专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]用于验证预先擦除的具有页缓冲器的非易失性存储器装置-CN200610051413.8无效
  • 李柱烨 - 海力士半导体有限公司
  • 2006-02-24 - 2006-09-20 - G11C16/10
  • 非易失性存储器装置具有可验证预先擦除的页缓冲器。所述装置可包括:单元阵列,具有由安置于位线与字线的交叉区域的存储器单元所组成的多个串;以及多个页缓冲器,经由读出线而连接至该位线。该多个页缓冲器的每一个包括:预先擦除检测单元,响应读出线的信号检测预先擦除,以验证是否已擦除编程至存储器单元的数据;主擦除检测单元,响应于读出线的信号而检测擦除,以验证是否已擦除编程至存储器单元的数据;锁存电路,在预先擦除验证时响应预先擦除检测单元的输出信号储存数据,并在主擦除验证时响应该主擦除检测单元的输出信号储存数据;以及验证单元,在预先擦除验证或主擦除验证时响应锁存电路的信号而验证预先擦除或主擦除的通过或失败
  • 用于验证预先擦除具有缓冲器非易失性存储器装置
  • [发明专利]一种避免数据擦除出错的闪存装置-CN201710632782.4在审
  • 王文静;康太京;李炯尚;朱家骅;谢莺霞;张纲;何峻 - 东芯半导体有限公司
  • 2017-07-28 - 2017-12-22 - G11C16/14
  • 本发明提供了一种避免数据擦除出错的闪存装置,应用于闪存单元的擦除,存储阵列中包括多个存储单元,包括数据擦除单元内预先由高至低形成多个等级的擦除电压并根据外部输入的擦除信号输出一个等级的擦除电压以对被激活的存储单元进行数据擦除;数据检测单元,用以在完成对存储单元的擦除后,对其进行检测以判断是否擦除成功,并在擦除失败时向数据擦除单元发送一第二检测信号;数据擦除单元接收到第二检测信号后将擦除电压相对于之前的擦除操作提高一个等级,并重新对被激活的存储单元进行数据擦除,直至存储单元被擦除成功。其技术方案的有益效果在于,克服了现有技术中对存储单元擦除存在的过度擦除进而导致闪存装置加剧损耗的缺陷。
  • 一种避免数据擦除出错闪存装置
  • [发明专利]用于触摸屏擦除的方法和系统-CN202080038080.3在审
  • E·巴雷尔;O·哈伦;A·佩列兹 - 微软技术许可有限责任公司
  • 2020-04-10 - 2021-12-31 - G06F3/0488
  • 提供触摸屏擦除的方法、系统和计算机程序产品。一种触摸设备,包括擦除检测器,该擦除检测器被配置成分析包括由邻近该触摸设备的擦除器类型的触摸仪器之中或之上的导电图案引起的多个检测到的信号的一个或多个团块。每个检测到的信号可在该触摸设备上具有相关联的强度和位置。位置检测器被配置成基于该多个检测到的信号的位置来检测擦除器的位置。取向检测器被配置成基于该多个检测到的信号的强度来检测擦除器的取向。该擦除器报告器被配置成向内容源(例如,提供显示内容的应用和/或操作系统)报告该擦除器的位置和取向。
  • 用于触摸屏擦除方法系统
  • [发明专利]擦除矢量笔迹的方法-CN201510284083.6有效
  • 邓华芹;吕健;冼建勇;王家龙;尹丽云 - 深圳市创易联合科技有限公司
  • 2015-05-28 - 2019-05-07 - G06T11/80
  • 本发明涉及一种矢量笔迹擦除方法。包括如下步骤:当检测擦除动作时,保存擦除开始之前的矢量笔迹,并将所有的矢量笔迹转换成对应的非矢量笔迹,显示非矢量笔迹并隐藏矢量笔迹;检测板擦的移动轨迹,实时计算和显示对非矢量笔迹的擦除,同时记录和计算擦除轨迹;当检测擦除动作结束时,将记录的所有擦除轨迹与擦除开始之前保存的矢量笔迹进行相交运算,得到擦除后的矢量笔迹;隐藏非矢量笔迹,并显示擦除后的矢量笔迹。上述矢量擦除方法,能一次性快速擦除板擦移动轨迹与矢量笔迹相叠加的区域,擦除效率高。
  • 擦除矢量笔迹方法
  • [发明专利]擦除框的范围确定方法和系统-CN201510564625.5在审
  • 叶洪 - 广州视睿电子科技有限公司
  • 2015-09-07 - 2015-12-23 - G06F9/44
  • 本发明涉及一种擦除框的范围确定方法和系统,方法包括以下步骤:在触发擦除后,根据选择操作确定需要擦除的对象覆盖范围;对所述确定对象覆盖范围进行轨迹识别,得到对象;对所述对象进行边缘检测,得到所述对象的高度和宽度;根据所述对象的高度和宽度确定擦除框的擦除范围。上述擦除框的范围确定方法和系统,在确定需要擦除的对象覆盖范围后通过轨迹识别得到对象的内容,然后以边缘检测的方式检测得到对象的高度和宽度,最后以对象的高度和宽度为基础确定擦除框的擦出范围,从而可以根据需要擦除的对象大小确定擦除框的范围,擦除效果较好。
  • 擦除范围确定方法系统
  • [发明专利]光盘装置-CN200510105745.5无效
  • 清水俊树;真下著明 - 蒂雅克株式会社
  • 2002-05-20 - 2008-05-07 - G11B7/004
  • 提供一种光盘装置,能够以适当的擦除功率进行复写,以确保信号读取时的良好错误率,并且不会损及可擦写式光盘的寿命。在测试记录区域进行记录,并通过擦除功率光束所擦除擦除区域的反射光的检测信号,计算出并保持基准擦除残余调变度,于记录情报数据时,检测出由擦除区域的反射光的检测信号其峰值与谷值,由峰值与谷值算出擦除残余调变度,并通过变更擦除功率以使计算出的擦除残余调变度接近基准擦除残余调变度,在擦除功率弱的场合提高擦除功率,以能够确保复写记录部分的信号读取错误率维持良好数值,并且在擦除功率强的场合降低擦除功率,以能够不损及可擦写式光盘的寿命
  • 光盘装置
  • [发明专利]电子设备、存储单元的过擦除检测及消除方法-CN202111026432.6有效
  • 聂虹;孙英 - 中天弘宇集成电路有限责任公司
  • 2021-09-02 - 2022-12-20 - G11C16/34
  • 本发明提供一种电子设备、存储单元的过擦除检测及消除方法,包括:对指定区域进行擦除操作,当擦除操作完成后,对所有选中区域内的存储单元分别一一选中,检测其阈值电压是否小于正常擦除阈值电压;若否,则选中下一个存储单元进行过擦除状态的检测,若是,则对该选中的存储单元进行软写操作;软写操作后,需再次进行过擦除状态的检测步骤,检测其阈值电压是否处于正常分布内,若否,需再次进行软写操作,若是,则选中下一个存储单元进行过擦除状态的检测,直至所有选中进行擦除的存储单元的阈值电压均在正常阈值电压分布内本发明能有效检测并消除存储单元的过擦除状态;同时软写操作时源端浮空,可降低存储单元的工作电流,减小功耗。
  • 电子设备存储单元擦除检测消除方法

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