“样品面”专利关键词查询_检索下载_查询列表_检索列表_行业专利分布_钻瓜专利网

钻瓜专利网为您找到相关结果1947346个，建议您升级VIP下载更多相关专利

[发明专利]一种自动砂轮磨样机样品水平定位方法-CN201110077717.2有效
发明人：张永丰;何泉;黄宗仁;巴虹;赵立章;韩晓迎 -专利权人：鞍钢股份有限公司
申请日： 2011-03-30 - 公布日： 2012-10-10 - 主分类号： B24B41/06 文献下载
摘要：本发明提供一种自动砂轮磨样机样品水平定位方法，将样品下表面中心对准样品放置台中心设置的半球形凸起，将定位面调整至水平位置，并使定位面与样品上表面接触，在半球形凸起作用下，样品上表面与定位面贴合，液压夹具将样品夹紧后，定位面抬离样品上表面，样品待加工面将稳定在与砂轮磨削运动面平行位置。本发明可迅速将样品加工面调整至与砂轮磨削运动面平行，实现对上下表面平行度不好的样品进行补偿修正，保证样品加工质量，扩大砂轮磨样机加工样品的使用范围，提高自动磨样机的使用效率，缩短试样分析周期，满足生产的需要
一种自动砂轮样机样品水平定位方法

[发明专利]样品测量池-CN201410781960.6在审
发明人：邓文平 -专利权人：邓文平
申请日： 2014-12-17 - 公布日： 2016-03-30 - 主分类号： G01N21/03 文献下载
摘要：本发明揭示了一种样品测量池，样品测量池包括反射腔及至少一个反射结构，反射腔用于容置待测样品；反射结构设置于所述反射腔的边界；其中，反射结构包括至少一个接触样品的接触面和两个远离样品反射面，所述反射面为全反射面或非全反射面本发明的样品接触面对样品具有化学惰性，同时设置反射面为远离待测样品的一面，待测样品、样品中的杂质不会破坏起反射作用的反射面，本发明具有环境适应能力强和长光程的优点。
样品测量

[实用新型]样品测量池-CN201420799892.1有效
发明人：邓文平 -专利权人：邓文平
申请日： 2014-12-17 - 公布日： 2015-05-06 - 主分类号： G01N21/01 文献下载
摘要：本实用新型揭示了一种样品测量池，样品测量池包括反射腔及至少一个反射结构，反射腔用于容置待测样品；反射结构设置于所述反射腔的边界；其中，反射结构包括至少一个接触样品的接触面和两个远离样品反射面，所述反射面为全反射面或非全反射面本实用新型的样品接触面对样品具有化学惰性，同时设置反射面为远离待测样品的一面，待测样品、样品中的杂质不会破坏起反射作用的反射面，本实用新型具有环境适应能力强和长光程的优点。
样品测量

[发明专利]样品测量池-CN201410782027.0在审
发明人：邓文平 -专利权人：邓文平
申请日： 2014-12-17 - 公布日： 2016-03-30 - 主分类号： G01N21/03 文献下载
摘要：本发明揭示了一种样品测量池，所述样品测量池包括反射腔及至少一个反射结构，反射腔用于容置待测样品；反射结构设置于反射腔的边界；反射结构包括接触待测样品的接触面和远离待测样品的反射面；本发明的样品接触面对样品具有化学惰性，同时设置反射面为远离待测样品的一面，以使待测样品及样品中的杂质不会破坏起反射作用的反射面。本发明兼顾了样品测量池的环境适应能力强和长光程的优点。
样品测量

[发明专利]一种高亮面表面缺陷检测装置-CN202111239723.3在审
发明人：张翔;魏凯;夏勇;余劲松 -专利权人：慧三维智能科技（苏州）有限公司
申请日： 2021-10-25 - 公布日： 2022-01-21 - 主分类号： G01N21/95 文献下载
摘要：本申请公开了一种高亮面表面缺陷检测装置，包括至少一个相机，所述相机设置于高亮面样品上方，所述相机用于拍摄高亮面样品表面的相位图像；至少一个投影装置，所述投影装置设置于所述高亮面样品上方，所述投影装置用于向高亮面样品投射不同相位变化的条纹光；载物台，所述载物台用于放置高亮面样品，以调节高亮面样品相对于所述相机与所述投影装置的角度；其中，相机对不同角度状态下高亮面样品的相位图像进行拍摄，以识别高亮面样品表面缺陷区域。该种高亮面表面缺陷检测装置利用三个相机构成的双目系统获得高亮面样品表面缺陷区域的三维信息，对缺陷区域坐标进行标定，能够大大提高缺陷检测效率，防止漏检、误检。
一种高亮面表面缺陷检测装置

