[发明专利]一种根据暗像素进行暗电平校正的方法在审
| 申请号： | 202310633776.6 | 申请日： | 2023-05-31 |
| 公开（公告）号： | CN116668860A | 公开（公告）日： | 2023-08-29 |
| 发明（设计）人： | 黄宇杰;李文宏 | 申请（专利权）人： | 上海宇勘科技有限公司 |
| 主分类号： | H04N23/81 | 分类号： | H04N23/81;H04N25/63 |
| 代理公司： | 北京广技专利代理事务所(特殊普通合伙) 11842 | 代理人： | 崔征 |
| 地址： | 200000 上海市浦东新区中国(*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： |
本发明公开了一种根据暗像素进行暗电平校正的方法，包括：获取每一行的图像像素；采用迭代中值平均法获取每一行的暗电平校正值；将每一行的图像像素减去相应行的暗电平校正值，获得暗电平校正后的像素。有利于在确保暗电平校正质量的同时保证低的计算复杂度和硬件开销。迭代中值平均的方式的计算复杂度为o(n)，而通过排序方式来选取中间大小的一段暗像素的计算复杂度为o(n |
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| 搜索关键词： | 一种 根据 像素 进行 电平 校正 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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