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[发明专利]干粉微纳米颗粒的多级弥散方法及装置-CN201611203532.0有效
发明人：包福兵;张振刚;凃程旭;林建忠;尹招琴;吴逸洋;应天泉;叶煜航 -专利权人：中国计量大学
申请日： 2016-12-23 - 公布日： 2022-09-06 - 主分类号： B01F25/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种干粉微纳米颗粒的多级弥散装置。本发明是在喷射弥散的基础上将颗粒物经过一级弥散达到悬浮态后进行增压，最后瞬间释放压力，得到接近颗粒初始粒径的理想正态粒径分布，弥散更充分。经过一级弥散和二级增压、压力瞬间释放弥散可以将干粉颗粒弥散得更加充分，所得颗粒的粒径分布呈单峰的正态分布，分布的平均粒径接近颗粒的初始粒径。
干粉纳米颗粒多级弥散方法装置

[发明专利]基于光场相机与调频激光的弥散介质光学参数分布的重建探测装置及重建方法-CN201610330924.7有效
发明人：齐宏;乔要宾;阮世庭;阮立明;谈和平;周鹜;蔡小舒 -专利权人：哈尔滨工业大学
申请日： 2016-05-18 - 公布日： 2018-12-11 - 主分类号： G01N21/17 文献下载
摘要：基于光场相机与调频激光的弥散介质光学参数分布的重建探测装置及重建方法，涉及弥散介质光学参数分布的重建探测装置和光学参数分布的重建方法。弥散介质光学参数分布的重建探测装置包括激光控制器、激光头、至少一个光场相机和数据采集处理系统；本发明利用光场相机获取调频激光作用下弥散介质边界各个方向上的辐射强度信息，通过模拟弥散介质内的红外辐射传输过程，并结合最优化方法，重建得到介质内部的吸收、散射系数分布图像，从而探测得到弥散介质的内部结构。本发明适用于弥散介质光学参数分布的重建领域。
基于相机调频激光弥散介质光学参数分布重建探测装置方法

[发明专利]一种星敏感器光学系统弥散斑圆度的定量分析方法-CN201510058432.2有效
发明人：李巧玲;严俊;吴璀罡;李晓妮 -专利权人：中国科学院西安光学精密机械研究所
申请日： 2015-02-04 - 公布日： 2017-05-31 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：本发明涉及一种星敏感器光学镜头星点弥散斑圆度的定量分析方法，包括a)获取星敏感器光学镜头工作面上的弥散斑能量分布图；b)根据弥散斑能量分布图计算弥散斑的总能量；c)计算包含总能量的弥散斑质心点位置；d)在弥散斑能量分布图上做闭合的能量等高线，计算弥散斑的圆度误差等步骤。该方法既符合星敏感器图像处理的思路，又能有效反映星敏感器光学系统像差的分布，可用于星敏感器光学系统设计结果的定量评价及性能指标检测，具有原理简单、思路清晰，操作性强的优点。
一种敏感光学系统弥散斑圆度定量分析方法

[实用新型]一种用于产生具有均匀角度分布激光射线的装置-CN201020178322.2无效
发明人：鄢雨 -专利权人：鄢雨
申请日： 2010-05-04 - 公布日： 2010-12-15 - 主分类号： G02B27/09 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种用于产生具有均匀角度分布激光射线的装置。所述装置包括激光束源、准直透镜和光弥散元件；所述激光束源位于准直透镜的前焦点处，其焦距为F；所述光弥散元件位于激光束源和准直透镜之间；当所述光弥散元件和准直透镜之间的距离为M时，所述光弥散元件的弥散角度为U，激光束源产生的光束通过光弥散元件形成子光束，子光束通过准直透镜后发散角度为U’，其中，tanU’＝(1+M/F)tanU。本实用新型用于产生具有均匀角度分布激光射线的装置为了实现激光束发散角连续可变且角辐照分布均匀，只需移动光弥散元件的位置，即可产生具有均匀角度分布的激光射线，该装置结构紧凑，且操作简单，不需精密元件，造价低
一种用于产生具有均匀角度分布激光射线装置

[发明专利]一种定量分析半固态浆料组织中固相弥散分布的方法-CN201310025578.8有效
发明人：王佳;肖寒;周荣;周荣峰;卢德宏;蒋业华;吴龙彪 -专利权人：昆明理工大学
申请日： 2013-01-22 - 公布日： 2013-05-15 - 主分类号： G06F19/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种定量分析半固态浆料组织中固相弥散分布的方法，属于金属半固态浆料组织性能分析领域。首先将半固态浆料组织中的固相分离出来，然后计算固相总尺寸，并计算、绘制固相的理想弥散分布程度图样，最后通过对比固相的理想和实际分布状态，计算得到弥散分布程度系数。采用本发明能都定量给出半固态组织中固相的弥散分布程度，范围大于0且小于1，数值越大表明半固态组织中固相的分布程度越均匀，半固态组织性能越好。本发明操作简单，使用方便。
一种定量分析固态浆料组织中固相弥散分布方法

