专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
专利下载VIP
公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
更多 »
专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
更多 »
钻瓜专利网为您找到相关结果7424个,建议您升级VIP下载更多相关专利
  • [发明专利]熔丝熔断方法和装置-CN202310548433.X在审
  • 胡栓栓;王荣;蔡瑞青;柳炯 - 赛迪工业和信息化研究院集团(苏州)有限公司
  • 2023-05-16 - 2023-08-29 - H01L21/66
  • 本发明公开了熔丝熔断方法及装置,属于晶圆测试领域。熔丝修调属于芯片配置的一部分,通过给大电流将熔丝熔断,达到参数修调的目的。一个DUT有N个熔丝,现有技术多DUT并测时按DUT循环:先对一个DUT中所有熔丝进行判断,确定每个熔丝是否需要熔断,然后统一加一次大电流,熔断该DUT的所有待熔熔丝。处理完一个DUT后,继续测试下一个DUT,直到所有DUT都测试结束。当并测DUT数量较多时,熔断时间就比较长。本发明对所有并测DUT按照熔丝位循环,每次判断并测DUT同一熔丝位的熔丝,确定待熔熔丝后,统一加电熔断该熔丝位待熔熔丝。本发明通过改变循环对象减少上电操作次数,节省测试时间。
  • 熔断方法装置
  • [发明专利]一种光伏组件检测装置及其方法-CN202310643938.4在审
  • 王艳军;蔡伦;陈诺;季峰;凤鹏举;钟浩;唐富强;李靖辉 - 广州高新区能源技术研究院有限公司
  • 2023-06-02 - 2023-08-29 - H01L21/66
  • 本发明涉及光伏组件检测领域,尤其涉及一种光伏组件检测装置及其方法。本发明在光伏组件向右移动的过程中对光伏组件的侧表面进行拍摄检测,在具有瑕疵的光伏组件的侧表面做出标记,可以对光伏组件朝上的一面进行拍摄检测,在具有瑕疵的光伏组件朝上的一面做出标记,从而自动对光伏组件进行检测,减少人工搬运使光伏组件受到磕碰的风险;通过设置旋转架、夹持块带动光伏组件向上转动九十度,使得光伏组件远离输送带二后转动一百八十度,使得在检测过程中自动带动光伏组件翻转,从而连续对光伏组件的顶面和底面进行检测;可以根据不同规格的光伏组件调节两侧夹持块的间距、辊轮架的间距,扩大本装置的使用范围,提高本装置的实用性。
  • 一种组件检测装置及其方法
  • [发明专利]清洗后基板检测方法及检测装置-CN202310644908.5在审
  • 任树朝;李晓艳 - 上海新昇半导体科技有限公司
  • 2023-06-01 - 2023-08-29 - H01L21/66
  • 本发明提供一种清洗后基板检测方法及检测装置,所述检测方法包括:提供若干清洗后的基板,在执行清洗时,采用夹持部件固定基板边缘;对基板边缘执行缺陷检测,获取基板边缘的初始缺陷数据,并输入产品数据库,初始缺陷数据包括缺陷在基板周向的位置角度数据;检索产品数据库中缺陷在基板周向的位置角度数据,并统计分析在一判定周期中缺陷的位置角度数据相符的基板数量大于或等于预设值,则判定夹持部件异常。本发明中,通过检索及统计分析在一判定周期中缺陷的位置角度数据相符的基板数量是否大于或等于预设值,从而可以较佳且快速地判断出因夹持部件异常所引起的缺陷,有利于提高对缺陷的管控能力,并以此减少良率损失。
  • 清洗后基板检测方法装置
  • [发明专利]一种LED贴片支架裂缝检测提取装置及其检测方法-CN202111016931.7有效
  • 戴高潮 - 广东良友科技有限公司
  • 2021-08-31 - 2023-08-29 - H01L21/66
