[发明专利]一种GPU像素填充率测量方法在审
| 申请号： | 202311158256.0 | 申请日： | 2023-09-08 |
| 公开（公告）号： | CN116883228A | 公开（公告）日： | 2023-10-13 |
| 发明（设计）人： | 沈晔;解文华;付秋;彭获然 | 申请（专利权）人： | 武汉凌久微电子有限公司 |
| 主分类号： | G06T1/20 | 分类号： | G06T1/20;G06T11/00;G06F9/448;G06F9/451 |
| 代理公司： | 武汉泰山北斗专利代理事务所(特殊普通合伙) 42250 | 代理人： | 董佳佳 |
| 地址： | 430000 湖北省武汉市*** | 国省代码： | 湖北;42 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明提供一种GPU像素填充率测量方法方法包括：在GPU的通用图形接口中编写像素填充率测量程序；当通用图形接口接收到绘制指令时，GPU从显存中获取需要绘制的资源数据，通用图形接口调用所述像素填充率测量程序对所述资源数据进行绘制渲染；基于绘制渲染结果，计算GPU像素填充率。本发明技术方案基于通用高性能绘制接口编写一套可适用于不同GPU像素填充率测量的程序，在保证测量结果准确性的前提下，具有较好的通用性，可以弥补像素填充率测量手段的匮乏。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 gpu 像素 填充 测量方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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