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[发明专利]电阻焊钢管内的金属残留物检测方法和装置-CN201880091214.0在审
发明人：铃间俊之;中尾喜之 -专利权人：日本制铁株式会社
申请日： 2018-09-27 - 公布日： 2020-10-30 - 主分类号： G01N27/72 文献下载
摘要：本发明的电阻焊钢管内的金属残留物检测方法包括：第1工序，在该第1工序，使电阻焊钢管一边在长度方向相对移动一边插通于励磁线圈，通过励磁线圈，以能将电阻焊钢管和金属残留物磁化到磁饱和状态的磁场强度将电阻焊钢管直流磁化；以及第2工序，在该第2工序，使电阻焊钢管一边在长度方向相对移动一边插通于检测线圈，将随着第1工序中的励磁线圈的直流磁化所产生的磁通的变化而在检测线圈产生的感应电动势作为检测线圈的输出信号检测，基于检测线圈的输出信号来检测存在于电阻焊钢管内的金属残留物。
电阻钢管金属残留物检测方法装置

[发明专利]磁探伤方法以及磁探伤装置-CN201280040270.4有效
发明人：铃间俊之;中尾喜之;阪本诚;太田祥之 -专利权人：新日铁住金株式会社
申请日： 2012-08-15 - 公布日： 2014-04-16 - 主分类号： G01N27/83 文献下载
摘要：本发明提供一种磁探伤方法以及磁探伤装置，其通过解决在仅使直流磁场作用的情况下磁化单元大型化的问题、在仅使交流磁场作用的情况下被探伤件发热的问题，并且将被探伤件磁化到磁饱和状态为止，从而能够高精度地检测损伤。本发明的磁探伤装置(100)具备：第一磁化单元(1)，其使直流的偏置磁场与检测对象损伤(F)延伸的方向大致平行地作用于被探伤件(P)；第二磁化单元(2)，其使交流磁场与检测对象损伤(F)延伸的方向大致垂直地作用于被探伤件(P)；检测单元(3)，其检测通过由上述第一磁化单元(1)和上述第二磁化单元(2)磁化被探伤件(P)而产生的泄漏磁通。
探伤方法以及装置

[发明专利]旋转涡电流探伤探头-CN201010192557.1有效
发明人：日比野俊;藤本贵司;行方重树;小松庆亮;中尾喜之;高田真;阪本诚 -专利权人：码科泰克株式会社;住友金属工业株式会社
申请日： 2010-05-24 - 公布日： 2010-11-24 - 主分类号： G01N27/90 文献下载
摘要：一种在旋转圆盘上安装多个Θ型涡电流探伤探头的旋转涡电流探伤探头，可以与瑕疵的方向无关地检测全部方向的瑕疵。4个Θ型涡电流探伤探头(P11～P22)被配置在旋转圆盘(111)的旋转中心(Ds1)的周围，并被埋入旋转圆盘(111)内。这些涡电流探伤探头(P11～P22)的检测线圈(Dc11～Dc22)的线圈面互相平行配置，而且与旋转圆盘(111)的旋转面垂直。这些检测线圈的线圈面相对于通过涡电流探伤探头(P11、P12)的中心(Ps11、Ps12)的直线(Y1)倾斜θ。检测线圈(Dc11、Dc12)被和动连接，检测线圈(Dc21、Dc22)被差动连接。
旋转电流探伤探头

[发明专利]涡流探伤方法和涡流探伤装置-CN200910261679.9无效
发明人：日比野俊;藤本贵司;小松庆亮;中尾喜之;高田真;阪本诚 -专利权人：码科泰克株式会社;住友金属工业株式会社
申请日： 2009-12-24 - 公布日： 2010-08-04 - 主分类号： G01N27/90 文献下载
摘要：本发明提供涡流探伤方法和涡流探伤装置。该涡流探伤方法具有将检测线圈配置在励磁线圈内的能旋转的涡流探伤探头，用于缩小由检测线圈的旋转位置的变化所引起的检测灵敏度的变化(检测灵敏度偏差)。其中，涡流探伤探头包括安装在圆盘(DS)上的励磁线圈(EC1)、检测线圈(DC1)以及励磁线圈(EC2)、检测线圈(DC2)。当在圆筒状的被检查体(T)的周面上设置涡流探伤探头、并使圆盘(DS)旋转时，由于检测线圈(DC1、DC2)与检查面之间的距离(离开量)发生变化，因此伤痕信号的检查灵敏度也发生变化。为了缩小检测灵敏度的变化，对检测线圈(DC1、DC2)的旋转位置(旋转角度)进行检测而调整检测灵敏度。
涡流探伤方法装置

[发明专利]管内面涡流探伤中的S/N比测量方法-CN200680040825.X有效
发明人：木野村庄司;中尾喜之;小鲷俊也;西山愁吾 -专利权人：住友金属工业株式会社
申请日： 2006-10-27 - 公布日： 2008-11-05 - 主分类号： G01N27/90 文献下载
摘要：本发明所涉及的方法的特征在于，包括以下步骤：将涡电流信号分离为X轴成分和Y轴成分，获取各成分的信号波形数据的步骤；从上述所获取的信号波形数据中分别排除规定的低频成分的步骤；根据排除上述低频成分而得到的X轴成分和Y轴成分的信号波形数据的电压值X(i)和Y(i)来运算用下面的式(1)定义的噪声电压值V1的步骤；以及将与人为缺陷对应的涡电流信号的电压值D除以上述噪声电压值V1来算出S/N比的步骤。如式(1)，在此，n为信号波形数据的采样数。
内面涡流探伤中的测量方法