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专利名称

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申请人
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农业化学；冶金建筑机械工程区域搜索

主分类

B 作业；运输

C 化学；冶金

D 纺织；造纸

E 固定建筑物

F 机械工程、照明、加热

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公布日期

2023-10-24 公布专利

2023-10-20 公布专利

2023-10-17 公布专利

2023-10-13 公布专利

2023-10-10 公布专利

2023-10-03 公布专利

2023-09-29 公布专利

2023-09-26 公布专利

2023-09-22 公布专利

2023-09-19 公布专利

专利权人

国家电网公司

华为技术有限公司

中兴通讯股份有限公司

三星电子株式会社

中国石油化工股份有限公司

鸿海精密工业股份有限公司

松下电器产业株式会社

上海交通大学

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[发明专利]侧流化验系统和方法-CN200610007342.1无效
发明人：帕特里克·T·皮特鲁诺;约翰·F·派特瑞拉;迈克尔·J·布罗斯南;周荣;丹尼尔·B·罗伊特曼 -专利权人：安捷伦科技有限公司
申请日： 2006-02-09 - 公布日： 2006-10-25 - 主分类号： G01N33/50 文献下载
摘要：在一个方面中，本发明公开了一种诊断测试系统，包括壳体、读取器和数据分析器。壳体包括用于接收测试带的端口。读取器从检测区的被曝光来进行光学检查的区域的局部区域获取可区分的光强测量值，其中局部区域的每一个由小于第一尺寸的至少一个表面尺寸所表征。数据分析器识别光强测量值中从至少一个测试区域获取的多个光强测量值，并且从识别出的多个光强测量值计算至少一个参数。在另一个方面中，读取器从检测区的曝光表面区域的多个相应区域中的每一个获取各组光强测量值，并且数据分析器从多组光强测量值中的至少一组计算至少一个参数。
流化系统方法

[发明专利]读写化验系统-CN200510124303.5无效
发明人：约翰·弗朗西斯·派特瑞拉;帕特里克·T·皮特鲁诺;丹尼尔·B·罗伊特曼;周荣;迈克尔·约翰·布罗斯南 -专利权人：安捷伦科技有限公司
申请日： 2005-11-28 - 公布日： 2006-06-07 - 主分类号： G01N35/00 文献下载
摘要：本发明提供了一种读写化验系统，包括：提供化验设备；以及将化验设备信息写入到化验设备，以用于后续的如下操作：从化验设备读取化验设备信息；或者利用化验设备执行化验，以及随后执行以下操作：将化验相关信息写入到化验设备，或者从化验设备读取化验相关信息。
读写化验系统

[发明专利]多路复用光探测系统-CN200510085155.0无效
发明人：格雷戈里·D·范维格瑞恩;道格拉斯·M·巴内;格雷厄姆·M·弗劳尔;丹尼尔·B·罗伊特曼 -专利权人：安捷伦科技有限公司
申请日： 2005-07-21 - 公布日： 2006-02-01 - 主分类号： G01N21/17 文献下载
摘要：本发明涉及一种多路复用光探测系统。多路复用光探测器包括耦合至多路复用器的一组光传感器，该多路复用器将光传感器的子集映射至由多路复用器提供的至少一个多路复用输出。光传感器的子集可根据提供给多路复用器的地址来进行配置。
多路复用探测系统

[发明专利]光电子快速诊断测试系统-CN200510059892.3无效
发明人：帕特里克·T·皮特鲁诺;丹尼尔·B·罗伊特曼;周荣;罗伯特·E·威尔逊;陈叶 -专利权人：安捷伦科技有限公司
申请日： 2005-04-01 - 公布日： 2005-10-05 - 主分类号： G01N33/50 文献下载
摘要：本发明公开了使用一次性模块的快速诊断测试系统或方法，该一次性使用模块包括光电检测器。光电检测器产生表示对来自介质上的测试区域的光的测量结果的电信号，介质比如为用于结合分析的横流片。对于光测试，测试介质可以包含将比如量子点的持久性荧光结构附着到目标分析物的标定物质，使得光电检测器可以测量荧光。使用多个光电检测器和分离或过滤波长对应于不同荧光标定物质的光的光学系统可以同时对多个分析物进行测试。一次性使用模块可以包括显示装置或LED以可视地指示测试结果，或电信号可以被输出以在可重复使用模块中处理。
光电子快速诊断测试系统

[发明专利]目标的光相位测量-CN200510000160.7无效
发明人：格雷戈里·D·范维格瑞恩;丹尼尔·B·罗伊特曼 -专利权人：安捷伦科技有限公司
申请日： 2005-01-04 - 公布日： 2005-09-14 - 主分类号： G01J9/00 文献下载
摘要：本发明提供了用于目标的光相位测量的装置和方法。光相位检测包括产生具有第一偏振的第一光波和具有从第一偏振偏移的第二偏振的第二光波，并在第一和第二光波之间施加相对延迟。当波长在指定波长范围上被调谐时，相对延迟引起光波之间的频率偏移。将第一和第二光波引导到目标上，来提供第三光波和第四光波。第三光波的偏振分量和第四光波的偏振分量被检测，以提供在频率偏移处的检测信号。光相位检测然后还包括提取由目标引入的在第三和第四光波的偏振分量之间的相位差。
目标相位测量

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