[发明专利]一种红外发射率外场测量方法在审
| 申请号： | 202211492944.6 | 申请日： | 2022-11-25 |
| 公开（公告）号： | CN115790863A | 公开（公告）日： | 2023-03-14 |
| 发明（设计）人： | 张玉涛;朱凌轩;吴称光;童广德;韩冰;张元 | 申请（专利权）人： | 上海无线电设备研究所;中国人民解放军96901部队 |
| 主分类号： | G01J5/53 | 分类号： | G01J5/53;G01J5/52;G01J5/80;G01J5/00 |
| 代理公司： | 上海元好知识产权代理有限公司 31323 | 代理人： | 张妍;张静洁 |
| 地址： | 201109 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种红外发射率外场测量方法，采用四个不同发射率的靶布作为定标体，利用高精度面源黑体和金板对靶布发射率进行标定，然后利用四个靶布对大气及环境辐射进行校正，同时校正上行大气辐射、下行大气辐射、环境辐射、大气衰减的影响，进而完成目标及典型地物表面发射率反演。本发明不仅可以获取准确的目标及典型地物发射率，满足工程应用需要，同时显著降低测试成本，不需要复杂昂贵的测试专用设备，也不需要研制专门的外场测试系统，仅需要面源黑体、金板等定标体以及外场挂飞测试设备，即可实现外场红外发射率测量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 红外 发射 外场 测量方法 | ||
【主权项】：
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