[发明专利]磁共振成像单体素内微米尺度的弥散特性表征方法-CN202310480368.1在审
发明人：辛学刚;李晓东 -专利权人：华南理工大学
申请日： 2023-04-28 - 公布日： 2023-09-15 - 主分类号： G06F18/213 文献下载
摘要：一种磁共振成像单体素内微米尺度的弥散特性表征方法，包括:S1、构建多种单个体素内弥散特性分布的概率密度函数；S2、设计专用序列，对目标对象扫描成像，得到构建多种单个体素内弥散特性分布概率密度函数的扫描数据；S3、根据步骤S2的成像序列参数及扫描数据，对应计算步骤S1中的多种单个体素内弥散特性分布的概率密度函数，得到单体素内微米尺度的弥散特性结果。本发明的磁共振成像单体素内微米尺度的弥散特性表征方法，解决了如何采用毫米尺度的磁共振成像单体素来表征单体素内与微米尺度的组织结构关联的复杂弥散特性问题。
磁共振成像单体微米尺度弥散特性表征方法

[发明专利]一种弥散分布金属硅化物/纳米硅复合材料及其制备方法-CN201911379430.8有效
发明人：唐晶晶;杨娟;周向阳;罗楚城;周昊宸;王鹏 -专利权人：中南大学;湖南宸宇富基新能源科技有限公司
申请日： 2019-12-27 - 公布日： 2022-03-11 - 主分类号： H01M4/36 文献下载
摘要：本发明公开了种弥散分布金属硅化物/纳米硅复合材料及其制备方法，是由金属硅化物和纳米硅颗粒组成，部分金属硅化物弥散分布在纳米硅内部，另一部分金属硅化物包覆与纳米硅颗粒表面；其中，所述的复合材料中金属硅化物的质量百分含量为本发明这种弥散分布金属硅化物/纳米硅复合材料，具有弥散强化作用的特定金属硅化物介入纳米硅颗粒内部且弥散分布并在其表面形成了金属硅化物包覆层，应用于锂离子电池负极材料时循环性能和稳定性能远优于现有纳米硅负极材料
一种弥散分布金属硅纳米复合材料及其制备方法

[实用新型]一种弥散透气砖-CN201520819368.0有效
发明人：吴晓;刘国涛;童则明;李建泽 -专利权人：濮阳濮耐高温材料（集团）股份有限公司
申请日： 2015-10-21 - 公布日： 2016-03-02 - 主分类号： C21C7/072 文献下载
摘要：本实用新型公开一种弥散透气砖，包括尾管与具有大头端和小头端的砖体，砖体包括具有大头端和小头端的壳体、底板和具有大头端和小头端的弥散透气芯体，弥散透气芯体的大头端设有气室；弥散透气芯体设在壳体内，并且弥散透气芯体的大头端位于壳体的大头端内；底板位于砖体的大头端并且将弥散透气芯体封闭在壳体内；尾管的一端通过底板上的导通孔与气室气体导通；弥散透气芯体内设有与弥散透气芯体同轴的内芯。本实用新型以内部弥散分布的微气孔作为气体通道，由于孔径较小且弥散分布，从设计上避免了钢液和钢渣的渗透，吹通率100％，而且不需要热修烧氧，降低了透气砖消耗速率，同时提高了使用寿命。
一种弥散透气

[发明专利]磁共振弥散张量成像的参数误差估计方法和装置-CN201410510744.8有效
发明人：梁栋;朱燕杰;彭玺;刘新;郑海荣 -专利权人：深圳先进技术研究院
申请日： 2014-09-28 - 公布日： 2017-03-08 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明提供了一种磁共振弥散张量成像的参数误差估计方法和装置，其中，所述方法包括通过磁共振扫描，采集弥散加权图；根据弥散加权图分别估计弥散加权图中每个像素点的弥散张量；根据所述弥散张量分别计算各向异性系数和平均弥散系数；计算所述弥散加权图的误差图；根据所述弥散张量和所述弥散加权图的误差图计算弥散张量的误差；将弥散张量的误差、各向异性系数和平均弥散系数代入预先建立的参数误差计算模型中计算得出平均弥散系数误差和各向异性系数误差上述方法和装置可以直观的表示出磁共振弥散成像参数图中的误差分布情况，从而便于对弥散张量成像的图像质量评估。
磁共振弥散张量成像参数误差估计方法装置

[发明专利]磁共振弥散张量去噪方法和系统-CN201410814491.3在审
发明人：彭玺;梁栋;刘新;郑海荣 -专利权人：中国科学院深圳先进技术研究院
申请日： 2014-12-23 - 公布日： 2015-04-29 - 主分类号： A61B5/055 文献下载
摘要：本发明提供了一种磁共振弥散张量去噪方法和系统，其方法基于磁共振弥散加权成像模型和采样噪声的高斯分布性质，利用弥散张量特征值的稀疏性，采用最大后验概率估计的方法直接由K空间数据获得每一个空间位置所对应的去噪后的弥散张量矩阵本发明可以避免图像去噪的误差对弥散张量估计的影响，可以更有效地抑制弥散张量中的噪声，提高弥散张量的估计精度。
磁共振弥散张量方法系统

