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[发明专利]组织包埋切片制作方法、及组织包埋切片制作装置-CN202010404972.2在审
发明人： 万里千裕;坂本健;小木修;野田英之;斋藤博树 -专利权人：株式会社日立制作所
申请日： 2020-05-14 - 公布日： 2020-12-15 - 主分类号： G01N1/28 文献下载
摘要：提供能够对由切片机切薄的组织包埋切片进行全数回收的组织包埋切片制作方法、及组织包埋切片制作装置。本公开提出了一种组织包埋切片制作方法，其是控制部对切片机所进行的包埋了组织的包埋块的包埋切片制作动作及小管所进行的该包埋切片的回收动作进行控制的组织包埋切片制作方法，其包含：控制部对切片机的刀片进行驱动而切薄包埋块，制作包埋切片；以及控制部对小管进行驱动，对附着于刀片的所述包埋切片进行吸引回收。
组织包埋切片制作方法制作装置

[发明专利]自动分析装置、自动分析方法-CN201380060805.9有效
发明人：垂水信二;薮谷千枝;牧野彰久;万里千裕;光山训 -专利权人：株式会社日立高新技术
申请日： 2013-11-05 - 公布日： 2015-07-22 - 主分类号： G01N33/86 文献下载
摘要：提供一种在血凝反应中，不论光量数据上的噪音的发生位置如何，均能够高精度地检测并去除噪音，并高精度地分析血凝反应的技术。本发明的自动分析装置将向样品照射的光的透射光量或散射光量的时序数据通过近似曲线进行近似，在该过程中，去除偏离近似曲线的异常数据点(参照图2)。
自动分析装置方法

[发明专利]自动分析装置以及自动分析程序-CN201280023897.9有效
发明人： 万里千裕;光山训;三村智宪;神原久美子 -专利权人：株式会社日立高新技术
申请日： 2012-04-17 - 公布日： 2014-01-22 - 主分类号： G01N35/00 文献下载
摘要：本发明实现混合试样和试剂并测定混合液的经时变化的自动分析装置的精度管理。从试样和试剂的反应过程中取得多个测定点数据。将对多个测定点数据进行近似的近似式的参数和检查值积累在存储部中。根据在存储部中积累的预定个数的参数或检查值，生成与参数或检查值对应的参考数据的分布图。然后，在显示画面上排列多个地提示将与应用多个回归函数而得到的多个回归函数候选对应的曲线个别地与分布图重叠所示的画面，以便近似参考数据的分布图。
自动分析装置以及程序

[发明专利]自动分析装置、分析方法以及信息处理装置-CN201180034242.7有效
发明人：神原久美子;光山训;三村智宪;万里千裕 -专利权人：株式会社日立高新技术
申请日： 2011-07-04 - 公布日： 2013-03-20 - 主分类号： G01N35/00 文献下载
摘要：自动分析装置，具备：向将试样与试剂混合使其反应的反应容器（21）分注收容了作为测定对象的试样的试样容器（16）的试样的试样分注机构（5）；向反应容器分注收容了与试样进行反应的试剂的试剂容器（18）的试剂的试剂分注机构（6）；对在反应容器（21）中收容的试样与试剂的混合液进行搅拌的搅拌机构（7）；以及取得混合液的反应过程中的多个测定点数据的测定部（8），其中，从用于根据测定点数据生成近似曲线的一个以上的近似式中选择一个近似式，根据多个测定点数据生成近似曲线，根据近似曲线计算形状特征量，使用该形状特征量进行异常判定。由此，能够根据各个测定结果充分地检测异常，并且能够确定异常的原因。
自动分析装置方法以及信息处理

[发明专利]分析装置以及分析方法-CN201180034012.0有效
发明人：光山训;大和田伯男;万里千裕;麻生定光 -专利权人：株式会社日立高新技术
申请日： 2011-07-08 - 公布日： 2013-03-20 - 主分类号： G01N21/64 文献下载
摘要：在使用了分光单元和多检测器的流式细胞仪中，辅助进行实时的荧光强度测定前的最佳的波长频带设定。在信号处理单元中，存储测定校准试样而得到的多个波长频带的强度，计算、显示所述多个波长频带的每个波长频带的强度的分布。
分析装置以及方法

[发明专利]自动分析装置以及自动分析方法-CN201180019415.8有效
发明人： 万里千裕;光山训;三村智宪;神原久美子 -专利权人：株式会社日立高新技术
申请日： 2011-04-05 - 公布日： 2013-01-02 - 主分类号： G01N35/00 文献下载
摘要：本发明提供如下技术：在一种自动分析装置中，将试样和试剂混合，并测定混合液经时变化，自动地决定或者预测反应过程中出现的检测材料的直线范围。本发明用函数近似反应过程数据，根据该函数自动地判定反映初期及/或后期的曲线部分。针对每个检测材料决定除去曲线部分的直线范围，使用所决定的直线范围的吸光度数据计算检测值。此外，本发明根据在反应过程中得到的吸光度数据自动地判定反应初期的直线开始时刻，根据该直线结束时刻和事先预定的直线结束时刻来预测直线范围，并根据其结果来计算预测值。
自动分析装置以及方法

