专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]基于电压解耦控制多波前校正的自适应光学系统-CN201310231058.2有效
  • 沈锋;叶红卫;周睿;甘永东 - 中国科学院光电技术研究所
  • 2013-06-12 - 2013-09-11 - G02B26/06
  • 一种基于电压解耦控制多波前校正的自适应光学系统,包括多个波前校正、分光镜、一个波前传感和一个波前处理机;多个波前校正在光路中随意串联排布,波前传感在空间上与最高精度波前校正满足共轭关系,最高精度波前校正对波像差进行高精度直接斜率法校正,其他各波前校正根据高精度波前校正校正电压解耦算法对低阶波前像差进行电压解耦分离,对特定像差进行模式法校正,也可以对全部像差进行直接斜率法校正,最终各个波前校正校正像差叠加,完成对总体像差的高精度校正本发明用于强激光领域的光束净化自适应光学系统,大气湍流校正、热晕校正等相差变化剧烈,需要多套自适应光学系统联合校正的光学领域。
  • 基于电压控制多波前校正自适应光学系统
  • [发明专利]自适应光学系统中波前传感校正对准装置-CN201010121435.3有效
  • 顾乃庭;杨泽平;黄林海;饶长辉 - 中国科学院光电技术研究所
  • 2010-03-10 - 2010-08-18 - G02B26/06
  • 自适应光学系统中波前传感校正对准装置,由波前传感波前记录波前校正、能够平移和旋转的电控平移台、位置失配评估、平移台控制和计算机组成;通过计算机给波前校正独立单元施加电压的方式标记波前校正的位置,利用波前传感自身的波前探测能力测量波前传感波前校正之间的位置失配。光束经波前校正反射后进入波前传感,由波前记录记录波前传感探测到的波前校正面形信息,位置失配评估根据波前记录记录信息计算并输出位置失配数据到平移台控制中,最后由平移台控制控制电控平移台完成对波前传感的位置调整本发明能够准确对准波前传感波前校正的位置,大大提高两者对准精度和对准效率,保证自适应系统的波前控制能力。
  • 自适应光学系统中波传感器校正对准装置
  • [发明专利]一种基于RUN优化算法的波前校正系统及校正方法-CN202310254090.6在审
  • 杨慧珍;臧祥栋;朱荣刚;陈鹏 - 金陵科技学院
  • 2023-03-16 - 2023-07-07 - G02B27/00
  • 本发明公开了一种基于RUN优化算法的波前校正系统及校正方法,系统包括:波前校正、图像传感、透镜、电脑控制模块、图像采集卡、D/A转换和高压放大器;方法以表征校正波前畸变程度的性能指标函数作为优化算法目标函数,将RUN算法作为系统闭环校正控制算法,波前校正作为系统校正波前畸变器件,由RUN算法控制波前校正校正波前像差,每次迭代时,将算法获得的电压控制信号经过放大施加到波前校正,改变波前校正镜面的形状,产生相应的校正波前。本方的系统小型化、低值化,收敛速度快,对于不同湍流强度下波前畸变适应性强,能够充分发挥变形镜的校正能力。
  • 一种基于run优化算法校正系统方法
  • [发明专利]基于共轭成像的组合式波前校正-CN200610089780.7无效
  • 张雨东;刘桂林 - 中国科学院光电技术研究所
  • 2006-07-17 - 2007-01-03 - G02B27/00
  • 基于共轭成像的组合式波前校正,包括多个波前校正和4f光学系统,所述的波前校正可以是两个、三个或更多,波前校正可以是采用压电陶瓷(PZT)或电致伸缩陶瓷(PMN)作为驱动来制造的连续镜面变形镜,mirror),也可以是采用微电子机械系统(MEMS)技术制造的变形镜,还可以是液晶空间光调制器件(LC-SLM);所述的4f光学系统既可以采用透镜构成,也可以采用离轴反射抛物镜构成,4f光学系统将相邻波前校正依次连接起来,构成一个组合式波前校正,且使每个波前校正都处在光学共轭成像位置。本发明结构简单、加工工艺易实现,为实现高驱动单元数波前校正效果提供了一个易于实现的方法。
  • 基于共轭成像组合式校正
  • [发明专利]基于共轭成像的多变形镜串连组合式波前校正-CN200710064686.0无效
  • 饶长辉;杨华峰 - 中国科学院光电技术研究所
  • 2007-03-23 - 2007-08-22 - G02B26/06
  • 基于共轭成像的多变形镜串连组合式波前校正,包括至少两个相同波前校正和对应的4f光学系统,相邻的波前校正由4f光学系统连接起来,构成一个组合式波前校正,且使每个波前校正都处在光学共轭成像位置,即每一个波前校正依次被放在4f光学系统的前焦面和后焦面,波前校正可以是采用压电陶瓷或电致伸缩陶瓷作为驱动的连续镜面分立驱动的变形镜,或双压电变形镜,或者是采用微电子机械系统技术制造的变形镜等;4f光学系统采用透镜构成的折射系统本发明结构简单,光能利用率高,能够有效的增加波前校正行程,为利用现有变形镜制造技术提高自适应光学系统波前校正效果提供了一个易于实现的方法。
  • 基于共轭成像多变串连组合式校正
  • [发明专利]一种无波前传感自适应光学系统自标定方法-CN202210204390.9有效
  • 董冰;张泽霞;任虹禧 - 北京理工大学
  • 2022-03-03 - 2022-11-29 - G02B27/00
  • 本发明涉及一种无波前传感自适应光学系统自标定方法,属于光学技术领域。本发明通过对波前校正致动施加偏置,并采集图像确定评价函数的方式,实现无波前传感自适应光学系统的自标定;包括以下步骤:初始化波前校正,确定图像评价函数,获取初始评价函数,依次对波前校正致动施加正负偏置,同时对两个不同的波前校正致动施加正负偏置,最终确定标定矩阵。本发明不需要使用波前传感,对波前校正致动施加相应偏置,采集图像,确定评价函数,得到标定矩阵,实现对评价函数与波前校正致动的控制量之间关系的标定;在标定过程中消除初始像差对标定结果的影响,扩大标定方法的应用范围
  • 一种无波前传感器自适应光学系统标定方法
  • [发明专利]一种基于成像清晰度的显微镜像差校正装置-CN202111617209.9在审
  • 周龙峰;任钢;赵琦;陈好;张浩 - 西南技术物理研究所
  • 2021-12-27 - 2022-05-13 - G02B27/00
  • 本发明公开了一种基于成像清晰度的显微镜像差校正装置,包括光学显微镜、波前校正、成像探测、控制、反射镜,建立显微镜像差实时监测闭环控制回路,其中光学显微镜包含物镜、目镜。波前校正能够对显微镜系统光路波前相位进行调制,成像探测能够对显微镜系统光学成像进行探测,控制能够将成像探测获取的图像信息进行清晰度计算并计算出波前校正校正参数,最终对波前校正施加校正参数,实现对成像清晰度下降进行校正。本发明可以运用已有的光学显微镜系统,该系统只需增加波前校正、反射镜,控制过程简单可行,能够提升显微镜光学系统的分辨率,具有实际应用的意义。
  • 一种基于成像清晰度显微镜校正装置

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