[发明专利]磁共振弥散张量去噪方法和系统-CN201410816887.1有效
发明人：彭玺;梁栋;刘新;郑海荣 -专利权人：中国科学院深圳先进技术研究院
申请日： 2014-12-23 - 公布日： 2015-05-06 - 主分类号： G06T5/00 文献下载
摘要：本发明提供了一种磁共振弥散张量去噪方法和系统，其方法基于磁共振弥散加权成像模型和采样噪声的高斯分布性质，利用弥散相对各向异性的稀疏性，采用最大后验概率估计的方法直接由K空间数据获得每一个空间位置所对应的去噪后的弥散张量矩阵本发明可以避免图像去噪的误差对弥散张量估计的影响，可以更有效地抑制弥散张量中的噪声，提高弥散张量的估计精度。
磁共振弥散张量方法系统

[发明专利]去除磁共振弥散张量成像噪声的方法和系统-CN201410816820.8有效
发明人：彭玺;梁栋;刘新;郑海荣 -专利权人：中国科学院深圳先进技术研究院
申请日： 2014-12-23 - 公布日： 2015-05-06 - 主分类号： A61B5/055 文献下载
摘要：本发明提供了一种去除磁共振弥散张量成像噪声的方法和系统，其方法基于磁共振弥散加权成像模型和采样噪声的高斯分布性质，利用弥散加权图像的稀疏性，采用最大后验概率估计的方法直接由K空间数据获得每一个空间位置所对应的去噪后的弥散张量矩阵本发明可以避免图像去噪的误差对弥散张量估计的影响，可以更有效地抑制弥散张量中的噪声，提高弥散张量的估计精度。
去除磁共振弥散张量成像噪声方法系统

[发明专利]磁共振弥散张量成像的去噪方法和系统-CN201410816610.9有效
发明人：彭玺;梁栋;刘新;郑海荣 -专利权人：中国科学院深圳先进技术研究院
申请日： 2014-12-23 - 公布日： 2018-06-15 - 主分类号： G06T5/00 文献下载
摘要：本发明提供了一种磁共振弥散张量成像的去噪方法和系统，其方法基于磁共振弥散加权成像模型和采样噪声的高斯分布性质，利用平均弥散率的稀疏性，采用最大后验概率估计的方法直接由K空间数据获得每一个空间位置所对应的去噪后的弥散张量矩阵本发明可以避免图像去噪的误差对弥散张量估计的影响，可以更有效地抑制弥散张量中的噪声，提高弥散张量的估计精度。 1
弥散磁共振去噪弥散张量成像最大后验概率估计矩阵采样噪声高斯分布加权成像空间位置图像去噪稀疏性有效地噪声

[发明专利]一种聚焦方法、装置、电子设备及存储介质-CN202110600744.7有效
发明人：陈天钧;杨熙丞;詹建华;潘润发;况璐;李准 -专利权人：浙江大华技术股份有限公司
申请日： 2021-05-31 - 公布日： 2022-08-30 - 主分类号： H04N5/225 文献下载
摘要：本发明公开了一种聚焦方法、装置、电子设备及存储介质，所述方法包括：对图像采集设备采集的灰度图像进行标准傅里叶变换，得到弥散斑频谱图像；根据所述弥散斑频谱图像确定弥散斑频谱的径向平均分布，根据所述弥散斑频谱的径向平均分布确定弥散半径；根据所述弥散半径、所述图像采集设备采集所述灰度图像时的焦距、光圈和离焦时物距，确定聚焦时物距；根据所述聚焦时物距确定目标电机位置，根据所述目标电机位置进行聚焦。
一种聚焦方法装置电子设备存储介质

[发明专利]结构性差异非饱和土壤水动力弥散系数现场测定方法-CN201710482544.X有效
发明人：李立;王康;余翠;龙凡;张梦颖 -专利权人：武汉大学
申请日： 2017-06-22 - 公布日： 2019-11-08 - 主分类号： G01N33/24 文献下载
摘要：本发明提供了一种结构性差异非饱和土壤水动力弥散系数现场测定方法，包括以下步骤：通过土壤粒径分析，确定土壤剖面的结构性差异；基于定水头边界条件使土壤中的水分和溶质进入再分布过程，通过布设传感器测定不同时刻土壤基质势和溶液浓度剖面分布；基于再分布过程中的质量连续性原理提出了土壤水动力弥散系数关系方程，采用中心差分方法，根据两个相邻时刻的测定土壤基质势及溶质浓度分布，确定土壤水动力弥散系数关系方程参数，进而确定不同质地土壤的非饱和水动力弥散系数本发明方法物理概念明确，计算公式简单，易于操作、测量精度高，实验结果直观，更为重要的是，能够确定存在结构性差异土壤的水动力弥散系数，在该领域具有独创性。
结构性差异饱和土壤水动力弥散系数现场测定方法

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