专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]物体检测装置和移动体-CN202110280215.3在审
  • 中村健翔;仲村忠司;岸和田润;安部一成 - 株式会社理光
  • 2021-03-16 - 2021-10-12 - G01S17/04
  • 本发明涉及物体检测装置和移动体,其目的在于光扫描装置中的偏转面的小型化。本发明的物体检测装置(100)具备用于发光的发光装置(11);使得用来偏转光的偏转面转动以扫描光的光扫描装置(13);经由光扫描装置向检测区域(500)投射光的投射光学系统(12);会聚受到检测区域中存在的物体反射的反射光和散射光之中至少一方的光的聚光光学系统(14);以及输出经过聚光光学系统会聚的反射光和散射光之中至少一方的光的受光信号的受光装置(15),聚光光学系统的聚光中心轴(14a)与投射光学系统的投射中心轴(12a)不平行。
  • 物体检测装置移动
  • [发明专利]目标探测器-CN201410124493.X有效
  • 仲村忠司;今井重明 - 株式会社理光
  • 2014-01-30 - 2017-04-12 - G01S7/481
  • 本发明涉及一种目标探测器。该目标探测器包括光源;光学系统,将从光源发出的光束转换成预定状态;偏转器,偏转和扫描穿过光学系统的光束,并且将光束照射到目标上;光电探测器,探测反射光或者散射光。光源的发光区的第一尺寸与光源发光区的第二尺寸是不同的,所述的第一尺寸是发光区在第一方向的第一宽度,所述第二尺寸是发光区在第二方向的第二宽度。同所述第一尺寸和第二尺寸中较小者对应的第一方向和第二方向中的一个方向与角分辩率较高的方向一致。
  • 目标探测器
  • [发明专利]光学测量设备和运载工具-CN201310338031.3有效
  • 仲村忠司;今井重明 - 株式会社理光
  • 2013-08-06 - 2014-02-12 - G01V8/10
  • 公开了一种光学测量设备,包括:第一光源;光学元件,聚集从第一光源发出的光束;光照射器,将光束照射到目标上;以及光电检测器,检测光束的从目标穿过成像系统的反射光或散射光,光束被照射到目标上,其中,从第一光源到通过光学元件形成的第一光源第一共轭象的第一光路长度与从光电检测器到通过成像系统形成的光电检测器第二共轭象的第二光路长度至少在第一方向上不同。
  • 光学测量设备运载工具
  • [发明专利]光扫描装置以及成像装置-CN201210113592.9有效
  • 增田宪介;今井重明;三宅信辅;仲村忠司 - 株式会社理光
  • 2012-04-17 - 2012-10-24 - G02B26/12
  • 本发明涉及光扫描装置以及成像装置,其目的在于在存在副扫描像面弯曲的情况下尽可能改善扫描线间距不均等,提高画质。光扫描装置(100)包括光源(1)、柱形镜(4)以及扫描镜(6),当以所述旋转多面镜(5)的主扫描方向和副扫描方向分别为第一方向和第二方向,并以同时垂直于该第一和第二方向的方向为第三方向时,满足关系式α2<α1、α3以及β2<β1、β3,或者,α2>α1、α3以及β2>β1、β3,其中,α1、α2、α3分别为旋转多面镜在扫描开始、中间、结束时从其转动中心到反射位置之间的距离,β1、β2、β3分别为旋转多面镜在扫描开始、中间、结束时从成像面到第二方向上光束会聚的傍轴焦点位置之间的距离。
  • 扫描装置以及成像
  • [发明专利]光扫描装置以及图像形成装置-CN201010537897.3有效
  • 宫武直树;仲村忠司 - 株式会社理光
  • 2010-10-27 - 2011-05-11 - G02B26/12
  • 本发明涉及光扫描装置以及图像形成装置,其目的在于简化斜入射方式的光扫描装置,有效控制波前像差增大,获得良好的光扫描。具体为在斜入射方式中,扫描透镜(5)为经过同一个偏转反射面偏转的多束扫描光束共同使用,并为单一透镜体,其位于偏转反射面一方的入射面(50)为单一入射面,而位于被扫描部一方的发射面则为对应于各个被扫描部且在副扫描方向分离为发射面(5A)、(5B),入射面(50)被形成为在副扫描方向的折射力随着接近主扫描方向的周边逐渐减小,发射面(5A)、(5B)被形成为在主扫描方向和副扫描方向上均具有正的折射力的面。
  • 扫描装置以及图像形成
  • [发明专利]光学扫描装置和图像形成装置-CN200810081752.X有效
  • 仲村忠司 - 株式会社理光
  • 2008-03-06 - 2008-10-29 - G02B26/10
  • 本发明涉及光学扫描装置和图像形成装置。在所述光学扫描装置中,光圈设置在光源单元中的半导体激光器与振动镜之间,并且设置在柱面透镜和振动镜之间。当来自半导体激光器的光束进入振动镜的反射面时,所构造的光学扫描装置通过使光束穿过光圈的开口将光束的束宽限制到适合于反射面的宽度,并且确保光束进入振动镜的反射面的沿主扫描方向的照射位置。本发明的图像形成装置包括有所述光学扫描装置。
  • 光学扫描装置图像形成
  • [发明专利]光扫描装置和图像形成装置-CN200810086599.X无效
  • 小岛晃;中岛智宏;仲村忠司 - 株式会社理光
  • 2008-03-19 - 2008-09-24 - G02B26/10
  • 本发明涉及一种包含能够以更简单的方式调整光束对振动镜照射的光扫描装置的图像形成装置。本发明的光扫描装置将光源所发出的光束照射至具有扭转梁的振动镜上,通过以该扭转梁为轴使该振动镜移动,该光束对目标对象进行光扫,该光扫描装置包含第一调整单元,该第一调整单元用于调整该振动镜相对于该光束的配置。本发明的图像形成装置在目标对象上形成图像,包含本发明第一方面所述的光扫描装置。
  • 扫描装置图像形成

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