[实用新型]样品测量池-CN201420799929.0有效
发明人：邓文平 -专利权人：邓文平
申请日： 2014-12-17 - 公布日： 2015-05-06 - 主分类号： G01N21/03 文献下载
摘要：本实用新型揭示了一种样品测量池，所述样品测量池包括反射腔及至少一个反射结构，反射腔用于容置待测样品；反射结构设置于反射腔的边界；反射结构包括接触待测样品的接触面和远离待测样品的反射面；本实用新型的样品接触面对样品具有化学惰性，同时设置反射面为远离待测样品的一面，以使待测样品及样品中的杂质不会破坏起反射作用的反射面。本实用新型兼顾了样品测量池的环境适应能力强和长光程的优点。
样品测量

[发明专利]一种针对薄、小样品的磨抛夹具及其磨抛方法-CN201911390488.2有效
发明人：宋迎东;张悦;张磊成;陈西辉;江荣 -专利权人：南京航空航天大学
申请日： 2019-12-30 - 公布日： 2021-11-30 - 主分类号： G01N1/28 文献下载
摘要：本发明涉及一种针对薄、小样品的磨抛夹具及其磨抛方法，其中：包括磨抛夹具本体，磨抛夹具本体包括依次连接的左端手柄，样品粘贴段和右端手柄，样品粘贴段一面为胶面，用于黏贴薄、小样品，另一面为施力面，左端手柄和右端手柄均向施力面一侧弯折，使得样品粘贴段的胶面外凸，薄、小样品包括大径向尺寸试验件和小径向尺寸试验件，大径向尺寸试验件的一面能直接黏贴在样品粘贴段上，小径向尺寸试验件则镶嵌于镶嵌树脂中，与镶嵌树脂组成镶嵌试验件，镶嵌试验件的一面能直接黏贴在样品粘贴段上本发明结构简单，成本低廉，可以满足对薄、小样品的高效稳定的磨抛。
一种针对样品夹具及其方法

[发明专利]液体吸光度测试装置及吸光度测试方法-CN201510044068.4在审
发明人：宋光均;饶福原 -专利权人：广州标旗电子科技有限公司
申请日： 2015-01-28 - 公布日： 2015-05-06 - 主分类号： G01N21/31 文献下载
摘要：本发明涉及一种液体吸光度测试装置及吸光度测试方法，包括：将液态样品夹在第一样品接触面和第二样品接触面之间，发光口发出测试光，测试光从第一样品接触面射入样品、穿过样品到达第二样品接触面上的反射面、被反射面反射、再次穿过样品、最终进入第一样品接触面上的采光口。避免测试过程中样品断裂使杂质进入光路造成的测试不准确，提高测试精度，使测试重复性更好，并且设备结构简单、测试操作简便。
液体光度测试装置方法

[实用新型]一种用于DWL66FS型激光直写系统样品的定位夹具-CN201420539684.8有效
发明人：李华;郭党委;应卫 -专利权人：兰州大学
申请日： 2014-09-19 - 公布日： 2014-12-31 - 主分类号： G03F7/20 文献下载
摘要：本实用新型公开一种用于DWL66FS型激光直写系统样品的定位夹具，包括平板结构的C面，所述C面下方设有与C面垂直的A面和B面，所述A面和B面用于紧贴DWL66FS型激光直写系统样品台相邻两侧，所述C面上设有与待加工样品匹配的形状结构，用于贴靠样品。本实用新型通过夹具上设有的与待加工样品匹配的形状结构来放置不同结构的样品，以使得同一样品多次放置的位置近乎完全一致，本实用新型结构简单，方便实用。
一种用于 dwl66fs 激光系统样品定位夹具

[实用新型]特纳10-AU现场荧光光度计的紫外-可见吸收附件-CN200920139613.8无效
发明人：陈佳宁;吴芳;张勇 -专利权人：厦门大学
申请日： 2009-07-24 - 公布日： 2010-03-31 - 主分类号： G01N21/01 文献下载
摘要：设有样品池、样品池架和L型拉杆，样品池设有入射面、出射面和反射面，入射面与出射面垂直，反射面与入射光呈45°角，反射面上嵌入反射镜，样品池的入射面、出射面和反射面为石英材料制成，样品池的其它部分为普通玻璃制成，样品池镶嵌于样品池架的卡槽上，L型拉杆的竖杆嵌入设于样品池架中心凹槽内，L型拉杆的横杆设于样品池下方。
特纳 10 au 现场荧光光度计紫外可见吸收附件

[发明专利]用于透射电子显微镜检测的样品组及其制作方法-CN201010275065.9有效
发明人：杨卫明;赵燕丽;庞凌华;段淑卿;齐瑞娟 -专利权人：中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
申请日： 2010-09-03 - 公布日： 2012-03-21 - 主分类号： G01N1/28 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于透射电子显微镜(TEM)检测的样品组，所述样品组包括粘合在一起的层状标识件和至少两个样品，样品组中各样品的被粘合的表面均为样品的非检测面，且各样品的检测面均暴露于样品组的供透射电子显微镜检测之用的表面；层状标识件位于样品组中的两个样品的非检测面之间，并以相反的两个表面分别与两个样品的非检测面粘合，以标识各样品的排列方向；或层状标识件仅以一个表面与位于样品组的首端或尾端的非检测面粘合，以标识样品组的首端或尾端相对于现有的TEM检测样品组，使用该样品组，可方便地区分相同或相似图案的多个样品，从而提高TEM检测的整体效率。该样品组能够在目前的IC工艺中得到广泛的应用。
用于透射电子显微镜检测样品及其制作方法

