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- [发明专利]测定物质定量方法-CN200680056243.0有效
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宫川治彦
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株式会社岛津制作所
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2006-10-31
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2009-09-09
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G01N27/62
- 一种对测定物质进行定量的测定物质定量方法,其特征在于,该测定物质定量方法包括以下步骤:存储登记有相对检量线的数据库的数据库存储步骤;通过测定已知浓度的内部标准物质来获得内部标准物质的质谱的内部标准物质测定步骤;根据内部标准物质的质谱来生成色谱图,并计算内部标准物质的峰值面积或高度的绝对值计算步骤;通过对测定物质进行测定来获得测定物质的质谱的测定物质测定步骤;根据测定物质的质谱来生成色谱图,并计算测定物质的峰值面积或高度的测定值计算步骤;以及根据相对检量线、内部标准物质的峰值面积或高度和测定物质的峰值面积或高度,计算测定物质的浓度的测定物质浓度计算步骤。
- 测定物质定量方法
- [发明专利]形状测定装置、构造物制造系统、形状测定方法、构造物制造方法、形状测定程序、以及记录介质-CN201480040836.2有效
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中村裕
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株式会社尼康
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2014-07-17
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2019-02-01
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G01B11/24
- 本发明能够更加简单地且在短时间内测量出被测定物的形状。形状测定装置具有:探针,包含投影光学系统及摄像装置,所述投影光学系统向所述被测定物的表面投影线状图案,或至少在线状扫描范围内一边扫描一边投影点图案;所述摄像装置对投影在所述被测定物上的图案像进行检测;移动机构,以使所述被测定物相对于所述探针以旋转轴为中心而旋转的方式使所述被测定物与所述探针相对性地旋转,并且使所述探针与所述被测定物中的任一者至少在相对于所述被测定物旋转的旋转方向而交叉的方向上相对性地移动;测定区域设定部,对所述被测定物的测定区域进行设定;以及实际测定区域设定部,基于利用所述测定区域设定部而设定的测定区域,对包含实际测定开始位置及实际测定结束位置的实际测定区域进行设定。所述实际测定区域设定部以比所述测定区域更靠近所述旋转轴的方式,设定所述实际测定开始位置或所述实际测定结束位置中距旋转轴中心较近的一方,或者将所述实际测定开始位置或所述实际测定结束位置中位于径向外侧的一方设定在比所述测定范围更远离旋转轴的方向上
- 形状测定装置构造制造系统方法程序以及记录介质
- [发明专利]阻抗测定装置及阻抗测定方法-CN201610768675.X有效
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饭岛淳司;长井秀行
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日置电机株式会社
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2016-08-30
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2020-03-13
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G01R27/02
- 本发明提供能够进行稳定的测定的阻抗测定装置及测定方法;利用多个测定频率进行下述测定并求出噪声少的测定频率,该测定是指:利用与测定信号同步且相位呈正交的两个基准信号、即同步信号,对未被供给测定信号状态下的测定对象、即试样中出现的检测信号进行同步检波,而测定试样的噪声电平;将噪声少的频率的测定信号供给试样,并利用基准信号对该检测信号进行同步检波而测定试样的阻抗;或者,对作为测定对象的试样提供规定频率的测定信号,生成与测定信号同步的基准信号并利用上述基准信号对试样中出现的检测信号进行同步检波;利用特性不同的多个低通滤波器使同步检波后的信号通过,选择多个低通滤波器中的任意一个,并且通过无噪声影响的测定值的取得而结束该选择。
- 阻抗测定装置方法
- [发明专利]印刷压力控制装置及印刷压力控制方法-CN202011208318.0有效
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水越刚
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株式会社富士
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2020-11-03
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2022-12-27
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B41F33/00
- 本发明涉及能够适当地设定测定印刷压力的测定位置,并基于所设定的测定位置的印刷压力的测定值来控制印刷压力的印刷压力控制装置及方法。印刷压力控制装置具备测定位置设定部、印刷压力测定部和指令值设定部。测定位置设定部将刮板的多次滑动中的至少一部分作为多次对象滑动,以使在各次对象滑动中伴随着刮板的滑动而依次进行测定的印刷压力的多个测定位置在多次对象滑动中不同的方式,针对每次滑动来设定多个测定位置。印刷压力测定部使压力传感器在由测定位置设定部设定的多个测定位置处测定印刷压力。指令值设定部基于由印刷压力测定部测定出的到本次滑动为止的印刷压力的测定值和印刷压力的目标值,设定下次滑动中的印刷压力的指令值。
- 印刷压力控制装置方法
- [实用新型]测定机构-CN202121014238.1有效
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冈本文太;添田雄史;富桝胜仁
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株式会社村田制作所
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2021-05-12
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2021-12-21
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G01R1/04
- 本实用新型提供一种能够精度良好地测定高频信号的测定机构。测定机构具备:测定用基板,包含具有与被测定基板主体的下表面对置的上表面以及下表面的测定用基板主体和设置在测定用基板主体的上表面的测定用电极;第1按压构件,与被测定基板主体的上表面或者测定用基板主体的下表面接触,并且,在上下方向上观察与测定用电极重叠;和第1弹性力赋予机构,通过包含对与被测定基板主体的上表面接触的第1按压构件赋予下方向的弹性力的第1弹性构件,或者,通过包含对与测定用基板主体的下表面接触的第1按压构件赋予上方向的弹性力的第1弹性构件,从而使被测定电极和测定用电极接触,其中,第1弹性构件不与测定用电极以及被测定电极电连接。
- 测定机构
- [发明专利]膜厚测定装置及膜厚测定方法-CN201280041489.6有效
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黑川政秋;安井润;见持圭一;盐谷成敏
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三菱重工业株式会社
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2012-08-21
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2014-04-30
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G01B7/06
- 本发明提供一种能够对施加到被测定对象上的隔热涂层的膜厚高效率且准确地进行测定的膜厚测定装置及膜厚测定方法。膜厚测定装置(1)具备:对形成在涡轮叶片(11)上的隔热涂敷膜的膜厚进行测定的ECT传感器(4);存储有对隔热涂敷膜的膜厚进行测定的地点即涡轮叶片(11)上的测定地点的存储机构(9);对涡轮叶片(11)的形状进行测定的激光位移计(5);根据由激光位移计(5)测定出的涡轮叶片(11)的形状及存储在存储机构(9)中的涡轮叶片(11)上的测定地点,来算出适合于ECT传感器(4)进行实际的膜厚测定的实际测定地点的测定位置算出机构(8);根据由测定位置算出机构(8)算出的实际测定地点来驱动ECT传感器(4),从而调整ECT传感器(4)的测定位置的臂驱动机构(6)。
- 测定装置方法
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