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- [发明专利]用于控制传感器装置的方法-CN202010092741.2在审
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T.尼曼;F.施特拉克延
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黑拉有限责任两合公司
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2020-02-14
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2020-08-25
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G01N15/06
- 本发明涉及一种用于控制用于检验试样气体体积的传感器装置的方法,其中,有待检验的试样气体体积被导入到测量空间中,本发明基本上规定,经检验的试样气体体积的体积份额通过引导气体的连接部从试样气体输出部分支并且输入净化装置,输入净化装置的体积份额在净化装置中被净化并且将经净化的体积份额作为净化气体输入测量空间。本发明的另一个方面涉及用于检验试样气体体积的传感器装置,其带有至少一个测量空间、至少一个试样气体输入部和至少一个试样气体输出部,其中本发明基本上规定,至少一个净化气体输入部配设给测量空间,通风单元配设给试样气体输入部、试样气体输出部和净化气体输入部并且试样气体输出部具有流量调节装置。
- 用于控制传感器装置方法
- [发明专利]气相色谱仪-CN202080095532.1在审
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山根雅史;古贺圣规
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株式会社岛津制作所
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2020-02-28
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2022-09-16
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G01N30/26
- 气相色谱仪构成为具备:试样气体生成部(2),其用于从所注入的试样生成试样气体;分离柱(6),其与所述试样气体生成部(2)的出口进行流体连接,用于分离由所述试样气体生成部(2)生成的试样气体中的成分;检测器(8),其与所述分离柱(6)的出口进行流体连接,用于检测在所述分离柱(6)中分离出的成分;多个气体供给源(12A;12B),所述多个气体供给源(12A;12B)用于供给用于将由所述试样气体生成部(2)生成的试样气体输送到所述分离柱调节器(16),其介于所述切换部(14)与所述试样气体生成部(2)之间,构成为调节从所述气体供给源供给的气体的气体供给压力以及向所述试样气体生成部供给的气体的气体供给流量;以及气体用尽判定部(34),其构成为基于所述气体供给压力或所述气体供给流量,来判定向所述试样气体生成部(2)供给着所述载气的所述气体供给源有无气体用尽,其中,在所述气体用尽判定部(34)判定为向所述试样气体生成部(2)供给着所述载气的所述气体供给源(12A;12B)发生了气体用尽之后,执行通过所述切换部(14)来变更与所述试样气体生成部(2)进行流体连接的所述气体供给源(12A;12B)的柱保护动作。
- 色谱仪
- [发明专利]气相色谱仪-CN202080095906.X有效
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山根雅史;古贺圣规
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株式会社岛津制作所
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2020-02-28
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2023-09-12
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G01N30/26
- 气相色谱仪具备:试样气体生成部(2),其从被注入的试样生成试样气体;分离柱(6),其与所述试样气体生成部(2)的出口进行流体连接,用于对由所述试样气体生成部(2)生成的试样气体中的成分进行分离;检测器(8),其与所述分离柱(6)的出口进行流体连接,用于检测在所述分离柱(6)中分离出的成分;多个气体供给源(12A;12B),多个气体供给源用于供给用于将由所述试样气体生成部(2)生成的试样气体输送到所述分离柱(6)的成为载气的气体;切换部(14),其与所述多个气体供给源(12A;12B)进行流体连接,构成为将所述多个气体供给源(12A;12B)中的一个气体供给源切换地与所述试样气体生成部(2)进行流体连接;调节器(16),其介于所述切换部(14)与所述试样气体生成部(2)之间,构成为调节从所述气体供给源(12A;12B)供给的气体的气体供给压力和向所述试样气体生成部供给的气体的气体供给流量;以及控制部(30),其控制所述调节器(16)的动作,其中,所述控制部(30)构成为:在为了转移到能够进行下一次试样的分析的待机状态而切换了与所述试样气体生成部进行流体连接的所述气体供给源、并且至少变更了向所述试样气体生成部
- 色谱仪
- [发明专利]废气测量装置-CN201911369058.2有效
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王伟昭;肥山道行
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株式会社岛津制作所
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2019-12-26
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2023-09-22
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G01N33/00
- 本发明的废气测量装置能够消除在试样气体的流通路径上存在硫酸的状态,具备:试样气体导入部,导入试样气体;前处理部,进行导入的试样气体的前处理;分析部,进行实施了前处理的试样气体的分析;前处理部包括用于去除试样气体中的灰尘的除尘装置,除尘装置具备:具有内部空间的壳体;除尘过滤器,设置在壳体的内部空间内,将内部空间分离成第一空间和第二空间;试样气体入口,连通于第一空间的上部,使导入的试样气体流入第一空间;试样气体出口,连通于第二空间的上部,使通过除尘过滤器的试样气体向壳体的外部流出;第一排出口,排出第一空间内的液体;第二排出口,排出第二空间内的液体;开闭机构,对第一排出口进行开闭。
- 废气测量装置
- [发明专利]粒子分析装置-CN201611062425.0在审
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长谷川祥树;武田直希;小泉和裕;浅野贵正
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富士电机株式会社
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2016-11-28
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2017-08-04
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G01N15/06
- 该粒子分析装置包括粒子测量部,其基于试样气体中粒子所散射的激光,测量所述试样气体中的粒子的数量或者浓度;成分分析部,其测量试样气体中不同成分的粒子的含量;流路,其一端和试样气体源连接,在另一端侧的分支点,分为第1流路和第2流路,第1流路将试样气体导入粒子测量部,第2流路将试样气体导入成分分析部;第1调整部,其设置在所述第1流路,利用稀释气体稀释试样气体,通过将稀释后的试样气体导入粒子测量部,来调整粒子测量部的测量范围;以及第2调整部,其设置在第2流路,对将试样气体导入成分分析部的导入时间进行调整。
- 粒子分析装置
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