专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]元件安装机-CN201980098021.2有效
  • 稻垣光孝;大山茂人;成田春菜 - 株式会社富士
  • 2019-07-04 - 2023-04-14 - H05K13/08
  • 元件安装机具备头、头移动装置、拍摄装置以及控制装置。控制装置执行以下动作:下元件安装动作,向基板安装下元件;上元件安装动作,向被安装于基板上的下元件之上安装上元件;以及下元件安装检查动作,在进行了下元件安装动作之后且进行上元件安装动作之前,对安装了下元件的基板进行拍摄,并且基于拍摄图像进行下元件的安装检查。进而,控制装置在向被安装于基板上的多个下元件中的不同的下元件之上分别安装上元件的情况下,作为下元件安装检查动作的执行时机,根据从包括第一检查模式和第二检查模式在内的多个检查模式中选择出的检查模式来执行下元件安装检查动作,该第一检查模式是在即将进行各上元件的上元件安装动作之前进行位于安装对象的上元件之下的下元件的安装检查的模式,该第二检查模式是连续地进行多个下元件全部的安装检查的模式。
  • 元件装机
  • [发明专利]元件安装系统-CN201980097987.4有效
  • 稻垣光孝;大山茂人;成田春菜 - 株式会社富士
  • 2019-07-04 - 2023-09-22 - H05K13/00
  • 元件安装系统具备多个元件安装机,多个元件安装机沿着基板搬运方向排列并且分别具有对基板进行拍摄的拍摄装置。进而,元件安装系统具备学习装置、检查装置以及存储装置。学习装置对进行了元件的安装动作后的元件安装后基板进行拍摄,取得基于元件安装后基板的拍摄图像而得到的教师数据,并且基于所取得的教师数据进行机器学习,从而生成学习数据。检查装置对元件安装后基板进行拍摄,根据第一检查条件或者检查精度低于第一检查条件的第二检查条件,使用学习数据进行在元件安装后基板的拍摄图像中识别元件的图像处理,从而进行元件安装后基板的检查。存储装置在根据第二检查条件进行了元件安装后基板的检查的情况下,将以第二检查条件进行了检查的内容的检查信息与识别元件安装后基板的识别信息建立关联地存储元件安装后基板的拍摄图像。
  • 元件安装系统
  • [发明专利]光学元件检查设备-CN201710817057.4在审
  • 庄添财 - 旭东机械工业股份有限公司
  • 2017-09-12 - 2019-03-19 - G01N21/958
  • 本发明提供了一种光学元件检查设备,光学元件检查设备用于检查一UV膜载具上的光学元件的良莠,光学元件检查设备包括一第一检查装置及一第二检查装置;第一检查装置用于拍摄取得各光学元件的顶面影像,并对各顶面影像进行分析,及根据分析结果判断出合格与不合格的光学元件并记录其位置;第二检查装置配置在第一检查装置之后,并只拍摄取得被第一检查装置判断为合格的光学元件的底面影像,对各底面影像进行分析,根据分析结果判断出合格与不合格的光学元件,及将合格的光学元件放置在一UV膜上。另外,包装装置由一UV膜载具及一UV膜所构成,UV膜载具的一UV承载膜与UV膜可相黏合,上述经检查为合格的多个光学元件被密封在UV承载膜与UV膜之间。
  • 光学元件检查装置检查设备载具承载膜包装装置拍摄黏合密封分析检查记录配置
  • [发明专利]检查系统、检查方法及检查装置-CN201210060258.1有效
  • 小林纱由美;浪冈保男;麻柄隆;山田涉 - 株式会社东芝
  • 2012-03-08 - 2012-09-26 - H01L21/66
  • 根据一个实施形态,本发明提供具备抽样检查部、检查插补部、等级划分部以及信息制作部的检查系统。抽样检查部收集通过抽样检查获得的元件的特性值。检查插补部使用插补法求出没进行过上述抽样检查的未检查元件的特性值。等级划分部根据上述收集到的通过抽样检查获得的元件的特性值和通过上述检查插补部求出的元件的特性值按等级制作与元件组有关的信息。信息制作部根据与上述等级和上述元件组有关的信息制作所希望的信息。
  • 检查系统方法装置
  • [发明专利]视觉检查模块、其元件检查系统及其元件检查方法-CN201980017704.0在审
  • 柳弘俊;白京奂;裵秀珉;张成厦 - 宰体有限公司
  • 2019-03-07 - 2020-10-23 - G01N21/88
