[发明专利]半导体装置在审

专利信息
申请号: 202211546997.1 申请日: 2022-12-05
公开(公告)号: CN116646355A 公开(公告)日: 2023-08-25
发明(设计)人: 郑学澈;金佳林;金仁谦;韩智允 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: H01L27/092 分类号: H01L27/092
代理公司: 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 代理人: 沈照千;尹淑梅
地址: 韩国京畿*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 提供了一种半导体装置。所述半导体装置包括:基底,包括第一器件区域和第二器件区域;第一有源图案,位于第一器件区域上;第二有源图案,位于第二器件区域上,具有比第一有源图案的宽度小的宽度;第一沟道图案,位于第一有源图案上;第一源极/漏极图案,连接到第一沟道图案;第二沟道图案,位于第二有源图案上;第二源极/漏极图案,连接到第二沟道图案;以及栅电极,在第一方向上从第一沟道图案延伸到第二沟道图案。第一沟道图案包括竖直堆叠且彼此间隔开的多个半导体图案。第二沟道图案从第二有源图案竖直地突出。
搜索关键词: 半导体 装置
【主权项】:
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