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- [发明专利]光学元件用的支架、光学元件单元和光拾波器装置-CN201180020200.8无效
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山岸康文
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三洋电机株式会社;三洋光学设计株式会社
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2011-12-08
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2013-07-17
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G11B7/135
- 本发明提供一种可以简易且恰当安装光学元件的光学元件用的支架,和使用它的光拾波器装置。在衍射光栅架(H)上,形成有对区域(R)进行规定的壁(H11a~H11e),以处于区域(R)的方式形成突部(H15)。突部(H15)形成于檐部(H13),通过檐部(H13)的挠曲,可以在远离区域(R)的方向上进行位移。在使衍射光栅(102)的下表面和左面抵接壁(H11e、H11d)的状态下将衍射光栅(102)嵌入区域(R)时,檐部(H13)挠曲,突部H15触碰到衍射光栅(102)的上表面。从这一状态压入衍射光栅(102),直至衍射光栅(102)的后面与支承面(H16、H17)抵接。借助檐部(H13)的回复力,衍射光栅(102)被按压在壁(H11e)上而被定位。以此状态,对凹部(H19a、H19b)施加粘接剂。
- 光学元件支架单元光拾波器装置
- [发明专利]光拾取装置-CN201210422459.1无效
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古清水有希;市川弘幸
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三洋电机株式会社;三洋光学设计株式会社
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2012-10-29
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2013-05-08
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G11B7/1275
- 提供一种能够对不同标准的光盘中记录的信号进行读取动作的光拾取装置。该光拾取装置组装有放射第一激光的第一激光二极管和放射第二激光的第二激光二极管,并且在光盘的径向上配置有第一物镜(23)和第二物镜(31),上述第一激光入射到该第一物镜,该第一物镜将该第一激光会聚到第一光盘的信号记录层,上述第二激光入射到该第二物镜,该第二物镜将该第二激光会聚到第二光盘的信号记录层,该光拾取装置的特征在于,使将第一激光引导至上述第一物镜(23)的第一光学系统和将第二激光引导至上述第二物镜(31)的第二光学系统独立地设置。
- 拾取装置
- [发明专利]光拾取装置以及光盘装置-CN201210378131.4无效
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尾形正人
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三洋电机株式会社;三洋光学设计株式会社
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2012-10-08
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2013-04-10
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G11B7/09
- 提供能够顺利地抑制杂散光漏入传感器且获取稳定的聚焦误差信号的光拾取装置以及光盘装置。未经分光元件衍射而直线前进的BD光(信号光和杂散光)的0级衍射光照射到4分割传感器C1。通过在轨道像的方向上排列的分光元件的衍射区域衍射后的BD光(信号光)的+1级衍射光照射到传感器Bs1~Bs4。将使根据传感器Bs1~Bs4的检测信号生成的聚焦误差信号乘以规定的乘数后得到的信号与根据4分割传感器C1的检测信号生成的聚焦误差信号相加。这样得到的信号为不仅维持高信噪比而且将杂散光和沟槽信号的影响抑制得较低的良好且稳定的聚焦误差信号。
- 拾取装置以及光盘
- [发明专利]光拾取装置-CN201210378149.4无效
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尾形正人
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三洋电机株式会社;三洋光学设计株式会社
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2012-10-08
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2013-04-10
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G11B7/1374
- 在顺利抑制杂散光漏入传感器且即使传感器的位置偏移也可抑制检测信号的精确度劣化的光拾取装置中,未经分光元件衍射而直线前进的BD光(信号光和杂散光)的0级衍射光照射到4分割传感器C1。通过与轨道像的方向垂直的方向上排列的分光元件的衍射区域衍射的BD光(信号光)的+1级衍射光照射到传感器Ba1~Ba4。通过轨道像的方向上排列的分光元件的衍射区域衍射的BD光(信号光)的+1级衍射光照射到传感器Bs1~Bs4。照射区域A11~A18不与传感器Ba1~Ba4、Bs1~Bs4的边界线重叠,分布在对应传感器的中央附近。即使传感器Ba1~Ba4、Bs1~Bs4在X轴、Y轴方向上偏移也可抑制传感器的检测信号劣化。
- 拾取装置
- [发明专利]光拾取装置-CN201210375048.1无效
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小仓仁;日比野清司
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三洋电机株式会社;三洋光学设计株式会社
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2012-09-29
