本发明属于芯片测试技术领域，具体为一种低成本的芯片功能测试平台。解决了芯片测试引脚数量多、测试速度慢、测试时间长、测试成本高、测试设备要求高等问题。使用ARM芯片和FPGA芯片相结合搭建芯片功能测试平台，本平台的核心思想是通过内部的功能测试模块(FTM,Function Test Model)把ARM处理器无时序的指令转换为符合待测芯片时序要求的控制信号，并完成数据传输和测试。本平台对芯片的功能测试流程简单，只需要在PC上输入对应的测试操作命令，平台就自动执行测试程序，同时能够快速在PC上看到测试结果。该平台能够实现芯片的功能测试百分百覆盖，缩短了用户测试芯片的时间和芯片开发的周期，节约了成本。
