专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]非易失性存储-CN201910738613.8在审
  • 尹敬和;郭判硕;金灿镐;任琫淳 - 三星电子株式会社
  • 2019-08-12 - 2020-02-28 - G11C5/02
  • 本公开提供了非易失性存储。一种非易失性存储包括垂直堆叠在第二半导体层上并包括第一存储、第二存储、第三存储和第四存储的第一半导体层。第二半导体层包括分别在第一存储、第二存储、第三存储和第四存储下面的第一区域、第二区域、第三区域和第四区域。第一区域包括通过特定字线连接到第二存储、第三存储和第四存储中的一个存储存储单元的一个驱动电路以及通过第一位线连接到第一存储存储单元的另一个驱动电路,其中特定字线和第一位线在相同的水平方向上延伸
  • 非易失性存储器
  • [发明专利]用于控制存储分配的方法和设备-CN201310044928.5有效
  • 维莱·哈利沃里;茱哈马蒂·库西萨里 - 特拉博斯股份有限公司
  • 2013-02-04 - 2017-11-28 - G06F12/02
  • 用于控制存储分配的方法和设备。本发明涉及对存储进行分配和释放,所述存储被组织成包含存储,所述存储中的每一个包含存储块。存在第一数据实体(101),其指示在每一个存储中的空闲存储块的数量。对于每一个存储,存在第二数据实体(102、103、......、105),其指示有关存储的哪些存储块是空闲的。当接收对分配存储块的请求时,基于第一数据实体,搜索包含空闲存储块的存储,并且基于与该存储有关的第二数据实体,从该存储搜索空闲存储块。第一数据实体和第二数据实体构成紧凑数据结构,因此可以有效利用高速缓冲存储
  • 用于控制存储器分配方法设备
  • [发明专利]具有降低的阈值电压偏移的三维存储器件编程-CN202180000115.9在审
  • 宋雅丽;赵向南;闵园园;游开开 - 长江存储科技有限责任公司
  • 2021-01-04 - 2021-05-07 - G11C16/04
  • 一种三维(3D)存储器件,可以包括第一存储层、在第一存储层上方的第二存储层、以及在第一存储层与第二存储层之间的第一虚设存储层。3D存储器件还可以包括NAND存储串,其均延伸穿过第一存储层、第二存储层和第一虚设存储层。3D存储器件还可以包括外围电路,其被配置为循序地对第一存储层中的每一个存储层进行编程,并且然后循序地对第二存储层中的每一个存储层进行编程。外围电路可以包括字线(WL)驱动电路,其被配置为:在对第一存储层中的第一存储层进行编程时,在与第一存储层相关联的预充电周期期间,将第一预充电电压施加到第一虚设存储层;以及在对第一存储层中的位于第一存储层上方的第二存储层进行编程时,在与第二存储层相关联的预充电周期期间,将第二预充电电压施加到第一虚设存储层。
  • 具有降低阈值电压偏移三维存储器器件编程
  • [发明专利]存储装置及其错误检测方法-CN201910250297.X在审
  • 朴山河 - 华邦电子股份有限公司
  • 2019-03-29 - 2020-10-09 - G06F11/20
  • 本发明提供一种存储装置,包括具有至少一存储存储阵列,其中至少一存储包括目标存储阵列以及克隆存储阵列。克隆存储阵列对应于目标存储阵列,且用以存储与目标存储阵列中的数据相同的数据。当应用于目标存储阵列的命令执行操作时,该命令同样应用于克隆存储阵列。一种错误检测方法亦被提出,其适用于具有至少一个存储存储装置,且所述存储包括目标存储阵列和克隆存储阵列。
  • 存储器装置及其错误检测方法
  • [发明专利]存储系统-CN202010906541.6在审
  • 郑俊燮 - 爱思开海力士有限公司
  • 2020-09-01 - 2021-10-12 - G06F3/06
  • 本申请公开一种存储系统,该存储系统可以包括:多个非易失性存储设备,每个非易失性存储设备包括多个存储区域;以及控制,被配置成将多个非易失性存储设备中的存储区域分组为存储,使得每个存储包括来自多个非易失性存储设备中的每一个的至少一个存储区域,该控制进一步被配置成执行从第一源存储读取第一数据并将第一数据存储在第一目标存储中的第一迁移操作。控制可以被配置成当已经针对第一源存储设置了标记时,以第一数据从非易失性存储设备输出到控制的顺序将第一数据存储在第一目标存储中。
  • 存储器系统
  • [发明专利]具有多电平、单次写入存储单元的可重写存储-CN201080056716.3无效
  • R.E.舒尔莱恩;L.法索里 - 桑迪士克3D有限责任公司
  • 2010-11-05 - 2012-09-05 - G11C11/56
  • 在此描述的实施例涉及具有多电平、单次写入存储单元的存储件。在一个实施例中,存储件具有存储阵列,其包括多个多电平单次写入存储单元,其中,每个存储单元可编程到多个电阻率等级之一。该存储件还包括被配置以从存储阵列选择一存储单元并读取与该存储单元相关的一标记位的电路。该标记位指示该存储单元已经被写入的次数。该电路还被配置以为选择适合于该存储单元已经被写入的次数的阈值读取电平,并且对该中的每个存储单元,基于所选择的阈值读取电平,读取该存储单元作为未编程的单个位的存储单元或作为已编程的单个位的存储单元
  • 具有电平写入存储器单元重写存储器件
  • [发明专利]一种FPGA存储的工艺映射方法-CN201410490278.1有效
  • 李璇;王元鹏;樊平;刘明 - 京微雅格(北京)科技有限公司
  • 2014-09-23 - 2018-09-11 - G06F12/02
  • 本发明涉及一种FPGA存储的工艺映射方法,所述方法包括:根据存储逻辑网表的原始信息进行分类封装,生成端口集合;根据所述端口集合包括的端口的数量和端口参数,构造存储宏;根据目标工艺库中的资源规模对所述存储宏的数据空间和地址空间进行切分,得到存储组件;所述存储组件包括功能参数,所述功能参数具体为:构造所述存储宏的端口的端口参数;将所述存储组件按位扩展和地址扩展生成存储组件扩展;根据所述存储组件扩展中包括的每一个存储组件,再进行存储组件类型的精确匹配;根据所述精确匹配后的所述存储组件的连接关系和所述功能参数,在器件工艺映射库进行映射,生成所述FPGA存储
  • 一种fpga存储器工艺映射方法
  • [发明专利]具有智能电流/功耗最小化的增强型动态存储管理-CN201480004109.0有效
  • H·J·朴;R·G·霍夫曼;Y·J·李 - 高通股份有限公司
  • 2014-01-07 - 2017-09-12 - G06F1/32
  • 获得多个易失性存储设备中的每个易失性存储设备的低功率状态电流/功耗。将数据从这些易失性存储设备中的第一易失性存储设备复制到这些易失性存储设备中的第二易失性存储设备,其中第二易失性存储设备具有比所述第一易失性存储设备低的电流/功耗。另外,可获得这多个易失性存储设备中的每个易失性存储设备内的每个存储体的电流/功耗。随后将数据从第二存储设备中的同一存储设备内的第一存储体复制到第二存储体,其中第二存储体具有比所述第一存储体低的电流/功耗。第一易失性存储设备和/或第一存储体随后被置于降电状态。
  • 具有智能电流功耗最小化增强动态存储器管理

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