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[发明专利]物料表面图像处理方法、装置及存储介质-CN202310944755.6在审
发明人：张弛;侯晓峰;吴琪;刘远刚 -专利权人： 上海感图网络科技有限公司
申请日： 2023-07-28 - 公布日： 2023-10-27 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本申请提供物料表面图像处理方法、装置及存储介质，所述方法包括：获取待拼接图像序列；其中，由多个线扫相机同步采集待检测物料的不同列的区域得到所述待拼接图像序列；根据基准坐标系、目标坐标序列，将所述待拼接图像序列中各个图像匹配到对应的目标位置；其中，所述目标坐标序列与所述待拼接图像序列相适应；生成与所述待检测物料对应的目标全景图像。本申请提供的技术方案，可以提高自动光学检测的检测效率。
物料表面图像处理方法装置存储介质

[发明专利]展示区与实时区视野同步放大的显示方法-CN202310911904.9在审
发明人：朱磊;张弛;刘远刚 -专利权人： 上海感图网络科技有限公司
申请日： 2023-07-24 - 公布日： 2023-10-24 - 主分类号： G01N21/95 文献下载
摘要：本申请公开展示区与实时区视野同步放大的显示方法，涉及图像显示领域，响应于接收到对图像展示区中目标缺陷图像的选择操作，对目标缺陷图像进行放大处理，在图像展示区中生成放大图像；响应于对目标缺陷图像的放大操作，将线扫相机移动到PCB板上对应的缺陷所在区进行图像扫描；将扫描获得的实时图像在实时视野区同步显示，和所述图像展示区中的放大图形成对比，并接收复检员对所述目标缺陷图像的筛选标记操作。这种将展示区和实时视野区同步显示的方法可以对缺陷进行匹配校验，消除机器误识别问题，相比于人工对PCB半复检的方式，其复检效率和准确度都相应提高。
展示实时视野同步放大显示方法

[发明专利]芯片封装的偏移补偿方法、装置、设备及存储介质-CN202310919716.0在审
发明人：朱磊;张弛;刘远刚 -专利权人： 上海感图网络科技有限公司
申请日： 2023-07-25 - 公布日： 2023-10-13 - 主分类号： H01L23/544 文献下载
摘要：本申请公开芯片封装的偏移补偿方法、装置、设备及存储介质，涉及半导体封装领域，基于晶圆上的对位检测标记建立对位坐标系；overmolding处理后，获取热塑后的晶圆颗粒图像，并与晶圆母版阵列图进行比对，获得姿态偏移数据；将姿态偏移数据与姿态偏移阈值进行比较，确定可补偿晶圆颗粒和报废晶圆颗粒，将姿态偏移数据存入偏移信息数据库；基于可补偿晶圆颗粒的姿态偏移数据和位置坐标确定RDL封装的偏移补偿量，并生成RDL线路。该方案将热塑后实际晶圆颗粒的姿态偏移数据和姿态偏移阈值的大小关系来确定报废晶圆颗粒和可补偿晶圆颗粒，通过对可补偿晶圆颗粒继续执行RDL线路再优化，以此来提高芯片封装效率和良品率。
芯片封装偏移补偿方法装置设备存储介质

[发明专利]芯片封装的偏移检测方法、装置、设备及存储介质-CN202310919899.6在审
发明人：侯晓峰;吴琪;刘远刚 -专利权人： 上海感图网络科技有限公司
申请日： 2023-07-25 - 公布日： 2023-10-13 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：本申请公开芯片封装的偏移检测方法、装置、设备及存储介质，涉及芯片检测领域，基于晶圆上的对位检测标记建立对位坐标系，在晶圆上放置晶圆颗粒并获取第一晶圆颗粒图像，通过测量系统将晶圆颗粒图像与晶圆母版阵列图比对，获得第一姿态偏移数据；通过热塑工艺对晶圆颗粒进行处理获得第二晶圆颗粒图像，将其与晶圆母版阵列图进行比对获得第二姿态偏移数据；分别将第一和第二姿态偏移数据与姿态偏移阈值进行比较，确定可补偿晶圆颗粒和报废晶圆颗粒，并存入偏移信息数据库。通过将实际晶圆颗粒的姿态偏移数据和姿态偏移阈值的大小关系来确定报废晶圆颗粒和可补偿晶圆颗粒，对于可补偿晶圆颗粒差流入后续偏移补偿工艺，以此来提高芯片封装效率。
芯片封装偏移检测方法装置设备存储介质

