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[发明专利]组件安装系统-CN200980127538.6有效
发明人：戒田健一;东升;永尾和英;粟田义明;角英树 -专利权人：松下电器产业株式会社
申请日： 2009-07-09 - 公布日： 2011-06-15 - 主分类号： H05K13/00 文献下载
摘要：提供了组件安装系统，其中，一个操作员可执行基板的修理工作和所述基板上检测到的缺陷部分的真/假判定工作，由此增强了工作效率。由基板(PB)的外观检查检测到的基板(PB)上的缺陷部分(N)的图像被显示在图像显示器(6)上。在修理台(4)执行基板(PB)的修理工作的操作员基于在图像显示器(6)上显示的所述缺陷部分(N)的图像来判定所述缺陷部分(N)是否是真正的缺陷部分(N)，并通过输入设备(7)输入判定结果。在检测到的所述基板(PB)上的缺陷部分(N)之中，在通过输入设备(7)输入的判定结果中被表示为真正的缺陷部分(N)的所述缺陷部分(N)在所述图像显示器(6)上被显示为需要修理的部分。所述图像显示器(6)和输入设备(7)被提供于在修理台(4)执行基板(PB)的修理工作的操作员能够看到图像或能够操作的位置。
组件安装系统

[发明专利]基板检查设备与基板检查方法-CN200980108983.8有效
发明人：戒田健一;东升;粟田义明;永尾和英;角英树 -专利权人：松下电器产业株式会社
申请日： 2009-03-13 - 公布日： 2011-02-09 - 主分类号： H05K13/04 文献下载
摘要：当未通过再输入开关的操作设置再输入模式时，对要在其上安装零件的所有零件安装位置执行零件安装前的检查；当由再输入开关设置了再输入模式时，首先使辨识相机辨识零件安装位置并接着执行检查零件安装位置上是否安装了零件的零件存在性检查处理；并且，对其上未安装零件的零件安装位置执行零件安装前的检查处理。
检查设备方法

[发明专利]全反射衰减型远紫外分光法及使用其的浓度测量装置-CN200980107696.5无效
发明人：东升;苅山直美;池羽田晶文 -专利权人：仓敷纺绩株式会社
申请日： 2009-03-03 - 公布日： 2011-01-26 - 主分类号： G01N21/27 文献下载
摘要：在使用衰减的全反射的远紫外分光法中，通过使用全反射光的衰减波来测量全反射光。其穿透深度在远紫外范围内的波长范围内等于或大于150nm，其中穿透深度取决于远紫外光的波长、待测量对象的折射率、所述探针的光学材料的折射率以及远紫外光在探针与对象的界面处的入射角。全反射衰减型探针由光学材料制成，所述光学材料被选择为使得穿透深度在远紫外波长范围内等于或高于150nm，并且所述探针与待测量对象在界面处进行接触，并且在所述波长范围内远紫外光以大于临界角的入射角入射在界面上，以便使穿透深度等于或高于150nm。测量来自界面的全反射光并且确定待测量对象的吸光率。
全反射衰减紫外分光使用浓度测量装置

[发明专利]检查元件的安装状态的方法-CN200880018637.6有效
发明人：戒田健一;东升 -专利权人：松下电器产业株式会社
申请日： 2008-07-18 - 公布日： 2010-03-24 - 主分类号： H05K13/08 文献下载
摘要：在安装设备1b中总共在两个区域中检查元件的安装状态，这两个区域是安装设备1b执行安装的元件安装区域b和设置在上游侧的安装设备1a执行安装的元件安装区域a；在安装设备1c中总共在三个区域中检查元件的安装状态，这三个区域是安装设备1c执行安装的元件安装区域c及设置在上游侧的安装设备1a和1b执行安装的元件安装区域a和b；在安装设备1d中总共在四个区域中检查元件的安装状态，这四个区域是安装设备1d执行安装的元件安装区域d及设置在上游侧的安装设备1a、1b和1c执行安装的元件安装区域a、b和c。以此方式，由于可容易地明确出现异常安装的步骤，且可在预定位置或项目处建立有效方案，因此可容易地解决异常问题。
检查元件安装状态方法

[实用新型]电压测试夹及窃电在线查找仪-CN200820147970.4无效
发明人：东国伟;东昆鹏;东升;东永红;东新红;刘启民;谢勇;孙华强 -专利权人：东国伟
申请日： 2008-07-15 - 公布日： 2009-05-06 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本实用新型涉及电量测量仪器，特别涉及一种电压测试夹及窃电在线查找仪；电压测试夹含有由上、下导电夹体、连接轴和夹紧弹簧构成的夹子体，上、下导电夹体的手柄端或除夹持嘴外的上、下导电夹体外表面固定有绝缘套，在上夹持嘴或下夹持嘴中竖直固定有一导电探针；窃电在线查找仪含有电压测试夹、测试主机和电流互感器，测试主机中的检测电路含有主控模块、电能计量模块、电源模块、显示模块和键盘，电压测试夹和电流互感器与电能计量模块的输入端连接，电能计量模块的通讯端和控制端与主控模块连接，电源模块为主控模块和电能计量模块提供电源；本实用新型提供了一种使用方便的电压测试夹和检测结果真实可靠、操作方便的窃电在线查找仪。
电压测试在线查找

[发明专利]全反射衰减型光学探针和使用该全反射衰减型光学探针的水溶液分光测定装置-CN200780009223.2无效
发明人：东升;尾崎幸洋;池羽田晶文 -专利权人：仓敷纺绩株式会社
申请日： 2007-03-08 - 公布日： 2009-04-01 - 主分类号： G01N21/33 文献下载
摘要：光学探针包括：在远紫外区具有光透射特性的第一光学材料的第一部分和与上述面接触而配置的第二光学材料的第二部分。例如，第二光学材料在远紫外区具有比第一部分高的折射率。第二部分在与样品接触一侧具有全反射临界角以上的入射角的光的面。或者，光学探针由在远紫外区具有光透射性的光学材料构成，在与样品接触一侧具有全反射临界角以上的入射角的光的面，在该面附近的折射率在远紫外区高于其它部分的折射率。由此，能够进行溶解在水中的极微量的溶质成分等在远紫外区的分光测定。
全反射衰减光学探针使用水溶液分光测定装置

[发明专利]衰减全反射探头及设有该探头的分光计-CN200810085314.0无效
发明人：东升;尾崎幸洋;池羽田晶文 -专利权人：仓敷纺绩株式会社
申请日： 2008-03-07 - 公布日： 2008-09-10 - 主分类号： G01N21/01 文献下载
摘要：一种具有棱镜和支架的衰减全反射探头。所述棱镜由在远紫外区透射光的光学材料制成，具有与样品接触的接触面以及均不与样品接触的入射面和出射面。所述支架具有开口，在所述开口周围与棱镜气密地接合，并且最终使朝向开口的接触面露出。所述棱镜的接触面、入射面和出射面形成为使得透过入射面的光线以大于临界角的入射角进入接触面，且由接触面全反射的光通过出射面射出。
衰减全反射探头设有分光计