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2013-04-10
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G11B7/09
- 提供一种能够正确地进行一个光束方式的聚焦控制动作的光拾取装置。构成为通过对从构成四分割受光部(10)的四个受光部的配置在对角线方向上的受光部得到的信号进行加法运算和对两个加法值进行减法运算来生成聚焦误差信号,通过对从构成上述四分割受光部(10)的四个受光部的配置在循迹方向上的受光部得到的信号进行加法运算和对两个加法值进行减法运算来生成循迹误差信号,用校正循迹误差信号来校正聚焦误差信号,其中,通过对从构成上述四分割受光部的四个受光部的配置在循迹方向上的受光部经低通滤波器得到的信号进行加法运算和对两个加法值进行减法运算来得到该校正循迹误差信号。
- 拾取装置
- [发明专利]光拾取装置-CN201210227119.3无效
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尾形正人;吉江将之
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三洋电机株式会社;三洋光学设计株式会社
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2012-06-29
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2013-01-02
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G11B7/13
- 本发明提供一种能够顺利地抑制杂散光所带来的影响、且将成本抑制得较低的光拾取装置。通过对穿过光束区域f1~f4的激光的前进方向赋予矢量V21~V24来改变其前进方向。矢量V21、V22的方向相同,矢量V23、V24的方向相同。矢量V21的大小大于矢量V22的大小,矢量V24的大小大于矢量V23的大小。这样,能够利用配置于矩形的信号光区域1、2的传感器得到仅基于穿过光束区域f1~f4的激光(信号光)的检测信号。另外,为了赋予矢量V21~V24,能够使用由廉价的台阶型衍射图案构成的分光元件,因此能够将光拾取装置所耗费的成本抑制得较低。
- 拾取装置
- [发明专利]光拾取装置-CN201210033340.5无效
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田彻;川崎良一
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三洋电机株式会社;三洋光学设计株式会社
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2012-02-14
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2012-09-19
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G11B7/1374
- 本发明提供一种光拾取装置,该光拾取装置利用波长不同的三种激光对记录在不同格式的光盘中的信号进行读取动作。该光拾取装置通过使波长不同的第1激光、第2激光及第3激光会聚到设在格式不同的第1光盘、第2光盘及第3光盘中的信号记录层上,从而对记录在各信号记录层中的信号进行读取动作,其中,在该光拾取装置中设有准直透镜(9),该准直透镜(9)设在1/4波片(8)与物镜之间并且为了调整变更激光的透过角度而能够沿光轴方向位移,在使用从双波长激光二极管(3)放射的第2激光及第3激光时,通过使上述准直透镜(9)向物镜方向移动而使集束光入射到物镜。
- 拾取装置
- [发明专利]光拾取装置-CN201080052638.X无效
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堀田彻;川崎良一
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三洋电机株式会社;三洋光学设计株式会社
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2010-11-18
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2012-09-12
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G11B7/09
- 本发明提供一种光拾取装置,其能够对由设在双波长激光二极管上的第1激光元件与第2激光元件之间的位置偏移为起因而产生的、设于光检测器的受光部的位置偏移进行修正。其中,该光拾取装置具有光检测器,该光检测器在同一个半导体基板上形成有供自第1光盘的信号记录层反射的返回光照射的第1受光部和供自第2光盘的信号记录层反射的返回光照射的第2受光部(8D),利用第1受光部调整上述光检测器的固定位置,并且在第2受光部(8D)上形成有用于对第1受光部与第2受光部(8D)的位置偏移进行电修正的位置偏移修正用受光部。
- 拾取装置
- [发明专利]光拾取装置-CN201210031474.3无效
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奈良冈宏二;川崎良一
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三洋电机株式会社;三洋光学设计株式会社
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2012-02-09
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2012-08-15
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G11B7/1374
- 本发明提供一种光拾取装置。其能正确地固定组装于该光拾取装置的透镜保持件的支承线。其包括:印刷电路板(8),其固定在设置于支承构件(9)的印刷电路板用固定部上;透镜保持件(2),其用于安装物镜,且至少利用四根支承线(11、12、13、14)支承该透镜保持件(2),使该透镜保持件(2)能向物镜的光轴方向及作为与光轴方向正交的方向的光盘的径向位移,上述支承线(11、12、13、14)的一端穿过形成于上述印刷电路板用固定部的连通孔而利用焊剂固定在设置于上述印刷电路板(8)的图案上;利用回流焊进行上述支承线(11、12、13、14)向印刷电路板(8)的软钎焊。
- 拾取装置
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