[发明专利]一种镀铜板叠料缺陷检测方法、装置及存储介质-CN202310736583.3在审
发明人：侯晓峰;张弛;吴琪 -专利权人： 上海感图网络科技有限公司
申请日： 2023-06-20 - 公布日： 2023-09-19 - 主分类号： G01N21/95 文献下载
摘要：本申请提供一种镀铜板叠料缺陷检测方法、装置及存储介质，应用于DVCP，所述方法包括：获取当前挂架与下一挂架的间距；当所述间距超出预设阈值时，获取目标待检测图像；根据预设检测模型识别所述目标待检测图像中的叠料缺陷，并生成缺陷检测识别结果。能够实现对DVCP的相邻挂架在移动过程中导致的相邻电路板物料间产生的叠料缺陷的检出。可以及时发现DVCP在挂架的移动过程中产生的叠料缺陷，以及时根据检测结果做出反应，如对机械推手及时检查维修，进而可以提高DVCP的生产效率和产出产品的良率。
一种镀铜板叠料缺陷检测方法装置存储介质

[实用新型]一种交通道路集成检测盒-CN202321060156.X有效
发明人：朱磊;侯晓峰;张弛 -专利权人： 上海感图网络科技有限公司
申请日： 2023-05-06 - 公布日： 2023-09-19 - 主分类号： E01C23/01 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种交通道路集成检测盒，涉及到交通道路路面病害监控技术领域，包括：盒体，所述盒体的内腔底面安装有电源控制模块、GPS模块和工控机模块；所述工控机模块的上方安装有路由模块，所述GPS模块设置于电源控制模块与工控机模块之间；本实用新型使用时固定在车顶，通过红外接收天线接收信息，电源控制模块为各模块供电，工控机模块控制电源控制模块、GPS模块和路由模块工作，GPS模块用来生成GPS坐标、路由模块用于数据传输，转接单元用来插接各种外部装置，进行信息的交互，天线装置用以接收操作信息或传输道路检测的信息，便于检测道路路面信息，也便于各部门之间的信息交互，提供工作效率，保证道路交通的安全。
一种交通道路集成检测

[发明专利]数据处理方法、设备及存储介质-CN202310369955.3在审
发明人：朱磊;侯晓峰;张弛 -专利权人： 上海感图网络科技有限公司
申请日： 2023-04-07 - 公布日： 2023-09-15 - 主分类号： H01L21/67 文献下载
摘要：本发明属于晶圆领域，公开了数据处理方法、设备及存储介质。应用于晶圆倒片设备，晶圆倒片设备上集成有机械手臂，包括在检测到晶圆的相应制程结束后，获取包含有晶圆表面的待识别图像；对待识别图像进行缺陷检测识别，生成缺陷识别结果；根据缺陷识别结果确定晶圆待放置的目标位置，并根据目标位置生成控制指令；其中，控制指令被执行时，用于控制机械手臂将晶圆放置在目标位置。由于本发明是在晶圆的相应制程结束后，对待识别图像进行缺陷检测识别，根据缺陷识别结果确定晶圆的目标位置并放置，相对于现有的直接将晶圆放置在下一制程的方式，本发明上述方式能够及时筛选出存在缺陷的晶圆，避免缺陷晶圆进入下一制程，提高晶圆的制作效率。
数据处理方法设备存储介质