  • 本发明属于贴片支架检测装置技术领域,具体的说是一种LED贴片支架裂缝检测提取装置及其检测方法,包括检测机、工作台、扫描仪、显示屏、LED贴片支架本体和凸臂;所述检测机的内部固定安装有工作台,所述工作台的顶部设有LED贴片支架本体,所述检测机的内部设有扫描仪,所述检测机的一端设有显示屏,所述检测机的侧壁固定安装有两个凸臂;通过让放置板的底部和底托的短臂端相贴合,此时滑块上的夹板和底托的短臂端在同一直线上,再次滑动滑槽内的滑块,使得滑块带着夹板向底托短臂端的方向移动,进而让“U”字形夹板的内壁和底托相贴合卡紧,使得放置板和底托相互固定,从而方便将还没有进行检测的LED贴片支架本体放在放置板上。
  • 一种led支架裂缝检测提取装置及其方法
  • [实用新型]跑道回原检测结构、回原检测装置以及电池片搬运设备-CN202320305970.7有效
  • 杨超;齐文龙;刚立刚;张成虎 - 通威太阳能(安徽)有限公司
  • 2023-02-21 - 2023-08-29 - H01L21/66
  • 本申请涉及一种跑道回原检测结构、回原检测装置以及电池片搬运设备,其中跑道回原检测结构包括磁吸部、滑片部及环形电阻片结构,磁吸部、滑片部共轴设置,环形电阻片结构围设于滑片部的四周并与滑片部的末端接触设置;其中,磁吸部与跑道上的磁力组件相互吸引,以跟随磁力组件在跑道上的转动而转动;滑片部跟随磁吸部的转动而滑动,在磁吸部转动过程中,滑片部的末端沿着环形电阻片结构滑动,以使得环形电阻片结构输出不同的电压信号。本申请通过将跑道回原检测结构应用于回原检测装置,能够在一定范围内检测原点位置,并能够通过回原检测装置中的回原检测电路检测并分析反馈信号,进行判断回原的位置是否准确,从而实现精确回原。
  • 跑道检测结构装置以及电池搬运设备
  • [实用新型]探针排固定结构及测试装置-CN202320713454.8有效
  • 王世卓;龚举明;植斌;冯波 - 通威太阳能(成都)有限公司
  • 2023-04-03 - 2023-08-29 - H01L21/66
  • 本申请涉及一种探针排固定结构及测试装置,该探针排固定结构包括安装框及限位件,安装框用于安装探针排,限位件的两端沿探针排的宽度方向分别连接在安装框相对的两侧杆上,且限位件具有限位结构,限位结构能够抵压在每一探针排沿宽度方向的两侧面上。如此,探针排上与限位结构相抵接的区域会受到两个相对的抵接力,进而将长度较长的探针排分隔成相连接的两个较短的受力区段,因此,探针排固定在安装框上时,不易发生弯曲变形,如此,使得探针排在固定后仍能与电池片上主栅线保持平行,从而确保了EL检测精度。
  • 探针固定结构测试装置
  • [发明专利]一种监控外延图形偏移的方法-CN202310565673.0在审
  • 王雷 - 上海华虹宏力半导体制造有限公司
  • 2023-05-19 - 2023-08-25 - H01L21/66
  • 本发明提供一种监控外延图形偏移的方法,包括首先对衬底进行外延前的工艺,形成测试图形;该测试图形至少有两组,一组只有主图形,另一组包括主图形和位于主图形周围的定标图形;然后对形成有测试图形的衬底进行外延工艺;最后外延生长完成,测量所述测试图形外延后的尺寸与外延前所述测试图形的尺寸差异得出外延图形偏移。本发明通过测量主图形和定标图形的设计尺寸与外延后两个图形尺寸差异,来表征和监控外延的图形偏移,可以用于在线检测外延生长后图形偏移的方向及程度。
  • 一种监控外延图形偏移方法
  • [发明专利]平坦度评估方法、缺陷点识别方法及装置-CN202310620326.3在审
  • 韩超;夏霜 - 长鑫存储技术有限公司
  • 2023-05-25 - 2023-08-25 - H01L21/66
  • 本申请实施例提供一种平坦度评估方法、缺陷点识别方法及装置,该方法包括:获取晶圆各测量点的高度,并以曝光区域为单位计算高度平均值;针对晶圆的各曝光区域,基于所述曝光区域内各测量点的高度与所述曝光区域对应的高度平均值的差值,确定所述曝光区域内各测量点的第一平坦度;基于所述曝光区域内各测量点的第一平坦度以及所述曝光区域内各测量点的平面坐标,确定所述曝光区域内各测量点的第二平坦度,以基于各测量点的所述第一平坦度和所述第二平坦度评估所述晶圆的平坦度;其中,平面坐标为测量点在平面内的坐标,高度对应的方向垂直于所述平面。实现了从多个维度评估晶圆表面的平整度,提高了评估准确度。
