[发明专利]反应和解离热脱附谱分析方法无效
| 申请号： | 88104186.6 | 申请日： | 1988-07-12 |
| 公开（公告）号： | CN1017651B | 公开（公告）日： | 1992-07-29 |
| 发明（设计）人： | 庞世瑾;杨一新 | 申请（专利权）人： | 中国科学院北京真空物理开放实验室 |
| 主分类号： | G01N30/02 | 分类号： | G01N30/02;G01N7/04 |
| 代理公司： | 中国科学院专利事务所 | 代理人： | 关玲 |
| 地址： | 北京市海*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 反应和解高热脱附谱分析方法，属于测试领域。它通过质谱对相关荷质比数快速扫描获反应和解离热脱附中间谱，再通过中间谱中曲线的比值绘出反应和解离热脱附谱。本发明中的样品可吸附多种气体。除包含传统的热脱附谱方法外，本发明还具有传统的热脱附方法所不具备的研究表面反应和解离状态的功能，发展了热脱附谱学。本发明可用于表面分析、真空材料、催化材料、催化等领域。 | ||
| 搜索关键词： | 反应 解离 热脱附 谱分析 方法 | ||
【主权项】：
反应和解离热脱附谱分析方法，样品在压强(10-8托的真空室中，经表面清洁处理后，向真空室充人实验气体，供样品吸附，而后，加热样品，令吸附粒子脱附，由质谱等仪器检测、记录、谱图绘制、曲线比较，其特征在于：a.将已减除本底的相关荷质比数曲线谱绘于同一坐标中得到中间谱；b.以中间谱图中曲线间的比例绘出比值图谱，即反应解离热脱附谱；c.比较反应和解离热脱附谱中动态比值曲线与本底比值曲线
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