[发明专利]镀铜板表面褶皱缺陷检测方法、装置、设备及存储介质-CN202310763718.5在审
发明人：侯晓峰;吴琪;刘远刚 -专利权人： 上海感图网络科技有限公司
申请日： 2023-06-26 - 公布日： 2023-09-15 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本申请公开镀铜板表面褶皱缺陷检测方法、装置、设备及存储介质，涉及图像显示领域，通过工业相机拍摄镀铜板的待检图像；对待检图像进行轮廓识别，根据挂架夹爪所在位置及镀铜板尺寸提取第一待检图像和第二待检图像；第一待检图像是以挂架夹爪为目标选定的镀铜板区域，第二待检图像是除第一目标图像外的镀铜板区域；将第一待检图像输入精识别预测模型进行缺陷检测，获得精识别结果；将第二待检图像输入粗识别预测模型中进行缺陷检测，获得粗识别结果；将精识别和粗识别结果进行融合输出褶皱识别结果。本方案将夹爪抓取的镀铜板拍照后分区域进行精识别和粗识别检测褶皱情况，提高褶皱检测准确率和自动化程度。
镀铜表面褶皱缺陷检测方法装置设备存储介质

[发明专利]金手指缺陷复核方法、装置、设备及存储介质-CN202310721774.2在审
发明人：张弛;王诚;刘远刚 -专利权人： 上海感图网络科技有限公司
申请日： 2023-06-16 - 公布日： 2023-09-15 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本申请涉及一种金手指缺陷复核方法、装置、设备及存储介质，应用在金手指缺陷检测领域，其中方法包括：获取待复核的金手指缺陷图像，所述金手指缺陷图像包含若干金手指；识别所述金手指缺陷图像中的缺陷，并生成与所述缺陷对应的缺陷轮廓；确定所述金手指缺陷图像内所述缺陷轮廓所在的目标金手指，并生成与所述目标金手指对应的金手指轮廓；根据所述缺陷轮廓相对于金手指轮廓的具体位置确定卡规；根据所述卡规复核所述缺陷的类型，所述缺陷的类型包括允收缺陷和拒收缺陷。本申请具有的技术效果是：降低了金手指缺陷检测时的过检率。
手指缺陷复核方法装置设备存储介质

[发明专利]一种挂架变形缺陷检测方法、装置及存储介质-CN202310739171.5在审
发明人：侯晓峰;吴琪;刘远刚 -专利权人： 上海感图网络科技有限公司
申请日： 2023-06-20 - 公布日： 2023-09-12 - 主分类号： G01B21/32 文献下载
摘要：本申请提供一种挂架变形缺陷检测方法、装置及存储介质，所述方法包括：获取双列镀铜生产线的挂架线速数据、第一测距传感器监测的第一数据信息、第二测距传感器监测的第二数据信息；其中，第一测距传感器、第二测距传感器分别设置于镀铜生产线两侧；基于所述第一数据信息、所述挂架线速数据，计算待检测挂架的第一侧挂架间距；基于第二数据信息、挂架线速数据，计算待检测挂架的第二侧挂架间距；根据第一侧挂架间距、第二侧挂架间距，结合预设阈值判断所述待检测挂架是否发生变形缺陷并生成判断结果。本申请提供的技术方案，可以及时对双列镀铜生产线上的挂架变形缺陷进行检测，减少物料的叠料缺陷，提高双列镀铜生产线产出的产品良率。
一种挂架变形缺陷检测方法装置存储介质

[实用新型]一种双片上料校正装置-CN202321350271.0有效
发明人：朱磊;侯晓峰;张弛 -专利权人： 上海感图网络科技有限公司
申请日： 2023-05-30 - 公布日： 2023-09-12 - 主分类号： B65G47/22 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种双片上料校正装置，涉及到光学检测技术领域，包括工作台，工作台的内部设置有空腔，工作台的顶面水平设置有整料板；本实用新型使用时，将两个片料分别放置在分隔板两侧的整料板上，通过第一控制组件以及第二控制组件控制第一同步板和第二同步板向片料一侧滑动，使两个第一整料杆和两侧多个第二整料杆抵触在两个片料边缘，使片料向分隔板以及侧板的方向移动，直至片料边缘与分隔板以及侧板贴合，完成整料，本装置可以同时对两个片料进行整料，十分高效，通过螺栓将分隔板安装在整料板顶面，当需要对较大片料进行整料时，可以拆除分隔板，将两侧整料区域合并，使本装置可以对较大片料进行整料，进一步优化本装置的适应性。
一种双片上料校正装置

