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- [实用新型]一种用于多芯光缆的测试设备-CN201920992700.1有效
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陈炳钦;秦庆兵
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深圳市晟科通信技术有限公司
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2019-06-28
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2020-02-18
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G01M11/00
- 本实用新型属于光缆测试技术领域,涉及一种用于多芯光缆的测试设备,包括相连接的测试主机和功率计;所述测试主机上设有测试通道输入端口和测试通道输出端口,所述测试通道输入端口和测试通道输出端口之间连接有分路器;所述测试通道输入端口处设有可见光光源,所述可见光光源对应分路器的一个输入支路端口设置;所述功率计接口处设有光电传感器;所述测试通道输入端口包括单模测试通道输入端口、OM1测试通道输入端口和OM2/OM3测试通道输入端口,对应的,所述测试通道输出端口包括单模测试通道输出端口、OM1测试通道输出端口和OM2/OM3测试通道输出端口。本实用新型,可迅速从多芯光缆中挑出同一测试线两端的连接头,并对其进行测试,可提高光缆测试效率。
- 一种用于光缆测试设备
- [发明专利]多端口器件分析装置和方法以及该装置的校准方法-CN00100728.9无效
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中山喜和;我田浩隆
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株式会社鼎新
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2000-02-03
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2000-08-23
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H04B17/00
- 一种多端口器件分析装置,包括信号源,多个测试端口,多个测量单元,基准信号测量单元,多个终端电阻器,开关装置,把测试信号有选择地提供给一个测试端口(输入端口),使终端电阻器不连接具有测试信号的测试端口(输入端口),同时使终端电阻器连接所有其它的测试端口;其中,在不改变测试端口和DUT终端之间连接的情况下,获得多端口DUT的参数,同时改变测试端口的选择,直至所有测试端口都被指定为输入端口。
- 多端口器分析装置方法以及校准
- [发明专利]多端口装置的分析设备和方法及其校正方法-CN00803374.9无效
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中山喜和;我田浩隆;饭田实
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株式会社鼎新;鼎新美国研究中心
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2000-02-07
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2004-07-14
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G01R35/00
- 一种多端口装置分析设备能够以改进的效率和准确度分析具有三个或更多终端的多端口装置。该多端口装置分析设备包括:一个信号源(112),用于将一个测试信号提供给所测试的多端口装置(DUT)的一个端子;多个测试端口(P1-Pn),用于将多端口DUT的所有端子连接到相应的测试端口;多个测量单元(MU1-MUn),用于测量来自相应测试端口的信号;一个参考信号测量单元(R),用于测量测试信号,以获得参考数据;多个终端电阻(TR1-TRn),每个被分配给一个测试端口;和开关装置(SW1-SWn),用于选择性地将测试信号提供给测试端口(输入端口)之一,将终端电阻从输入测试端口断开,同时将终端电阻连接到所有其它的测试端口;其中获得多端口DUT的参数,而不改变测试端口和DUT端子之间的连接,同时改变测试端口的选择直到所有的测试端口被指定为输入端口
- 多端装置分析设备方法及其校正
- [实用新型]一种MOSFET晶圆漏电流并行测试装置-CN202020402029.3有效
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王煜
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陕西三海测试技术开发有限责任公司
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2020-03-26
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2021-01-19
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G01R31/52
- 本实用新型公开了一种MOSFET晶圆漏电流并行测试装置,其测试电路包括测试模块、MOSSFET、开关、载物台,所述测试模块以工作特性分为A、B、C三个端口,从每个端口引出两根连接线分别为采样端口和输出端口,其MOSFET的栅极和测试模块A端口的采样端口和输出端口连接,MOSFET的源极与测试采样模块C端口的采样端口和输出端口连接,所有工位的测试模块B端口串联与被测MOSFET的公共漏极连接,所有被测MOSFET的漏极置于载物台之上,开关分别连接A端口采样端口和B端口采样端口与C端口采样端口和B端口采样端口。本实用新型的一种MOSFET晶圆漏电流并行测试装置,能够实现快速在多工位下测试晶圆MOSFET的漏电流参数,结构简单并且提高了测试效率。
- 一种mosfet漏电并行测试装置
- [发明专利]端口测试系统-CN202210977141.3在审
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刘明
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硅谷数模(苏州)半导体股份有限公司;硅谷数模国际有限公司
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2022-08-15
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2022-11-01
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G09G3/00
- 本申请提供了一种端口测试系统。端口测试系统包括:标准信号发生器,包括第一输出端和第二输出端;控制单元,包括一个第一继电器、至少一个第二继电器、多个第三继电器以及处理器模块,处理器模块包括多个IO接口,分别与第一继电器、第二继电器以及第三继电器一一对应通信连接;待测设备包括多个测试端口以及一个控制端口,多个测试端口与多个第三继电器的输出端一一对应通信连接。该测试系统通过控制单元中的处理器模块控制第一继电器、第二继电器以及第三继电器的闭合与断开,从而可以对任意一个测试端口进行测试,无需手动操作,进而解决了现有技术中DisplayPort端口一致性测试效率较低的问题
- 端口测试系统
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