[发明专利]测试微区腐蚀电位电流密度分布的扫描装置无效

专利信息
申请号: 86103043.5 申请日: 1986-04-28
公开(公告)号: CN1003808B 公开(公告)日: 1989-04-05
发明(设计)人: 田昭武;林昌健;卓向东 申请(专利权)人: 厦门大学
主分类号: G01N27/26 分类号: G01N27/26;G01R19/08
代理公司: 厦门大学专利事务所 代理人: 马应森
地址: 福建省厦门*** 国省代码: 福建;35
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明属于金属局部腐蚀的测试设备,包括外径小、内阻低的微参比电极,机械扫描装置和由微计算机控制电路。配合微机控制的测量电路和软件,能检测到金属表面低达数微米区域和约10微伏的微区电位信号以及电流密度分布图,图形清晰、直观,并给出定量结果。本装置的精度高,灵敏度高,结构简单,造价低廉,适用性强。可用于研究大多数实际体系的金属局部腐蚀机理,评估金属材料耐局部腐蚀性能。
搜索关键词: 测试 腐蚀 电位 电流密度 分布 扫描 装置
【主权项】:
1.测试微区腐蚀电位电流密度分布的扫描装置,由自动平面扫描机械装置、X-Y扫描信号控制电路和驱动电路组成,设有两个微参比电极,采用两台微型步进电机通过给定的脉冲,分别控制样品和微参比电极,X-Y扫描信号控制电路由脉冲发生器、计数器、触发器和门电路组成,驱动电路由环形分配器CH250和功放级组成,其特征是(a)两根微参比电极固定在一起,其尖端位于垂直于样品表面的同一直线上,距离为300~600微米,尖端离被测样品小于30微米;(b)自动扫描过程由微计算机中的CPU通过可编程并行I/O接口PPI控制,PPI的输出控制信号控制CTC向x、y轴两步进电机提供脉冲信号的分配。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于厦门大学,未经厦门大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/86103043.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top