16)和第二照明机构的第二发光器(36)的1/2光束角位于30°～80°的范围内，第一照明机构(5)的第一发光器(12)和第二照明机构(25)的第二发光器(32)的1/2光束角位于10°～25°的范围内。
- 检查装置
- [发明专利]排列供给装置-CN202110211434.6在审
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辻尾立志;佐佐木浩一;片山耕平;冈本康生
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第一实业威视博株式会社
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2021-02-25
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2021-09-03
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B65G47/26
- 本发明提供一种排列供给装置。具有：转盘(2)，将排列对象物(K)沿旋转方向输送；向外导向部(7)，将转盘(2)上的排列对象物(K)向外周侧引导；外周导向部(8)，将由向外导向部(7)引导的排列对象物(K)沿圆弧形的引导面引导；排出导向部(15)，由第一引导部件(16)、第二引导部件(17)和第三引导部件(18)构成，所述第一引导部件(16)一端连接于外周导向部(8)的引导终端(11b)，另一端向转盘(2)的外侧延伸设置；所述第二引导部件(17)与第一引导部件(16)相向配置；所述第三引导部件(18)被设置在第一引导部件(16)与第二引导部件(17)之间。第三引导部件(18)的下表面成为朝向第一引导部件(16)的向上倾斜面，排列对象物(K)被导入第三引导部件(18)的下表面与第一引导部件(16)之间之后，被向转盘(2)的外侧排出。即使是静止姿势不稳定的物品也能以成为规定姿势的方式排列成一排。
- 排列供给装置
- [发明专利]环形产品的外观检查装置-CN202011017532.8在审
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佐佐木浩一;松田晋也
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第一实业威视博株式会社
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2020-09-24
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2021-03-26
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G01N21/892
- 本发明提供一种能够高精度地检测环形树脂产品的外观的外观检查装置。该外观检查装置具有：输送装置，其使圆板形的玻璃板(11)水平旋转，将被供给到该玻璃板(11)上的检查对象物(K)沿旋转方向输送；表面拍摄装置(20)，其拍摄由输送装置输送的检查对象物(K)的表面；和判定装置，其对由表面拍摄装置(20)拍摄到的图像进行处理，判定检查对象物(K)的外观是否良否。表面拍摄装置(20)具有：表面拍摄摄像头(21)，其在表面拍摄位置(P1)被配置在上方；表面侧蓝色照明部(22)，其被配置在表面拍摄摄像头(21)与玻璃板(11)之间，向检查对象物(K)的表面照射蓝色光；表面侧红色照明部(25)，其被配置在表面侧蓝色照明部(22)与玻璃板(11)之间，对检查对象物(K)的表面侧的外周面及内周面进行照明；表面检查用绿色照明部(26)，其被配置在玻璃板(11)的下方，向上方照射绿色光。
- 环形产品外观检查装置
- [发明专利]检查装置-CN202010052728.4在审
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佐佐木浩一;松田晋也;加藤秋久
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第一实业视检系统股份有限公司
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2020-01-17
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2020-07-28
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G01N21/01
- 本发明提供一种通过不使被检查物的端面的接触痕迹显示于拍摄图像，能够高精度地检查端面的外观性状的检查装置。本发明的检查装置具备：搬送被搬送物(W)的搬送机构；第1照明机构，对被检查物的被检查面进行照明；及摄像机，拍摄被检查面。第1照明机构具备对被检查面进行照明的发光器、及支撑发光器的支撑体，支撑体在比另外一组发光器远离检查位置的位置上支撑最靠近搬送路径的发光器。在远离的发光器与另外一组发光器之间形成能够自与检查位置相反一侧的背面观察被检查面的空间，摄像机通过该空间拍摄被检查面。远离的发光器的1/2波束角处于30°～80°的范围内，另外一组发光器的1/2波束角处于10°～25°的范围内。
- 检查装置
- [发明专利]检查装置-CN201380073441.8在审
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佐佐木浩一;松田晋也;加藤秋久
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第一实业视检系统股份有限公司
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2013-12-25
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2015-10-28
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G01B11/24
- 该检查装置1具有：用于搬运被检查物W的搬运机构2；于检查位置P中，用于照明通过搬运机构2所搬运的被检查物W的被检查面Wa的第1照明机构5；及用于拍摄被检查面Wa的摄影照相机4。其中第1照明机构5具有用于照明被检查面Wa的多个发光器12，20；及用于支撑该发光器12，20的支撑体6，13。支撑体13是构成至少与其它一群的发光器12相比，在隔离检查位置P的位置来支撑离搬运路径最近的发光器20。于隔离的发光器20及其它一群发光器12之间，形成可从与检查位置P的另一侧的背面观察到被检查面Wa的空间18，摄影照相机4可透过该空间来拍摄到被检查面Wa。
- 检查装置
- [发明专利]晶片式LED检查装置-CN201110165533.1有效
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松田晋也;佐佐木浩一
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第一实业视检系统股份有限公司
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2011-06-20
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2012-01-11
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G01N21/956
- 本发明课题为提供一种检查装置，可正确地侦测存在于晶片式LED(CHIPLED)的密封树脂部的不透光性异物。课题的解决方法为，具备支持晶片式LED50的支持构件5；照亮晶片式LED50表面的上部照明机构10；拍摄晶片式LED50的表面侧的影像的相机6；解析拍摄影像，并判定异物的有无的判定部8。上部照明机构10，由：具备呈穹顶状的本体及配置于该穹顶本体内的复数个光源，凭借从穹顶本体的下面开口部往下方照射出来的光线间接照亮其下方的第1照明部；与具备呈环状的本体及配置于环状本体下面的复数个光源，凭借从此光源照射出来的光线直接照亮其下方的第2照明部所构成。相机6配置于第1照明部的上方，通过其拍摄用开口部，拍摄晶片式LED50的表面影像。
- 晶片led检查装置
- [发明专利]晶片式LED检查装置-CN201110165549.2有效
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松田晋也;佐佐木浩一
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第一实业视检系统股份有限公司
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2011-06-20
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2012-01-11
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G01N21/956
- 本发明提供一种晶片式LED检查装置，其是一种能够正确的检出晶片式LED(CHIP LED)密封树脂部所存在的缺损的检查装置。本检查装置包括支撑晶片式LED的透明板状或薄板状支撑部材，配设在支撑部材上方进行拍摄晶片式LED表面侧图像的相机，设在支撑部材下方位置挟住支撑部材并与相机相对的遮光板，设置在遮光板下方位置的照明机构。遮光板具有至少大于晶片式LED的大小，照明机构从遮光板的外侧透过通过支撑部材对晶片式LED的密封树脂部进行照明。本发明可以将相机拍摄下来的晶片式LED的图像设定为全部呈现为黑暗的图像，可对所获得的图像进行分析并判定有无缺损时，可以简单且正确地作出判断。
- 晶片led检查装置
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