[实用新型]直读光谱分析用小样品夹具-CN201320140941.6有效
发明人：李吉 -专利权人：南京汽车集团有限公司
申请日： 2013-03-26 - 公布日： 2013-09-18 - 主分类号： B25B11/00 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种直读光谱分析用小样品夹具，所述的夹具包括上压板（5）、下压板（6），所述上压板（5）和下压板（6）通过螺栓（8）和螺母（7）连接；所述样品（4）固定在上压板（5）和下压板（6）之间；样品（4）的A面与上压板（5）和下压板（6）的B面位于一平面上。采用本实用型的技术方案，有效的解决了样品加工面及A面和夹具与样品A面同侧的面及B面的同一平面问题，有效的解决了部分样品由于尺寸稍小而不能在标准样品火花台检测条件下，进行检测的问题。
直读光谱分析样品夹具

[实用新型]一种倾斜式磁分离架-CN202123295662.0有效
发明人：刘雄浪;汪卉;杨美玲;梁晓丹;陈东茵;闫承夫;夏皓男 -专利权人：河北医陆生物科技有限公司
申请日： 2021-12-24 - 公布日： 2022-07-29 - 主分类号： G01N33/543 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种倾斜式磁分离架，包括磁铁固定架、磁铁本体和样品管定位弧面夹；磁铁本体倾斜设置，磁铁固定架用于支撑磁铁本体，样品管定位弧面夹位于磁铁本体上侧，样品管定位弧面夹为圆柱形，样品管定位弧面夹用于盛放试管，样品管定位弧面夹与水平面的倾斜角度为43‑48°。通过磁铁固定架对磁铁本体进行支撑，使得磁铁本体倾斜设置，样品管定位弧面夹位于磁铁本体的上侧，样品管定位弧面夹也倾斜设置，当装有磁性微球的试管放到样品管定位弧面夹中时，能够通过磁铁本体吸附溶液中的磁性微球
一种倾斜分离

[发明专利]用于分析含铁的可还原性材料的测试样品的方法-CN200610002497.6有效
发明人：安德斯·阿佩尔奎斯特;克洁尔－奥弗·米克尔森;塞加·福斯摩;厄本·霍尔姆达尔 -专利权人：洛萨瓦拉－基鲁纳瓦拉公司
申请日： 2006-01-04 - 公布日： 2007-01-17 - 主分类号： G01N3/08 文献下载
摘要：分析可还原性材料测试样品(A)性能的方法，该材料含有在生球或者球粒生产过程中以生球或者球粒形式出现的铁，用于优化制粒过程和接下来的铁提取过程，这通过利用了具有可相对移动的第一器件和第二器件的装置，器件分别具有相互面对的接触面方法包括步骤：a)置测试样品(A)于接触面(8、13)间；b)连续减少接触面(8、13)间距离；c)当测试样品与接触面(8、13)接触，测测试样品(A)直径；d)在压缩测试样品(A)期间，将接触面(8、13)进一步向彼此方向移动直至测试样品碎裂；e)连续记录和存储加于测试样品(A)的力和时间；f)记录测试样品(A)在所有碎裂点的最大力；g)增加接触面(8、13)间距离；h)移去测试样品。
用于分析原性材料测试样品方法

[实用新型]X射线衍射仪测定固体块状样品用样品架-CN200420092151.6无效
发明人：储刚 -专利权人：辽宁石油化工大学
申请日： 2004-08-25 - 公布日： 2005-12-14 - 主分类号： G01N23/207 文献下载
摘要：本实用新型设计了一种X射线衍射仪测定固体块状样品用样品架。该样品架加工简单、装卸方便，具有实际应用价值。样品架由基座、样品测试面基准挡板框和用于固定块状样品的压簧导杆三部分构成。本实用新型不需要对原X射线衍射仪测角仪的样品台进行改造，固体块状样品用样品架的基座右端插板(6)直接插入原仪器样品台的样品板插槽内，左端支撑板(9)落在测角仪的θ轴转盘上，基座上板面与样品测试面基准挡板框的下板面铆合或用粘合剂粘合固定并处于水平位置基座右端(6)的外侧与样品测试面基准挡板(3、5)的内侧处于同一个垂直平面，以保证固体块状品样品测试面符合测试的要求。
射线衍射测定固体块状样品

1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
下一页»
尾页
共 100000 条