[发明专利]带电粒子束装置及其控制方法在审

专利信息
申请号: 202211655238.9 申请日: 2022-12-22
公开(公告)号: CN116110767A 公开(公告)日: 2023-05-12
发明(设计)人: 罗浒;张旭 申请(专利权)人: 上海精测半导体技术有限公司
主分类号: H01J37/20 分类号: H01J37/20;H01J37/22;H01J37/26
代理公司: 上海隆天律师事务所 31282 代理人: 潘一诺
地址: 201702 上海市青浦区*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供一种带电粒子束装置及其控制方法,带电粒子束装置包括:粒子源,用于释放带电粒子束;显微镜柱,包括:物镜,用于对所述带电粒子束进行聚焦;成像系统,用于拍摄样品,以获得所述样品表面的高度信息以及平面信息;运动台,用于承载并带动所述样品运动;控制单元,响应于所述运动台带动样品运动,以根据所述样品表面的高度信息以及平面信息,补偿所述物镜的焦距和/或控制所述样品与所述显微镜柱之间的距离。本申请实现带电粒子束装置的自动聚焦和/或带电粒子束装置及样品保护。
搜索关键词: 带电 粒子束 装置 及其 控制 方法
【主权项】:
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