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[发明专利]一种薄膜蒸镀过程中温度场的计算方法-CN202310755787.1在审
发明人： 仰振东;王金兵;汤泽波;樊申松;曹慧;周峰 -专利权人：安徽赛福电子有限公司
申请日： 2023-06-21 - 公布日： 2023-09-15 - 主分类号： G06F30/23 文献下载
摘要：本发明涉及薄膜蒸镀温度场计算领域，尤其涉及一种薄膜蒸镀过程中温度场的计算方法，包括：通过几何模型对薄膜进行网格划分，并获得薄膜的节点坐标，根据薄膜的节点坐标，并利用有限差分数值得到中心网格节点温度与周边网格节点温度之间的关系，根据热负载边界以及对流换热边界获得薄膜边界节点的温度方程，对计算矩阵进行迭代，直至得到标准计算时刻的温度场。本发明扩展了真空蒸镀中小面积蒸镀源模型，使其能够运用于轮毂传输蒸镀薄膜的实际应用场景中，推导了薄膜在运动过程中，薄膜上各点所承载的蒸镀热负载随时间的演化，解决了薄膜在蒸镀运动过程中热负载加载问题。
一种薄膜过程温度场计算方法

[发明专利]一种识别元器件缺损的图像识别方法及其系统-CN202010907371.3有效
发明人： 仰振东;储松潮;唐兵;周剑 -专利权人：安徽铜峰电子股份有限公司
申请日： 2020-09-02 - 公布日： 2023-04-18 - 主分类号： G06V20/62 文献下载
摘要：本发明公开了一种识别元器件缺损的图像识别方法，所述元器件图像识别方法，依次包括如下步骤：图像采集；图像预处理；缺损图像识别定位；识别结果显示。本发明还公开一种实施识别元器件缺损的图像识别系统，所述系统包括：图像采集模块、图像预处理模块、缺损图像识别定位模块及识别结果显示模块。本发明采用的偏振成像技术能够有效的消除由于材料反射光造成识别程序的失效，该图像识别系统的使用环境更为广泛；由于采用全局卷积算法处理，避免了传统字符识别匹配算法的复杂性，该识别算法具有更高的效率，具有较高的识别效率；采用分区域识别技术，所以不仅能够对图像的整体是否存在缺陷做出判断，还能给出缺损区域的位置以及缺损程度。
一种识别元器件缺损图像方法及其系统

[发明专利]一种运用红外相机检测部件内部接触热阻的无损检测方法-CN201610154598.9在审
发明人：许铁军;姚达毛;刘常乐;龚先祖;韩乐;仰振东;刘严伟;张斌 -专利权人：中国科学院等离子体物理研究所
申请日： 2016-03-17 - 公布日： 2016-09-28 - 主分类号： G01N25/20 文献下载
摘要：本发明公开了一种运用红外相机检测部件内部接触热阻的无损检测方法，目的是为测量EAST（Experimental Advanced Superconducting Tokamak）托卡马克装置低热负荷区域面对等离子体的部件内部零件间的接触热阻。本发明方法通过红外测温技术拍摄实验件外表面得到其温度随时间的演变过程，并基于有限元瞬态热分析方法对实验件的换热过程进行数值模拟，将不同接触热阻条件下的数值仿真结果与实验结果进行对比，两者结果大体相同时对应的接触热阻即为此部件内部接触热阻。本发明可以对具有冷却结构的部件内部零件间的接触热阻进行无损测量，提高了接触热阻测量的精度。
一种运用红外相机检测部件内部接触无损方法