专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]金属粉芯器件的功率损耗分析方法、优化方法及介质-CN202211702520.8在审
  • 刘建廷;景峰;王岳辉 - 北京七星飞行电子有限公司
  • 2022-12-28 - 2023-05-02 - G16C60/00
  • 本发明涉及一种金属粉芯器件的功率损耗分析方法、优化方法及介质,其功率损耗分析方法包括:通过测量设备获取金属粉芯器件的功率损耗;将获取的功率损耗分解成包含待求解损耗系数的损耗和包含待求解涡流损耗系数的涡流损耗;依据分解得到的待求解损耗系数的损耗和包含待求解涡流损耗系数的涡流损耗,形成损耗曲线;基于形成的损耗曲线求取损耗系数和涡流损耗系数,进而确定损耗和涡流损耗。本发明将产品的功率损耗分解成损耗和涡流损耗,其分离计算过程简单,无需依赖专门设备或大型控制器即可有效明确功率损耗中的损耗组成部分,为后续降低产品功率损耗的优化生产工艺打下了坚实的基础。
  • 金属磁粉芯器件功率损耗分析方法优化介质
  • [发明专利]一种高频元件绕组损耗的测量方法-CN201811432097.8有效
  • 叶建盈;郑荣进;李锦彬;黄晓生;黄文彬 - 福建工程学院
  • 2018-11-28 - 2021-03-02 - G01R27/26
  • 本发明涉及一种高频元件绕组损耗的测量方法,采用励源分别施加于并联的被测元件和参考元件的两端,使得两个元件两端施加的励源电压相同;所述被测元件由芯和绕组组成;所述参考元件采用与被测元件具有相同规格和材料的芯和绕组,并在此基础上增加一个辅助绕组;测量时所述参考元件辅助绕组开路,通过损耗测量仪器测量电参数,根据测量出的电参数与损耗的关系,获得所述被测元件的绕组损耗。本发明能够实现对任意励波形工况下高频元件的绕组损耗进行测量,且获得的损耗不仅能体现元件中磁场、温度以及实际工况对绕组损耗的影响,还可测量多绕组元件中每个绕组的损耗。测量方便、快捷、成本低。
  • 一种高频元件绕组损耗测量方法
  • [发明专利]一种直接测量元件绕组损耗的方法-CN201610635858.4有效
  • 叶建盈;郑荣进 - 福建工程学院
  • 2016-08-05 - 2019-03-12 - G01R27/26
  • 本发明公开了一种直接测量元件绕组损耗的方法,元件包括芯和绕组,在元件的芯上增加绕制一个辅助绕组,并将辅助绕组开路,给元件施加励源,通过测量仪器测量元件的被测绕组和辅助绕组端口之间的电压关系,以及流经被测绕组的电流,将端口之间的电压进行计算处理得到被测绕组损耗的电压,计算得到被测绕组的功率,就是被测绕组的损耗。本发明可以适用于测量任意励波形工况下任何元件的绕组损耗,也可用于在线测量功率变换器中元件的绕组损耗。不仅能体现元件中磁场、温度以及实际工况对绕组损耗的影响,还可测量多绕组元件中每个绕组的损耗。实现了从总损耗中分离出绕组损耗,测量方便、快捷、成本低。
  • 一种直接测量元件绕组损耗方法
  • [发明专利]损耗的确定方法、装置-CN202010797048.5有效
  • 程明;李彪;胡余生;陈彬;王景霞;肖勇 - 珠海格力电器股份有限公司
  • 2020-08-10 - 2022-04-12 - G01R33/12
  • 本申请公开了一种损耗的确定方法、装置。其中,该方法包括:在无直流偏情况下,对第一铁耗值和第一交流通密度幅值进行拟合,得到至少一种交变磁场频率下的第一损耗系数;在有直流偏情况下,获取与电机对应的励绕组的第二交流通密度幅值、磁场强度、与第二交流通密度幅值对应的第二铁耗值,至少基于第二交流通密度幅值、实际交流通密度幅值和第二铁耗值确定第二损耗系数,基于第一损耗系数和第二损耗系数确定电机的目标损耗。本申请解决了由于相关技术中在计算电机的损耗不能兼顾通密度幅值和直流偏对电机损耗的影响造成的计算得到的损耗结果不准确、有较大误差的技术问题。
  • 损耗确定方法装置
  • [发明专利]一种损耗分离计算方法-CN201310062894.2有效
  • 周岩;谢俊 - 南京邮电大学
  • 2013-02-28 - 2013-07-10 - G01R33/12
  • 本发明公开了一种损耗分离计算方法,在给定的通密度变化量条件下,利用任意2个不同频率工作点在正弦激励下的损耗数据,建立损构成分离方程组分离损耗和涡流损耗,通过线性插值法模拟芯材料电阻率与频率之间的对应关系,将剩余损耗中的额外涡流损耗归集到经典传导涡流损耗中。本发明的优点是物理概念清晰,分离计算过程简单,无需依赖专门仪器即可有效分离芯中的损耗成分,可广泛适用于仿真软件模拟在电力电子应用中芯材料在不同频率和磁感应强度下的损耗大小。
  • 一种损耗分离计算方法

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