  • 平坦评估方法缺陷识别装置
  • [发明专利]测量对准标识偏移量的方法-CN202310564936.6在审
  • 包永存 - 上海华力集成电路制造有限公司
  • 2023-05-18 - 2023-08-25 - H01L21/66
  • 本发明提供一种测量对准标识偏移量的方法,所述方法包括:提供一半导体衬底;于所述半导体衬底上形成待测对准标识;于所述半导体衬底上形成量测基准标识,所述量测基准标识形成于所述待测对准标识的一侧,包括第一子标识及在所述第一子标识长度方向上间隔平行排列的第二子标识,且第一子标识的长度方向与所述待测对准标识的长度方向平行;根据所述待测对准标识的中心所在位置与所述量测基准标识的中心所在位置获取所述待测对准标识相对于所述量测基准标识的偏移量。通过本发明解决了以现有的方法无法准确得到待测对准标识的偏移量的问题。
  • 测量对准标识偏移方法
  • [发明专利]制造缺陷原因的识别方法-CN202310085624.7在审
  • 何庚寰 - 南亚科技股份有限公司
  • 2023-02-01 - 2023-08-25 - H01L21/66
  • 本公开提供一种制造缺陷原因的识别系统以及识别方法。该识别系统包括一处理单元以及一影像撷取单元,该影像撷取单元电性耦接到该处理单元。该识别系统经配置以借由该影像撷取单元而撷取覆盖一半导体晶圆的不同部分的N个影像,其中该N个影像的每一个包括M个几何特征。该识别系统还经配置以指定M个序号,而该M个序号的每一个与该M个几何特征的其中一个相关联。该识别系统还经配置以借由该处理单元而计算N个影像的该等几何特征的每一个的一几何中心。该识别系统还经配置以依据该N个影像而计算与该M个序号相关联的M个平均几何中心。该识别系统还经配置以计算针对该N个影像的每一个几何特征的一偏移量。
  • 制造缺陷原因识别方法
  • [发明专利]测试承载基板及膜厚监控装置-CN202211217668.2有效
  • 蒋雷;郑浩旋 - 惠科股份有限公司
  • 2022-09-29 - 2023-08-25 - H01L21/66
  • 本申请属于显示技术领域,具体涉及一种测试承载基板及膜厚监控装置,测试承载基板用于承载由掩膜板和蒸镀设备配合形成的蒸镀膜层,蒸镀设备包括蒸镀源和支撑导电件,掩膜板设于蒸镀源的一侧,支撑导电件设于掩膜板和测试承载基板之间,测试承载基板包括:基板主体,基板主体设于掩膜板远离蒸镀源的一侧,基板主体靠近掩膜板的一侧包括第一空白区和覆盖区,第一空白区至少设于覆盖区的一侧;导电图案层,导电图案层设于覆盖区内,导电图案层与掩膜板抵接,且导电图案层与支撑导电件相抵接,支撑导电件远离导电图案层的一侧接地。本方案通过在基板主体上增设导电图案层可以降低测试承载基板和掩膜板之间的静电,保证掩膜板的正常工作状态。
  • 测试承载监控装置
  • [发明专利]半导体装置的测定方法-CN201680088683.8有效
  • 大久野幸史;鹿间省三;樽井阳一郎 - 三菱电机株式会社
  • 2016-09-01 - 2023-08-25 - H01L21/66
  • 本发明涉及以下技术,即,在对半导体装置施加高电压的测试时,为了防止损伤波及到探针,对在探针的附近产生点破坏进行抑制。在半导体装置的测定方法中,半导体装置具备:半导体衬底(1);外延层(2);至少1个第2导电型的第2导电型区域(3),其在外延层的表层具有轮廓而局部地形成;肖特基电极(11);阳极电极(12);以及阴极电极(13)。使探针(21)与俯视观察时位于形成至少1个第2导电型区域的轮廓的范围内的阳极电极的上表面接触,施加电压。
  • 半导体装置测定方法

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

400-8765-105周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top