[外观设计]交通道路集成检测盒-CN202330258462.3有效
发明人：朱磊;侯晓峰;张弛 -专利权人： 上海感图网络科技有限公司
申请日： 2023-05-06 - 公布日： 2023-09-12 - 主分类号： 10-05 文献下载
摘要：1.本外观设计产品的名称：交通道路集成检测盒。2.本外观设计产品的用途：用于城市和高速路面智能巡查。3.本外观设计产品的设计要点：在于形状与图案的结合。4.最能表明设计要点的图片或照片：立体图。
交通道路集成检测

[发明专利]一种镀铜板叠料缺陷检测方法、系统及存储介质-CN202310702436.4在审
发明人：侯晓峰;张弛;吴琪 -专利权人： 上海感图网络科技有限公司
申请日： 2023-06-14 - 公布日： 2023-09-05 - 主分类号： G01N21/95 文献下载
摘要：本发明实施例公开了一种镀铜板叠料缺陷检测方法、系统及存储介质，该方法包括：采集待检测图像；判断待检测图像中挂架上相邻两列夹料区域是否均夹持镀铜板；若待检测图像中挂架上相邻两列夹料区域均夹持镀铜板，则根据挂架上相邻两列夹料区域的图像判断是否存在镀铜板叠料缺陷。本发明不仅能够快速、有效的检测出挂架上是否存在镀铜板叠料缺陷以及缺陷类型，减少因叠料导致的物料划伤等问题，可及时检修挂架，提高产率，而且无需人工巡检，可以实现24小时产线叠料缺陷自动检测，降低了人工成本。
一种镀铜板叠料缺陷检测方法系统存储介质

[发明专利]PNL物料对齐预览显示方法、装置、设备及存储介质-CN202310591596.6在审
发明人：朱磊;侯晓峰;张弛 -专利权人： 上海感图网络科技有限公司
申请日： 2023-05-24 - 公布日： 2023-08-22 - 主分类号： G06F3/14 文献下载
摘要：本申请公开PNL物料对齐预览显示方法、装置、设备及存储介质，涉及图像显示领域，基于对齐特征点对全景扫描图像和元件轮廓母版全景图像进行匹配，在预览界面的第一显示区域生成全景对齐后的全景预览图像；响应于接收到对全景预览图像中目标颗粒的选择操作，在预览界面的第二显示区域生成目标颗粒局部对齐的局部预览图像；响应于接收到对局部预览图像的预览调节操作，基于对应的操作指令，在第二显示区域中动态调整和显示局部预览图像的目标预览区域，以显示出目标颗粒在目标预览区域的轮廓对齐效果。该方案可以同步显示全景预览和局部预览，在局域预览的区域进行图像放大缩小和移动操作，提高缺陷检测效率。
pnl 物料对齐预览显示方法装置设备存储介质

[发明专利]一种料仓模组-CN202310721800.1在审
发明人：朱磊;王明行;魏忠强 -专利权人： 上海感图网络科技有限公司
申请日： 2023-06-16 - 公布日： 2023-08-04 - 主分类号： B65D25/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种料仓模组，涉及到光学检测技术领域，包括：支座，所述支座包括底座、背板，所述背板竖直安装在底座的顶面一侧，举升板，所述举升板滑动安装在背板上，所述背板上安装有驱动举升板上下移动的驱动组件，活动料仓，所述活动料仓滑动安装在底座顶面；本发明在使用时，将物料堆放在托料板上，再将活动料仓安装在底座上，当托料板上物料取完后，只需将活动料仓从支座上抽离，再将新的装好物料的活动料仓安装在支座上，进行生产检测，本装置在检测工位物料取拿完后，只需通过更换活动料仓即可，无需移动整个模组，进行上料更换，也无需在每个料仓上安装用以举升物料的举升组件及驱动电机，进一步降低了检测成本。
一种模组

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