  • 本发明涉及视觉检查模块、其元件检查系统及其元件检查方法,更详细地说,涉及针对半导体元件执行视觉检查的视觉检查模块、其元件检查系统及其元件检查方法。本发明公开了一种视觉检查模块(100),作为执行平面形状为直角四边形的元件(1)的视觉检查的视觉检查模块(100),包括:图像获取部(110),用于获取元件(1)的图像;光路形成部(120),选择性形成第一光路(L1)和一对第二光路(L2),所述第一光路(L1)为使元件(1)的第一平面的第一平面图像到达所述图像获取部(110),所述一对第二光路(L2)为使所述元件(1)的相对的一对侧面的一对侧面图像到达所述图像获取部
  • 视觉检查模块元件系统及其方法
  • [发明专利]电子元件检查系统及检查方法-CN201210525567.1无效
  • 黄思纶;吴志偟 - 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
  • 2012-12-10 - 2014-06-18 - G01R31/06
  • 本发明提供一种电子元件检查系统,包括一设定模块,用于供用户在参考样本图片中设定需要检查极性的电子元件;一图像获取模块用于获取待检查电子元件极性的待检查电路板的图像;一比较模块,用于比较将参考样本图片中电子元件的像素颜色值与待检查电路板图像中相同位置的电子元件的像素颜色值是否相同;以及一处理模块,在比较模块确定比较结果不同时,生成用于提示电子元件极性安装错误的提示信息。本发明还提供一种电子元件检查方法。本发明中的电子元件检查系统以及电子元件检查方法通过图像对比的方法自动判断电子元件的极性是否安装正确,不需要人工检查,节省了大量的时间和人力。
  • 电子元件检查系统方法
  • [发明专利]检查-CN202011082908.3在审
  • J-M.埃塔穆托;M.瓦斯克拉;J.科佩拉 - 通力股份公司
  • 2020-10-12 - 2021-04-30 - B66B1/46
  • 本发明涉及一种可以在恶劣条件下使用的检查站(21)。检查站包括开关元件(2),所述检查站响应于所述开关元件的致动以产生预定的控制信号。流体密封元件(5)将检查站的内部(15)与检查站(21)的外部(7)隔绝,所述密封元件(5)包括位于开关元件(2)处的一个或多个柔性按钮区域(6),以提供从检查站的外部(7)致动位于密封元件内部(15)中的开关元件的途径。
  • 检查站
  • [发明专利]半导体电路-CN202080057840.5在审
  • 入口雅夫;后藤阳介 - 新唐科技日本株式会社
  • 2020-08-28 - 2022-03-22 - H03M1/10
  • 半导体电路(1)具备:模拟电路(101),输入被测定信号;以及数字电路(102),输出数字输出信号;模拟电路(101)具有:修正元件群(10),包括用来修正偏移的修正元件,该偏移是根据上述模拟电路的特性偏差而在传送被测定信号的路径中产生的偏差量;以及检查元件群(20),包括用来对修正元件进行检查检查元件;数字电路(102)使用检查元件群(20)对修正元件群(10)进行检查
  • 半导体电路
  • [发明专利]检查装置及检查方法-CN200680036279.2有效
  • 坂口能一;并木兴治 - 日本先锋公司;日本先锋自动化公司
  • 2006-09-28 - 2008-10-01 - G01M3/40
  • 本发明提供一种检查装置,其可准确地进行小型压电元件用封装的气密检查,其检查时间可比一般的检查装置更短,其可使检查装置比较小型化,其可在短时间内检查较大量的被检查对象的压电元件用封装。检查装置(1)是对气密密封有压电元件的电子元件(压电元件用封装)(2)进行气密检查检查装置,其具有:加压部(1401)(加压室(140)、加压装置(146)),其在开合自如的加压室(1401)内设置有压电元件用封装(2)的状态下,对该压电元件用封装(2)的周围加压;测定部(145),其对设置于加压部(加压室(140)、加压装置(146))的压电元件用封装2的阻抗进行测定;判别部(171),其根据通过测定部(145)测定的非加压时和加压时的阻抗计算出变化量,将该变化量与设定值进行比较,判别电子元件的气密性为不良。
  • 检查装置方法

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