[发明专利]粒子图像分析装置-CN201080032816.2有效
发明人：铃木晶子;大和田伯男;泷美树;光山训;万里千裕 -专利权人：株式会社日立高新技术
申请日： 2010-07-23 - 公布日： 2012-05-23 - 主分类号： G01N21/27 文献下载
摘要：在现有的流动方式的粒子分析装置中，无法以廉价并且简单的方式，检测样品的遗漏、样品不足、试剂的不足等人为的错误和流路系统的异常的双方。在本发明的在样品测量时取得的摄影图像(110)的图像处理中，设置以下的部件：图像处理单元(110a)，与用于进行对象粒子的分类处理的通常的图像处理并行地，对每张图像计算图像全体的RGB浓度分布信息；异常状态判断处理单元(110c)，根据RGB浓度分布的倾向，判断所摄影的图像是否为异常状态；异常判断处理单元，在对一个样品的全部测量结束了的时刻，计算异常图像的出现频度，最终判断有无异常，由此，不该现有的装置结构，就实现了与通常分析并行的异常诊断。
粒子图像分析装置

[发明专利]流式粒子图像分析方法和装置-CN201080024498.5有效
发明人： 万里千裕;大和田伯男;光山训 -专利权人：株式会社日立高新技术
申请日： 2010-05-17 - 公布日： 2012-05-16 - 主分类号： G01N15/14 文献下载
摘要：能够高精度并且高效地进行聚焦点调整，高精度地检查聚焦点位置的偏离、样本液的流动的厚度。在多个不同的焦点位置上，根据由均匀的物质构成的标准粒子的图像取得调焦用参数值。作为标准粒子图像的中心附近的浓度值与轮廓附近的浓度值的比或差、或者中心附近的浓度值来求出调焦用参数值。根据得到的调焦用参数值与焦点位置的关系，调整聚焦点位置。另外，根据调焦用参数值与焦点位置的关系，将参数值换算为焦点位置，根据焦点位置及其波动，检查聚焦点位置的偏离和样本液的厚度。
粒子图像分析方法装置

[发明专利]自动分析装置以及分析方法-CN201080021726.3有效
发明人：光山训;万里千裕;三村智宪;神原久美子 -专利权人：株式会社日立高新技术
申请日： 2010-05-10 - 公布日： 2012-04-25 - 主分类号： G01N35/00 文献下载
摘要：提供一种根据在测定化学成分的浓度和酶的活性度时得到的反应过程数据，高精度地判定异常的有无的自动分析装置以及自动分析方法。用函数近似反应过程数据，计算表示反应初期的曲线部分的形状特征的特征量。使用得到的形状特征量判定异常的有无。
自动分析装置以及方法

[发明专利]自动分析装置及分析方法-CN201080020330.7有效
发明人：神原久美子;光山训;三村智宪;万里千裕 -专利权人：株式会社日立高新技术
申请日： 2010-04-12 - 公布日： 2012-04-18 - 主分类号： G01N35/00 文献下载
摘要：在利用函数对反应过程数据进行近似从而检测异常的自动分析装置中，根据检查项目的不同，有时近似精度差、反应异常的检测精度下降。数据处理方法储存前述吸光度和测定前述吸光度的时刻作为时序数据，将吸光度设为x、将时间设为t、将表示乘法的符号设为*时，按照使通过函数x＝a0+a1*exp(-k1*t)+a2*exp(-k2*t)算出的前述测定时刻的前述吸光度与前述时序数据之差减小的方式，算出前述式中的参数a0、a1、a2、ai、k1、k2的值，并基于前述参数的值判定有无异常。
自动分析装置方法

[发明专利]自动分析装置-CN201080020647.0有效
发明人：神原久美子;光山训;三村智宪;万里千裕 -专利权人：株式会社日立高新技术
申请日： 2010-04-12 - 公布日： 2012-04-18 - 主分类号： G01N21/75 文献下载
摘要：在要缩短生化测定的测定时间时，为了对每个项目变更测光时间，或者对每个样本变更测定时间，需要反应完成的指标，但迄今为止还没有判断反应完成的方法。在试样中所含的测定对象物质的测定中，使用随着时间推移而变化的测量值来计算近似式的参数，根据该参数的收敛程度来判断反应的收敛程度，并使用判断为反应收敛的时间点的参数来计算反应完成时间点的测定值。
自动分析装置

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