专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]材料失效分析方法-CN201610398677.4有效
  • 刘鹏鹏;王彩梅;臧雨晨 - 上汽通用汽车有限公司;泛亚汽车技术中心有限公司
  • 2016-06-07 - 2019-03-29 - G06F17/50
  • 本发明公开了一种材料失效分析方法,其中,包括以下步骤:获取失效零件的失效背景;对失效零件进行外观检查,得到失效零件的失效信息;在材料失效分析数据库中查找与所述失效背景和/或所述失效信息匹配的材料失效数据,得到所述失效零件的预估失效原因;根据预估失效原因,对所述失效零件进行断口观察,得到所述失效零件的失效形式;采用材料分析法对所述失效零件与未失效零件进行对比分析,得到对比结果;根据所述失效形式和所述对比结果,确定所述失效零件的失效原因。利用本发明可提高材料失效分析人员的效率和水平。
  • 材料失效分析方法
  • [发明专利]自动变速器的液压系统-CN201711456042.6有效
  • 杨加丰;李臣南;曾泳;郑勇 - 浙江万里扬智能传动有限公司
  • 2017-12-28 - 2023-09-19 - F16H61/12
  • 本发明公开了一种自动变速器的液压系统,包括第一失效阀、与第一失效阀连接的第二失效阀、用于控制第一失效阀的常高电磁阀、与第一失效阀连接的离合器系统和用于控制所述第二失效阀且用于形成两个失效档位的常低电磁阀本发明自动变速器的液压系统,通过采用常低电磁阀实现了两个失效档位,将档位数分为低档位阶段和高档位阶段,如果在失效前在低档位阶段形式,则失效时进入低档位阶段的失效挡,如果失效前在高档位阶段形式,则失效时进入高档位失效档位
  • 自动变速器液压系统
  • [发明专利]一种考虑屈曲和首层失效竞争的层板压剪失效分析方法-CN202211548134.8在审
  • 刘丰睿;骈瑢;黄岳;孙昊睿;王林娟 - 北京航空航天大学
  • 2022-12-05 - 2023-04-07 - G16C60/00
  • 本发明公开了一种考虑屈曲和首层失效竞争的层板压剪失效分析方法,包括以下步骤:(1)根据载荷比计算得到初始载荷;(2)基于瑞利‑里兹法求解层合板的屈曲载荷;(3)基于Hashin类失效准则预测层合板首层失效载荷;(4)比较屈曲载荷和首层失效载荷大小,确定层板的失效载荷和失效形式;(5)由多个载荷比下的失效载荷和失效形式拟合得到层板的压剪失效曲线,用于判断任意载荷比下层板的失效情况。本发明基于理论方法预测了不同压剪载荷下层板的屈曲载荷和首层失效载荷,建立了考虑屈曲和首层失效竞争的层板压剪失效分析方法,进一步给出了层板的压剪失效曲线,可显著提高结构设计效率,降低试验成本。
  • 一种考虑屈曲失效竞争层板压剪分析方法
  • [发明专利]冲击活塞失效原因的判定方法-CN202310830860.7有效
  • 周忠尚;郭建飞;丁河江;张继光;马建乐;姜鑫;王英赫;刘赛;李志 - 徐州徐工基础工程机械有限公司
  • 2023-07-06 - 2023-09-22 - G01N33/00
  • 本发明涉及一种冲击活塞失效原因的判定方法,其包括以下步骤:S10对失效的冲击活塞的外观进行检查,获得冲击活塞的失效形式;S20根据冲击活塞的失效形式,采用宏观观察、微观观察、冲击活塞的基体的材料成分分析以及冲击活塞的性能测试的至少其中之一的检查方式对失效的冲击活塞进行检查;其中,所述冲击活塞的性能测试包括对失效的冲击活塞的基体的强度、硬度、显微组织和冲击吸收功进行测试,和/或,对失效的冲击活塞的表面的硬度梯度和硬化层厚度进行测试;S30将检查结果与冲击活塞的技术要求进行比对,进而判定冲击活塞的失效原因;能够及时确定失效的冲击活塞存的质量缺陷,以用于采取有针对性的预防和改进措施,提高冲击活塞的质量。
  • 冲击活塞失效原因判定方法
  • [发明专利]基于SOC ATE定位存储器失效位的方法及测试系统-CN201811581016.0有效
  • 舒颖;李强;郑鹏飞 - 上海华力集成电路制造有限公司
  • 2018-12-24 - 2020-10-09 - G11C29/56
  • 本发明公开了一种基于SOC ATE定位存储器失效位的方法及测试系统,包括:生成测试向量;将测试向量转化成物理波形信号;将物理波形信号输入至待测芯片中进行测试;将测试得到的结果(引脚pass‑fail信息)以字符形式按行存储至RAM中;ATE从RAM中读取各失效向量所指的失效位的数据引脚状态和相对应的地址引脚状态;构造以字符表示的引脚状态与以数值表示的引脚状态的对应关系;将各失效位的地址引脚状态和数据引脚状态由字符形式转换为数值形式输出本发明在不增加硬件资源的基础上将基于SOC ATE的向量模式测试得到的字符数据快速转换为数值数据,方便地对存储器进行失效定位和失效分析,提高利用SOC ATE开发存储器测试程序的效率。
  • 基于socate定位存储器失效方法测试系统

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