[发明专利]基于泵浦-探测技术实现纳秒激光损伤过程探测的装置和方法在审

专利信息
申请号: 202310163046.4 申请日: 2023-02-24
公开(公告)号: CN116124736A 公开(公告)日: 2023-05-16
发明(设计)人: 刘晓凤;向程江;李大伟;赵元安;龚赫;帅坤;徐子媛;连亚飞;邵宇川;邵建达 申请(专利权)人: 中国科学院上海光学精密机械研究所
主分类号: G01N21/39 分类号: G01N21/39
代理公司: 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31317 代理人: 张宁展
地址: 201800 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种基于泵浦‑探测技术实现纳秒激光损伤过程探测的装置与方法,该装置包括:第一数字延时信号发生器、第二数字延时信号发生器、第三数字延时信号发生器、产生飞秒或皮秒脉冲的探测激光器、产生纳秒高能脉冲的泵浦激光器、第一快门、第二快门、聚焦透镜、高反镜、探测信号接收装置、计算机。该方法利用第一数字延时信号发生器输出的脉冲信号作为基准,触发后续数字延时信号发生器,分别输出变频信号实现所述探测激光器和所述泵浦激光器输出脉冲延时,并结合快门控制实现对精准延时的泵浦脉冲和探测脉冲的抽取。该方法降低了硬件要求,可以实现较长延时的同时避免光程延时带来的场地、元件等要求,简化了装置复杂度及应用操作难度。
搜索关键词: 基于 探测 技术 实现 激光 损伤 过程 装置 方法
【主权项】:
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